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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

26 篇 专利

馆藏范围

26 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

4 篇 前海晶云存储技术...
4 篇 苏州联讯仪器股份...
3 篇 深圳英集芯科技股...
1 篇 杭州菲数科技有限...
1 篇 广州得尔塔影像技...
1 篇 上海中铁通信信号...
1 篇 特赛微电子科技有...
1 篇 广东德赛矽镨技术...
1 篇 苏州集微光电有限...
1 篇 上海航天科工电器...
1 篇 成都锐成芯微科技...
1 篇 致茂电子有限公司
1 篇 莫扎特半导体有限...
1 篇 江苏捷策创电子科...
1 篇 上海申通轨道交通...
1 篇 嘉兴鹏武电子科技...
1 篇 惠伦晶体科技有限...
1 篇 珠海市香之君科技...
1 篇 北京艾博唯科技有...

作者

4 篇 胡海洋
4 篇 黄建军
4 篇 廉哲
4 篇 王树锋
4 篇 陈阳
4 篇 罗跃浩
3 篇 郑文杰
1 篇 吕淑起
1 篇 邓宏民
1 篇 程朝辉
1 篇 丁昊杰
1 篇 张晓方
1 篇 罗维
1 篇 万勇兵
1 篇 潘洪玉
1 篇 王胜弘
1 篇 岑律钢
1 篇 刘剑
1 篇 赵仕斌
1 篇 萧世全

语言

26 篇 中文

检索条件"主题词=芯片测试模块"

共 26 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

一种芯片测试模块

一种芯片测试模块

引用

作者：王树锋陈阳 518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)

本实用新型公开了一种芯片测试模块，所述芯片测试模块包括芯片安装板和芯片定位机构，所述芯片安装板和所述芯片定位机构可拆卸式连接；所述芯片安装板上固定有芯片针载板；所述芯片定位机构包括芯片型腔、定位块和芯片锁闭机构；所述... 详细信息

标准号: CN214252487U

本实用新型公开了一种芯片测试模块，所述芯片测试模块包括芯片安装板和芯片定位机构，所述芯片安装板和所述芯片定位机构可拆卸式连接；所述芯片安装板上固定有芯片针载板；所述芯片定位机构包括芯片型腔、定位块和芯片锁闭机构；所述芯片型腔开设有芯片安装槽，所述芯片针载板套设于所述芯片安装槽内；所述定位块的一端伸入所述芯片安装槽内，与所述芯片相抵接；所述芯片锁闭机构设于所述定位块的另一端，用于对所述定位块进行锁定。本实用新型的芯片测试模块通过设置安装板和芯片定位机构，对芯片进行固定，便于后续测试；同时芯片定位机构与安装板为可拆卸式连接，便于安装和拆卸。

关键词：芯片定位机构芯片定位块芯片测试模块芯片安装板芯片安装槽可拆卸式连接本实用新型锁闭机构安装板芯片型载板便于安装拆卸伸入相抵锁定测试

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一种芯片测试模块及芯片测试系统

一种芯片测试模块及芯片测试系统

引用

作者：赵仕斌钟兴和喻梦婷 510663 广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城神舟路7号

本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开一种芯片测试模块及芯片测试系统，芯片测试模块包括：电致变形块，电致变形块可在电压作用下沿极化方向伸缩；电路板组件，电路板组件设置于电致变形块的极化方向上的一侧，且与电致变形块电连接... 详细信息

标准号: CN215641645U

本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开一种芯片测试模块及芯片测试系统，芯片测试模块包括：电致变形块，电致变形块可在电压作用下沿极化方向伸缩；电路板组件，电路板组件设置于电致变形块的极化方向上的一侧，且与电致变形块电连接；以及，至少一个探针，每个探针与电路板组件背离电致变形块的一侧固定连接，且沿极化方向延伸。在上述芯片测试模块中，电路板组件与电致变形块电连接，可以精确控制电致变形块在极化方向上的伸缩量；可以准确控制探针在极化方向上的伸缩量，无损地调整探针至目标位置，降低探针和芯片受损的风险，提高使用寿命。

