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检索条件"主题词=计算机测试"
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一种拉偏测试装置、方法及其计算机可读存储介质
一种拉偏测试装置、方法及其计算机可读存储介质
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作者: 赵胜 215000 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
本发明提供了一种拉偏测试装置、方法及其计算机可读存储介质,属于计算机测试的技术领域,解决了现有研发测试过程中,需要进行大量的实验验证,很容易导致损坏,而且工作量大,调试过程复杂多变,严重拉低的工作效率的技术问题。拉偏... 详细信息
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一种基于计算机软硬件的形变位移测试机构
一种基于计算机软硬件的形变位移测试机构
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作者: 高伊凡 314000 浙江省嘉兴市经济技术开发区城南路1539号1幢701-07、701-09室
本发明属于计算机软硬件测试设备技术领域,尤其是一种基于计算机软硬件的形变位移测试机构,包括底板,所述底板的顶部两端分别固定连接有第一支撑腿和第二支撑腿,四个所述第一支撑腿的顶部和四个所述第二支撑腿的顶部均设置有自动水... 详细信息
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一种基于计算机软硬件的形变位移测试机构
一种基于计算机软硬件的形变位移测试机构
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作者: 高伊凡 314000 浙江省嘉兴市经济技术开发区城南路1539号1幢701-07、701-09室
本发明属于计算机软硬件测试设备技术领域,尤其是一种基于计算机软硬件的形变位移测试机构,包括底板,所述底板的顶部两端分别固定连接有第一支撑腿和第二支撑腿,四个所述第一支撑腿的顶部和四个所述第二支撑腿的顶部均设置有自动水... 详细信息
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一种计算机硬件故障测试装置
一种计算机硬件故障测试装置
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作者: 武丽芬 严学勇 030600 山西省晋中市榆次区定阳路8号
本实用新型公开了一种计算机硬件故障测试装置,属于计算机测试领域。该装置包括:测试箱体、箱体盖和控制面板;测试箱体内顶部一侧设置有横杆,底面上靠近四个角设置有支柱,底面上还设置有测试板和接线插排;箱体盖内部设置有显示屏... 详细信息
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一种用于计算机软硬件的便携式测试设备
一种用于计算机软硬件的便携式测试设备
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作者: 黄孝庐 710000 陕西省西安市高新区高新六路52号立人科技园C座3楼10301-145室
本实用新型公开了一种用于计算机软硬件的便携式测试设备,包括测试箱和设置于测试箱一侧的活动箱,所述测试箱通过铰链与活动箱铰接,所述测试箱的一侧设置有活动装置,所述活动装置内设有万向轮,所述活动装置通过螺纹与测试箱螺合连... 详细信息
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一种计算机软件开发用测试装置
一种计算机软件开发用测试装置
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作者: 岳纹 610011 四川省成都市锦江区锦兴路20号
本实用新型公开了一种计算机软件开发用测试装置,所述计算机软件开发用测试装置包括:箱体和所述箱体一端铰接有的安装盖,所述安装盖用于计算机测试零部件的安装,调节部件,所述调节部件包括滑腔、固定块、检测显示器,所述滑腔固定... 详细信息
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一种用于多台计算机的批量同步测试方法及系统
一种用于多台计算机的批量同步测试方法及系统
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作者: 张常清 唐道光 张川川 董宇鹏 孙海博 明星 张爱国 030000 山西省太原市山西综改示范区太原唐槐园区横河西二巷5号百信信创产业基地6号楼3层301-310
本发明提供的一种用于多台计算机的批量同步测试方法及系统,包括:多台待测计算机、老化车和显示设备;所述批量同步测试方法以下步骤:S10,将待测计算机安装在老化车上;S20,老化车控制程序检测到老化车与待测计算机连接后,设置其... 详细信息
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服务器的CPU压力测试方法、装置及计算机可读存储介质
服务器的CPU压力测试方法、装置及计算机可读存储介质
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作者: 樊明福 215000 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
本发明提供了服务器的CPU压力测试方法、装置及计算机可读存储介质,属于计算机测试的技术领域,解决了服务器测试内容单一受限,不能完全模拟客户实际使用场景,测试工具受CPU型号影响平台CPU压力测试的技术问题。包括获取CPU的核心信... 详细信息
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一种基于UEFI的计算机内存转接卡测试方法和装置
一种基于UEFI的计算机内存转接卡测试方法和装置
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作者: 于晓艳 张雁鹏 刘强 250100 山东省济南市高新区孙村镇科航路2877号研发楼一楼
本发明公开一种基于UEFI的计算机内存转接卡测试方法和装置,涉及计算机测试领域,通过一测试U盘来测试计算机内存转接卡,将内存转接卡、测试U盘插接在本发计算机中,内存转接卡连接内存;首先进入本计算机BIOS Setup,设置第一启动... 详细信息
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一种拉偏测试装置、方法及其计算机可读存储介质
一种拉偏测试装置、方法及其计算机可读存储介质
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作者: 赵胜 215000 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
本发明提供了一种拉偏测试装置、方法及其计算机可读存储介质,属于计算机测试的技术领域,解决了现有研发测试过程中,需要进行大量的实验验证,很容易导致损坏,而且工作量大,调试过程复杂多变,严重拉低的工作效率的技术问题。拉偏... 详细信息
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