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语言

  • 26 篇 中文
检索条件"主题词=芯片测试模块"
26 条 记 录,以下是21-30 订阅
排序:
芯片检测设备及其电路系统
芯片检测设备及其电路系统
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作者: 潘洪玉 404100 重庆市万州区响水镇高石村10组39号
本申请提供了芯片检测设备及其电路系统,所述电路系统包括:主控模块,所述主控模块用于输出选择信号;信号产生模块,所述信号产生模块用于接收所述选择信号并输出测试信号;芯片测试模块,所述芯片测试模块包括待测芯片,所述待测芯... 详细信息
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极限电流氧传感器性能测试设备
极限电流氧传感器性能测试设备
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作者: 向军 王洋 杜刚 519075 广东省珠海市香洲区华威路611号3#厂房二、三层
本实用新型公开并提供了一种极限电流氧传感器性能测试设备,用于检测极限电流的氧传感器芯片和氧传感器之间匹配问题,在装车前进行测试,大幅度提高了产品的合格率。本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括外箱体、安装在所述... 详细信息
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屏幕面板偏压芯片测试探针卡
屏幕面板偏压芯片测试探针卡
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作者: 赵永昌 鲁斌 谷陈鹏 宋旭 314000 浙江省嘉兴市南湖区亚太路705号创新大厦A幢16层A16-15室
本实用新型公开了一种屏幕面板偏压芯片测试探针卡,包括与待测器件对接的探针、与探针相连的探针座子和至少一个屏幕面板偏压芯片测试模块,各个屏幕面板偏压芯片测试模块直接安装于接口电路板,各个屏幕面板偏压芯片测试模块同时与探... 详细信息
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芯片测试与引脚复用单元、芯片测试与引脚复用方法
芯片测试与引脚复用单元、芯片测试与引脚复用方法
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作者: 郑文杰 518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷八栋(万科云城三期C区八栋)A座3104房研发用房
本申请实施例公开了芯片测试与引脚复用单元、芯片测试与引脚复用方法。芯片测试与引脚复用单元,应用于芯片芯片包括M个芯片功能单元、M个引脚和芯片测试与引脚复用单元,芯片功能单元和引脚一一对应;芯片测试与引脚复用单元包括芯... 详细信息
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一种锂电池电源管理产品通用性测试系统
一种锂电池电源管理产品通用性测试系统
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作者: 陈思波 刘剑 丁凡 张伟 516000 广东省惠州市仲恺高新区和畅五路西101号(厂房A)
本发明涉及一种锂电池电源管理产品通用性测试系统,根据产品的测试需求,选择配置测试项目的脚本信息,组合生成相应的测试工位信息,形成测试工位的应用测试模组,所述应用测试模组包括烧录通讯模块、精度校准校验模块、功能保护测试... 详细信息
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芯片测试与引脚复用单元、芯片测试与引脚复用方法
芯片测试与引脚复用单元、芯片测试与引脚复用方法
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作者: 郑文杰 518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷八栋(万科云城三期C区八栋)A座3104房研发用房
本申请实施例公开了芯片测试与引脚复用单元、芯片测试与引脚复用方法。芯片测试与引脚复用单元,应用于芯片芯片包括M个芯片功能单元、M个引脚和芯片测试与引脚复用单元,芯片功能单元和引脚一一对应;芯片测试与引脚复用单元包括芯... 详细信息
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