X 射线粉末法,不仅可利用其粉末图来鉴定矿物,而且,可利用粉末法求出的晶胞参数来研究矿物的化学组成、结构和成因。晶胞参数计算和修正是 X 射线粉末法的一项不可缺少的重要工作之一。利用指标化的 d 值或θ角进行最小二乘方修正的方法...
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X 射线粉末法,不仅可利用其粉末图来鉴定矿物,而且,可利用粉末法求出的晶胞参数来研究矿物的化学组成、结构和成因。晶胞参数计算和修正是 X 射线粉末法的一项不可缺少的重要工作之一。利用指标化的 d 值或θ角进行最小二乘方修正的方法,已经比较成熟.在晶系和空间群未知情况下,仅仅利用 d 值进行指标化并计算其晶胞常数,虽然已经进行了许多研究,并取得了很大进展,但成功率并不令人满意。***
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