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文字说明：

T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

26 篇 专利

馆藏范围

26 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

2 篇 昆山晔芯电子科技...
2 篇 法特迪精密科技有...
2 篇 江苏凯尔生物识别...
2 篇 江苏芯缘半导体有...
1 篇 苏州格巨电子科技...
1 篇 广东利扬芯片测试...
1 篇 苏州华兴源创科技...
1 篇 连云港致欣电子有...
1 篇 中山市博测达电子...
1 篇 深圳市吉百顺科技...
1 篇 中山市迅科达智能...
1 篇 深圳市纳米特电子...
1 篇 苏州微缜电子科技...
1 篇 深圳市华宇福保半...
1 篇 东莞市千颖电子有...
1 篇 深圳市宏旺微电子...
1 篇 苏州展德自动化设...
1 篇 重庆长安新能源汽...
1 篇 深圳市超聚微电子...
1 篇 苏州辉垦电子科技...

作者

3 篇 王强
2 篇 王雪莲
2 篇 姜海光
2 篇 殷国海
2 篇 王海昌
2 篇 丁宁
2 篇 金永斌
2 篇 朱伟
2 篇 刘雪飞
2 篇 陈伟
2 篇 缪凯
2 篇 张雅凯
2 篇 王传刚
2 篇 杨建设
2 篇 陈东
2 篇 贺涛
2 篇 戴娟
1 篇 曹迪琛
1 篇 郑挺
1 篇 荣国青

语言

26 篇 中文

检索条件"主题词=芯片测试机构"

共 26 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

芯片测试机构

芯片测试机构

引用

作者：殷国海 213000 江苏省常州市天宁区黑牡丹科技园41幢

本申请涉及一种芯片测试机构，其包括测试机台和防护罩，测试机台内设置有PLC控制器，测试机台还设置有用于对芯片进行测的四工位测试组件，四工位测试组件与PLC控制器连接；四工位测试组件包括转盘部件、用于对芯片进行外观检测的视觉... 详细信息

标准号: CN115754679A

本申请涉及一种芯片测试机构，其包括测试机台和防护罩，测试机台内设置有PLC控制器，测试机台还设置有用于对芯片进行测的四工位测试组件，四工位测试组件与PLC控制器连接；四工位测试组件包括转盘部件、用于对芯片进行外观检测的视觉检测工位、用于对芯片进行检测的轨道检测工位、用于对芯片进行射频检测的屏蔽检测工位和用于根据测试结果对芯片进行分拣的分拣工位；轨道检测工位包括沿四工位转盘转动方向设置的弧形导轨和滑动设置在弧形导轨上用于对芯片进行检测的常规测试部件。本申请能够有效提高测试效率和测试精度的效果。

关键词：工位芯片测试机台测试组件四工位轨道检测弧形导轨分拣检测防护罩芯片测试机构四工位转盘测试效率常规测试方向设置滑动设置射频检测视觉检测外观检测转盘部件屏蔽申请转动测试

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芯片测试机构

芯片测试机构

引用

作者：殷国海 213000 江苏省常州市天宁区黑牡丹科技园41幢

标准号: CN115754679B

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芯片测试机构及测试机

芯片测试机构及测试机

引用

作者：张磊陈波 215000 江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号

本实用新型涉及一种芯片测试机构及测试机，芯片测试机构包括检测台、承载板与压接组件，其中：承载板固定于检测台上，承载板上开设有多个用于容纳待检芯片的容置槽；压接组件在竖直方向与水平方向均可移动地设置于检测台上，压接组件... 详细信息

标准号: CN216595407U

本实用新型涉及一种芯片测试机构及测试机，芯片测试机构包括检测台、承载板与压接组件，其中：承载板固定于检测台上，承载板上开设有多个用于容纳待检芯片的容置槽；压接组件在竖直方向与水平方向均可移动地设置于检测台上，压接组件具有多个与容置槽相对应的压头；本实用新型提供的芯片测试机构，当压接组件朝向竖直方向移动时，压头可对待检芯片进行压接处理，当压接组件朝向水平方向移动时，压头与容置槽之间具有较大的操作空间，方便待检芯片的上下料操作；并且将承载板与压接组件均设置于检测台上，体积较小，方便用户的携带测量，可显著提高待检芯片的测试效率。