关键词：变形块电致极化方向探针电路板组件芯片测试模块电连接伸缩量芯片测试系统本实用新型电压作用目标位置使用寿命芯片测试准确控制伸缩无损下沿背离受损芯片延伸

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一种芯片测试模块开锁装置

一种芯片测试模块开锁装置

引用

作者：王树锋陈阳 518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)

本实用新型公开了一种芯片测试模块开锁装置，用于对芯片测试模块进行解锁，所述芯片测试模块开锁装置包括驱动装置、传动件和拉杆；所述拉杆的一端固定于所述传动件上，另一端与所述芯片测试模块的定位块相抵接；所述驱动装置用于带动... 详细信息

标准号: CN214225329U

本实用新型公开了一种芯片测试模块开锁装置，用于对芯片测试模块进行解锁，所述芯片测试模块开锁装置包括驱动装置、传动件和拉杆；所述拉杆的一端固定于所述传动件上，另一端与所述芯片测试模块的定位块相抵接；所述驱动装置用于带动所述传动件运动；所述传动件的运动方向为所述拉杆远离所述芯片测试模块的方向。本实用新型的芯片测试模块开锁装置通过设置驱动装置、传动件和拉杆，拉杆与芯片测试模块上的定位块相对应，驱动装置通过传动件推动定位块运动，从而对芯片测试模块进行解锁，满足了芯片测试模块在放置和取出芯片时解锁的需求。

关键词：芯片测试模块传动件拉杆驱动装置开锁装置定位块解锁本实用新型相抵取出芯片

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芯片载台、芯片测试模块以及芯片搬运模块

芯片载台、芯片测试模块以及芯片搬运模块

引用

作者：王胜弘张博翔廖哲民 215129 江苏省苏州市苏州高新区珠江路855号(第七号厂房)

本申请提供一种芯片载台、芯片测试模块以及芯片搬运模块。所述芯片载台用以承载多个芯片且包含本体部，本体部定义有上表面与下表面。本体部具有多个导气孔，每一个导气孔两端分别露出于上表面与下表面。其中部分的导气孔定义为第一群... 详细信息

标准号: CN114999971A

本申请提供一种芯片载台、芯片测试模块以及芯片搬运模块。所述芯片载台用以承载多个芯片且包含本体部，本体部定义有上表面与下表面。本体部具有多个导气孔，每一个导气孔两端分别露出于上表面与下表面。其中部分的导气孔定义为第一群组，被定义为第一群组的导气孔相连通，且本体部由导电材料制成。

关键词：导气孔芯片载台上表面下表面群组芯片测试模块导电材料芯片搬运芯片承载申请

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一种芯片测试方法及芯片测试模块

一种芯片测试方法及芯片测试模块

引用

作者：孔欣 610041 四川省成都市高新区天府五街200号菁蓉国际广场1号楼A座4楼

本发明公开了一种芯片测试方法及芯片测试模块，涉及集成电路测试技术领域。该芯片测试方法包括以下步骤：对连接于所述芯片的测试模块进行测试；预设sign‑off的值，并根据sign‑off的值设置测试模块的延时；根据芯片预设的目标频率设置... 详细信息

标准号: CN108535630A

本发明公开了一种芯片测试方法及芯片测试模块，涉及集成电路测试技术领域。该芯片测试方法包括以下步骤：对连接于所述芯片的测试模块进行测试；预设sign‑off的值，并根据sign‑off的值设置测试模块的延时；根据芯片预设的目标频率设置测试模块的时钟频率；判断芯片的测试模块在预设的时钟频率下是否正常工作：若测试模块在预设时钟频率下能正常工作，则继续对该芯片做完整的测试工作；若测试模块在预设的时钟频率下不能正常工作，结束测试。本发明技术方案在芯片进行量产测试时，先针对该测试模块进行测试，若测试模块在预设的目标频率下不能正常工作，则判断该芯片为不良芯片，不再做完整测试，减少了测试时间，也降低了测试成本。

