低温光致发光微计算机测试系统(PL-PC)是应用IBM-PC微计算机和先进的具有软件的数据采集系统(Keithley DAS Series 500)等配接到低温光致发光测量设备上,对固体材料的光致发光进行测试.特别是对Ⅲ-V族,Ⅱ-Ⅵ族半导体化合物的测试显著提...
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低温光致发光微计算机测试系统(PL-PC)是应用IBM-PC微计算机和先进的具有软件的数据采集系统(Keithley DAS Series 500)等配接到低温光致发光测量设备上,对固体材料的光致发光进行测试.特别是对Ⅲ-V族,Ⅱ-Ⅵ族半导体化合物的测试显著提高了效率和精度。实现了理想的测量控制、数据采集、数据处理和管理。对数据采集采用光编码器等作直接同步控制,采集精度从10?-0.04?可调,采集灵敏度<1mV,对测试结果(数据、谱线、计算结果、测试条件等)可以显示、记录、打印、存储等多种方式任选输出,全部过程在程序控制下进行。应用程序使用BASIC和Soft 500写成,采用“菜单”方式,模块结构,使用方便,灵活、稳定、可靠.
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