关键词：压接组件承载板芯片测试机构容置槽芯片压头本实用新型检测可移动地设置竖直方向移动水平方向移动操作空间测试效率测试机检测台上下料竖直压接测量容纳携带

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一种芯片测试机构上下料机构吸嘴

一种芯片测试机构上下料机构吸嘴

引用

作者：曹青山曹迪琛王芳 518007 广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区光明高新园西区七号侨德科技园厂房B栋601

本发明公开了一种芯片测试机构上下料机构吸嘴，涉及芯片测试技术领域，包括机构连接架和吸嘴组件，所述机构连接架的左右两侧安装有支撑架组，且支撑架组的下端垂直设置有缓冲组件，所述机构连接架的底部中央安装有调节机构，所述吸嘴... 详细信息

标准号: CN117373986A

本发明公开了一种芯片测试机构上下料机构吸嘴，涉及芯片测试技术领域，包括机构连接架和吸嘴组件，所述机构连接架的左右两侧安装有支撑架组，且支撑架组的下端垂直设置有缓冲组件，所述机构连接架的底部中央安装有调节机构，所述吸嘴组件安装于调节机构的左右两侧，且吸嘴组件远离调节机构的一侧连接有清洁组件。该一种芯片测试机构上下料机构吸嘴，通过支撑架组与缓冲组件的结合使用使得装置在垂直方向上运作时与作业台面之间起到结构缓冲，同时配合伸缩连管与缓冲弹簧，使得具有可伸缩性的伸缩吸嘴，能够得到有效的结构缓冲保护，避免垂直方向对芯片进行上下料时出现结构运作行程过度从而损坏部分结构，也同时保护了芯片本身免受外力损伤。

关键词：机构连接吸嘴组件支撑架组吸嘴芯片测试机构上下料机构缓冲组件左右两侧伸缩芯片垂直设置底部中央缓冲保护缓冲弹簧可伸缩性清洁组件外力损伤芯片测试作业台面上下料缓冲连管下端运作配合

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一种芯片测试机构

一种芯片测试机构

引用

作者：吴学军蒋卫兵 215124 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区02幢(NW-02)103室

本发明涉及一种芯片测试机构，属于芯片测试技术领域。为解决现有测试机构在测试芯片时，存在接触阻抗变化大，信号失真的问题。本申请包括测试插座和若干个测试探针，测试插座上设有放置芯片的凹槽，测试插座的内部设有用于安装测试探... 详细信息

标准号: CN118091372A

本发明涉及一种芯片测试机构，属于芯片测试技术领域。为解决现有测试机构在测试芯片时，存在接触阻抗变化大，信号失真的问题。本申请包括测试插座和若干个测试探针，测试插座上设有放置芯片的凹槽，测试插座的内部设有用于安装测试探针的安装槽，安装槽的一端与凹槽相联通，形成第一出口，另一端贯穿测试插座，形成第二出口；测试探针的针体安装于安装槽，且其一端延伸至第一出口外，构成弹性测试端，另一端延伸至第二出口外，构成连接端；测试插座安装在测试板上，测试探针的连接端与测试板相接触。本申请在测试时能保证接触阻值稳定性，降低了信号传输的路经长度，可以保证对信号的干扰最小，测试探针采用一体式结构，能承载大的电流传输。

关键词：测试插座测试探针安装槽测试板连接端出口芯片测试机构一体式结构阻值稳定性安装测试测试机构测试芯片弹性测试电流传输接触阻抗芯片测试信号传输延伸联通探针针体申请承载芯片保证测试贯穿

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上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机