关键词：测试模块预设芯片测试时钟频率目标频率芯片测试集成电路测试芯片测试模块预设时钟频率不良芯片测试成本完整测试量产延时

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一种用于芯片测试的线缆装置

一种用于芯片测试的线缆装置

引用

作者：廉哲罗跃浩黄建军胡海洋 215129 江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢

本发明提供了一种用于芯片测试的线缆装置，属于芯片测试线缆技术领域。该用于芯片测试的线缆装置包括：转接器，包括输入接口和输出接口，所述输入接口和所述输出接口分别包括对应的信号导线和设置于信号导线外部的屏蔽层，所述输入接... 详细信息

标准号: CN116365316A

本发明提供了一种用于芯片测试的线缆装置，属于芯片测试线缆技术领域。该用于芯片测试的线缆装置包括：转接器，包括输入接口和输出接口，所述输入接口和所述输出接口分别包括对应的信号导线和设置于信号导线外部的屏蔽层，所述输入接口用于接收电信号；和芯片测试模块，包括第一电缆和与所述第一电缆相连的测试探针，所述第一电缆远离所述测试探针的一端与所述输出接口相连。本发明的用于芯片测试的线缆装置能够有效防止漏电流。

关键词：芯片测试输出接口输入接口线缆装置电缆测试探针信号导线芯片测试模块接收电信号漏电流屏蔽层转接器线缆外部

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一种高集成度的光学生物传感仪器及其测试方法

一种高集成度的光学生物传感仪器及其测试方法

引用

作者：苏国帅张晓方马正泰 215000 江苏省苏州市吴江区黎里镇汾湖大道558号

本发明涉及一种高集成度的光学生物传感仪器，包括：宽带光源模块、芯片测试模块、微型光谱分析仪、微流注射系统以及废液储蓄瓶，微流注射系统连接有嵌入式计算机模块。宽带光源模块为输入光源，微型光谱分析仪为探测器；芯片测试模块... 详细信息

标准号: CN117705736A

本发明涉及一种高集成度的光学生物传感仪器，包括：宽带光源模块、芯片测试模块、微型光谱分析仪、微流注射系统以及废液储蓄瓶，微流注射系统连接有嵌入式计算机模块。宽带光源模块为输入光源，微型光谱分析仪为探测器；芯片测试模块用于实际的生物传感，关键器件是硅光集成芯片，上面制作着很多硅基光波导传感器，通过与光纤阵列粘合使用，在硅光集成芯片的下侧嵌入半导体制冷片用于控制温度；微流注射系统用于控制微流稳定的进入到微流通道；嵌入式计算机模块用于控制硬件系统以及收集、分析、处理、储存实验数据。在硅光集成芯片表面修饰生物分子受体，然后当通入含有相应生物分子的试剂时，输出光谱产生相应的变化，从而来实现传感。

关键词：集成芯片注射系统硅光嵌入式计算机模块芯片测试模块光谱分析仪宽带光源生物分子半导体制冷片硅基光波导表面修饰传感仪器高集成度关键器件光纤阵列光学生物控制硬件生物传感实验数据输出光谱输入光源微流通道储蓄瓶传感器粘合探测器传感废液嵌入储存制作分析

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芯片性能测试方法及系统

芯片性能测试方法及系统

引用

作者：岑律钢赵书鹏毛亦凡丁昊杰翁恒鑫周吉星 311199 浙江省杭州市临平区乔司街道科城街180号1幢9层901室-1

本发明提供了一种芯片性能测试方法及系统，根据测试用例确定目标应用测试模块，并与其建立连接；将第一配置信息发送至待测芯片，以对其配置；根据测试用例生成控制报文指令，并发送至目标应用测试模块，以使其启动并配置目标TCP应用... 详细信息

标准号: CN117389853A

本发明提供了一种芯片性能测试方法及系统，根据测试用例确定目标应用测试模块，并与其建立连接；将第一配置信息发送至待测芯片，以对其配置；根据测试用例生成控制报文指令，并发送至目标应用测试模块，以使其启动并配置目标TCP应用模块，配置完成的目标TCP应用模块与配置完成的待测芯片进行业务数据的交互，以测试待测芯片的性能。该方式中，芯片测试模块和目标应用测试模块用于进行控制报文指令的交互，待测芯片和目标TCP应用模块用于进行业务数据的交互，这种将控制与业务进行分离的方式便于用户单独修改相关模块的代码，降低了修改量，更便于用户使用和对测试平台的后期维护，提高了测试效率，同时降低了测试错误的概率。

关键词：待测芯片测试模块目标应用控制报文业务数据配置测试指令测试用例生成配置信息发送芯片测试模块测试平台测试效率建立连接性能测试用户使用发送芯片概率维护

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一种多芯片筛选方案

一种多芯片筛选方案

引用

作者：程朝辉 100103 北京市朝阳区崔各庄乡南春路1号一层147室

本申请涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种多芯片筛选方案，该方案用于对处于同样批次中的多种类型的芯片一起进行混合测试，包括：芯片测试模块、协调模块，芯片测试模块包括被测部分、陪测部分和接口，协调模块包括多组接口、测温模... 详细信息

标准号: CN115704856A

本申请涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种多芯片筛选方案，该方案用于对处于同样批次中的多种类型的芯片一起进行混合测试，包括：芯片测试模块、协调模块，芯片测试模块包括被测部分、陪测部分和接口，协调模块包括多组接口、测温模块、协调芯片、电源和上位机接口；其中，所述陪测部分内置陪测电路、存储部分等模块，所述存储部分提供测试需要的测试代码，并保存测试结果，可以实现大规模测试时，准备、测试和结果输出的流水线工作流程的柔性安排。本申请中芯片测试模块的接口一致性，确保了多种芯片的同时测试，所采用的多级的模块化设计，可以实现测试平台的复用性，降低了测试时的复杂度，从而使芯片测试更加方便快捷。

关键词：测试芯片测试模块协调模块芯片测试芯片存储接口一致性模块化设计上位机接口测试代码测试模块测试平台测温模块工作流程多芯片复用性复杂度中芯片组接口内置流水线申请电路电源筛选输出保存协调

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智能卡芯片测试装置

智能卡芯片测试装置

引用

作者：赵晓蓉华道全贺伟张立东万勇兵徐永军周亦峰 200436 上海市静安区江场西路248号4幢2层

本发明提供一种智能卡芯片测试装置，包括：FPGA模块，时钟模块，USB模块，存储模块，电压控制模块，芯片测试模块，外部接口以及PXI接口；FPGA模块用于执行芯片测试指令和储存芯片测试结果；时钟模块用于生成FGPA模块和芯片测试模块运... 详细信息

标准号: CN116087744A

本发明提供一种智能卡芯片测试装置，包括：FPGA模块，时钟模块，USB模块，存储模块，电压控制模块，芯片测试模块，外部接口以及PXI接口；FPGA模块用于执行芯片测试指令和储存芯片测试结果；时钟模块用于生成FGPA模块和芯片测试模块运行的时钟脉冲；USB模块用于将FGPA模块输出的PXI信号转为USB信号；存储模块用于存储FPGA模块、时钟模块和芯片测试模块中的数据；电压控制模块用于提供智能卡芯片的测试工作电压；芯片测试模块用于对智能卡芯片进行功能测试；所述外部接口，用于向所述智能卡芯片传输测试信号；所述PXI接口用于与3U测试设备连接。本发明可以用于智能卡芯片的测试，以实现高效的性价比测试。

关键词：智能卡芯片芯片测试模块时钟模块电压控制模块存储模块外部接口测试传输测试信号测试设备测试装置储存芯片工作电压功能测试模块输出时钟脉冲芯片测试存储指令

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