上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机

引用

作者：杨建设张雅凯缪凯刘雪飞 215300 江苏省苏州市昆山市锦溪镇锦顺路338号

本发明提供了一种上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，上盖组件包括上盖支架、镜头固定座、设于镜头固定座内的镜头、上压片固定座、上压片、设于上盖支架内的第一加热结构以及上盖电路板，上盖支架的一侧开设有镜头腔，上盖支架... 详细信息

标准号: CN111982816A

本发明提供了一种上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，上盖组件包括上盖支架、镜头固定座、设于镜头固定座内的镜头、上压片固定座、上压片、设于上盖支架内的第一加热结构以及上盖电路板，上盖支架的一侧开设有镜头腔，上盖支架的另一侧开设有压片腔，镜头固定座固定于镜头腔内，上压片固定座固定于压片腔内，上压片固定于上压片固定座且用于压紧芯片。本发明提供的上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，通过设置镜头固定座和上压片固定座，使得在更换芯片之后，可以通过调整镜头相对镜头固定座的位置或者更换镜头固定座、通过调整上压片相对上压片固定座的位置或者更换上压片固定座即可以适用于不同的芯片。

关键词：上压片固定座镜头固定座上盖支架上盖组件芯片测试机构芯片测试芯片镜头腔一体机电路板更换镜头加热结构镜头腔内压紧压片有压

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多工位芯片测试机构

多工位芯片测试机构

引用

作者：王海昌陈东张成位贤龙姜海光 215131 江苏省苏州市相城经济技术开发区漕湖产业园方桥路568号

本实用新型公开一种多工位芯片测试机构，其横梁上表面安装有2个上竖直气缸，此上竖直气缸的活塞杆穿过横梁的通孔，此活塞杆的末端安装有一位于横梁下方的圆盘；2个电性检测机构中另一个电性检测机构通过位于底部的2个第二滑块分别与2... 详细信息

标准号: CN207281240U

本实用新型公开一种多工位芯片测试机构，其横梁上表面安装有2个上竖直气缸，此上竖直气缸的活塞杆穿过横梁的通孔，此活塞杆的末端安装有一位于横梁下方的圆盘；2个电性检测机构中另一个电性检测机构通过位于底部的2个第二滑块分别与2个第二导轨滑动连接，一升降板位于电性检测机构和上竖直气缸之间；所述升降板的下端面安装有一空腔壳体，此空腔壳体内具有一水平导向槽，所述空腔壳体内水平地设置有一活动块和连接锲块，一笔形水平气缸位于空腔壳体内并位于活动块和连接锲块上方，所述笔形水平气缸的推杆末端与连接锲块的上端连接。本实用新型在保证高可靠性的前提下，提升了产能，节省了人力，且可根据指纹芯片种类和尺寸，做相应的移动，调整电性检测机构和升降板相对位置，适合多种尺寸的指纹芯片和多区域的检测。

关键词：电性竖直气缸空腔壳升降板横梁锲块本实用新型水平气缸指纹芯片活动块活塞杆笔形体内芯片测试机构水平导向槽第二滑块高可靠性滑动连接体内水平推杆末端多工位多区域上表面下端面一空腔上端产能导轨壳体通孔穿过检测移动保证

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指纹传感器芯片测试机构

指纹传感器芯片测试机构

引用

作者：李英才 518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路25号利保义生物工程大楼六层B井 E井厂房

本实用新型提供一种指纹传感器芯片测试机构，其包括固定架、测试板、测试支架和驱动装置，固定架包括底座和连接架，连接架可滑动的连接在底座上，测试板连接在连接架上方，内部设置有腔室，腔室用于放置指纹传感器芯片，下侧设置有导... 详细信息

标准号: CN212781114U

本实用新型提供一种指纹传感器芯片测试机构，其包括固定架、测试板、测试支架和驱动装置，固定架包括底座和连接架，连接架可滑动的连接在底座上，测试板连接在连接架上方，内部设置有腔室，腔室用于放置指纹传感器芯片，下侧设置有导向板，导向板上设置有多个导向孔，测试支架设置在测试板下方，包括连接杆和橡胶头，多个橡胶头连接在连接杆上方，橡胶头用于从导向孔伸入腔室给指纹传感器芯片测试，驱动装置设置在固定架一侧，连接测试支架，用于驱动测试支架移动给指纹传感器芯片测试。本实用新型的指纹传感器芯片测试机构一个橡胶头同时测试两个芯片，测试支架一次同时对同一纵向的芯片测试，测试效率高。

关键词：指纹传感器测试支架橡胶头芯片测试测试板固定架连接架腔室芯片测试机构本实用新型驱动装置导向板导向孔连接杆底座芯片测试效率连接测试内部设置可滑动伸入支架测试驱动移动

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一种具有防护结构的芯片测试机构

一种具有防护结构的芯片测试机构

引用

作者：陈平 222000 江苏省连云港市海州区花果山大道17号科技创业城3号楼1012室

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种具有防护结构的芯片测试机构，包括测试箱，所述测试箱的内部设有屏蔽层，所述测试箱的内部固定连接有岩棉板，所述测试台的顶部滑动连接有夹持座，所述芯片夹板的内部固定连接有弹簧片，所... 详细信息

标准号: CN221056598U

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种具有防护结构的芯片测试机构，包括测试箱，所述测试箱的内部设有屏蔽层，所述测试箱的内部固定连接有岩棉板，所述测试台的顶部滑动连接有夹持座，所述芯片夹板的内部固定连接有弹簧片，所述加热箱的顶部固定安装有风机。该具有防护结构的芯片测试机构，将质检芯片放置在测试箱，测试箱的内层设置镀锡洋白铜结构的屏蔽层，进而构成一个屏蔽箱体，保护芯片测试不受外界电磁干扰，风机将过滤后的外界空气通入加热箱，加热箱外接电源控制电热丝加热，然后将加热的空气送入测试箱内部，利用岩棉板提升保温箱，同时夹持座上的微型马达驱动芯片夹板转动，使质检芯片受热均匀。

关键词：测试箱加热箱芯片测试机构夹板防护结构内部固定夹持座屏蔽层岩棉板风机质检加热芯片外界电磁干扰本实用新型保护芯片滑动连接屏蔽箱体驱动芯片受热均匀外接电源外界空气微型马达芯片测试芯片放置保温箱测试台弹簧片电热丝白铜镀锡内层转动过滤送入测试

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上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机

上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机

引用

作者：杨建设张雅凯缪凯刘雪飞 215300 江苏省苏州市昆山市锦溪镇锦顺路338号

本实用新型提供了一种上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，上盖组件包括上盖支架、镜头固定座、设于镜头固定座内的镜头、上压片固定座、上压片、设于上盖支架内的第一加热结构以及上盖电路板，上盖支架的一侧开设有镜头腔，上盖... 详细信息

标准号: CN213022827U

本实用新型提供了一种上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，上盖组件包括上盖支架、镜头固定座、设于镜头固定座内的镜头、上压片固定座、上压片、设于上盖支架内的第一加热结构以及上盖电路板，上盖支架的一侧开设有镜头腔，上盖支架的另一侧开设有压片腔，镜头固定座固定于镜头腔内，上压片固定座固定于压片腔内，上压片固定于上压片固定座且用于压紧芯片。本实用新型提供的上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，通过设置镜头固定座和上压片固定座，使得在更换芯片之后，可以通过调整镜头相对镜头固定座的位置或者更换镜头固定座、通过调整上压片相对上压片固定座的位置或者更换上压片固定座即可以适用于不同的芯片。

关键词：上压片固定座镜头固定座上盖支架上盖组件芯片测试机构本实用新型芯片测试芯片镜头腔一体机电路板更换镜头加热结构镜头腔内压紧压片有压

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