检索结果-内蒙古大学图书馆

您好，读者！请登录

内蒙古大学图书馆

首页
概况
党建
资源
服务
科研支持
- 论文收录引用证明
- 科技查新
知识产权
档案馆
帮助

咨询与建议

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

您的常用邮箱：*

您的手机号码：*

问题描述：

当前已输入0个字，您还可以输入200个字

全部搜索
期刊论文
图书
学位论文
标准
纸本馆藏
外文资源发现
数据库导航
超星发现

高级检索

时间限定

出版年份：

文献类型

图书期刊文献学位论文多媒体

馆藏选择

电子馆藏纸本馆藏

核心期刊

全部期刊 SCI 收录期刊 SSCI 收录期刊 EI 收录期刊 CSCD 收录期刊 CSSCI 收录期刊

语言

中文英文

文献类型

期刊文献图书学位论文标准纸本馆藏

帮助

文字说明：

T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

分类表

所选分类

>> <<

限定检索结果

文献类型

99 篇 专利

馆藏范围

99 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

6 篇 青岛海信宽带多媒...
4 篇 中国科学院微电子...
4 篇 京东方科技集团股...
4 篇 潍坊歌尔微电子有...
4 篇 罗伯特·博世有限公...
3 篇 西安微电子技术研...
3 篇 华为技术有限公司
3 篇 北京小米移动软件...
2 篇 奥托立夫开发公司
2 篇 北京华大九天软件...
2 篇 美的集团股份有限...
2 篇 美的集团有限公司
2 篇 福伊特专利有限公...
2 篇 深圳市华星光电技...
2 篇 深圳市聚酷智能科...
2 篇 南京维拓科技股份...
2 篇 无锡华润微电子有...
2 篇 英特尔公司
2 篇 深圳市亿道数码技...
2 篇 广东美的白色家电...

作者

6 篇 王斌
6 篇 刘学儒
6 篇 黄绪杰
6 篇 董本正
6 篇 叶书华
6 篇 唐毅
6 篇 张加傲
6 篇 傅钦豪
6 篇 张洪浩
6 篇 谢一帆
4 篇 畠山庸平
4 篇 林育菁
3 篇 陈鹏
3 篇 俞斌
2 篇 韩艳玲
2 篇 r.帕姆普
2 篇 s·库马尔
2 篇 朱小研
2 篇 杨松贵
2 篇 李鹏飞

语言

99 篇 中文

检索条件"主题词=设置器件"

共 99 条记录，以下是1-10 订阅

全选清除本页清除全部题录导出标记到"检索档案"

详细简洁

排序：

基于MTK平台对移动终端配置器件的处理方法及系统

基于MTK平台对移动终端配置器件的处理方法及系统

引用

作者：马保军范德业李冬明张治宇 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道老坑社区锦绣中路9号1栋901

本发明公开了一种基于MTK平台对移动终端配置器件的处理方法及系统，处理方法包括以下步骤：设置器件配置镜像文件，然后将其烧录到移动终端的器件配置镜像分区内；在Preloader阶段读取器件配置镜像分区，对器件配置镜像文件内容进行解... 详细信息

标准号: CN111897569B

本发明公开了一种基于MTK平台对移动终端配置器件的处理方法及系统，处理方法包括以下步骤：设置器件配置镜像文件，然后将其烧录到移动终端的器件配置镜像分区内；在Preloader阶段读取器件配置镜像分区，对器件配置镜像文件内容进行解析，获取器件参数信息，并将对应数据记录到参数表中，再将参数传递给LK；进入LK运行阶段，读取参数中的LCM信息，根据LCM信息加载对应的LCM驱动，并将器件配置信息写入到参数cmdline；进入Kernel运行阶段，对cmdline进行解析，匹配cmdline中的器件配置信息名字是否与当前定义的一致，如果是继续运行，否则直接退出。本方法节省时间与人力；直观易操作。

关键词：器件配置镜像分区运行阶段解析镜像文件内容移动终端配置参数传递参数信息读取参数读取器件获取器件镜像文件设置器件数据记录信息加载信息写入移动终端参数表烧录配置匹配直观驱动名字退出

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种射频电路中器件型号的确定方法、装置、设备及介质

一种射频电路中器件型号的确定方法、装置、设备及介质

引用

作者：吕方 201114 上海市闵行区陈行公路2388号8幢501室

本申请提供了一种射频电路中器件型号的确定方法、装置、设备及介质。该方法包括：获取待设置器件的器件类型；根据所述器件类型，根据设置位置的功率值和阻抗值确定所述待设置器件的目标参数；根据所述目标参数，确定所述待设置器件的... 详细信息

标准号: CN117639964A

本申请提供了一种射频电路中器件型号的确定方法、装置、设备及介质。该方法包括：获取待设置器件的器件类型；根据所述器件类型，根据设置位置的功率值和阻抗值确定所述待设置器件的目标参数；根据所述目标参数，确定所述待设置器件的筛选参数；根据所述筛选参数，与预先录入的候选器件的真实参数之间的关系，从所述候选器件中选择目标器件。本方案能够通过设置位置的功率、阻抗、信号峰均比等因素，进行器件的型号选择，规避了因电压过高或者通流能力不足而导致器件损坏的风险。

关键词：设置器件目标参数器件类型设置位置阻抗筛选信号峰均比器件损坏射频电路通流能力选择目标录入申请

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种半导体分立器件可靠性试验电路设计方法及其电路

一种半导体分立器件可靠性试验电路设计方法及其电路

引用

作者：袁锟王明康潘朋涛罗健明邓丹李珏杨超平 550018 贵州省贵阳市乌当区新添大道北段270号

一种半导体分立器件可靠性试验电路设计方法及其电路，属于半导体分立器件领域。所述方法包括：根据半导体分立器件的特性设计器件老化电路模块，在器件老化电路模块与电源的连接通路中设置恒流限流电路，在器件老化电路与电源的连接通... 详细信息

标准号: CN115825683A

一种半导体分立器件可靠性试验电路设计方法及其电路，属于半导体分立器件领域。所述方法包括：根据半导体分立器件的特性设计器件老化电路模块，在器件老化电路模块与电源的连接通路中设置恒流限流电路，在器件老化电路与电源的连接通路中设置器件老化状况显示电路，在器件老化电路与电源的连接通路中设置电流流向控制电路，通过电源极性对调即可改变流经器件的电流方向。所述电路包括：正电源、负电源、正向恒流模块、负向恒流模块、正向导通模块、反向导通模块、正向显示模块、反向显示模块、电路模块，按电路原理结构进行连接。解决现有半导体分立器件高温反偏老化采用保险管造成的可靠性问题。广泛应用于半导体分立器件的高温反偏老化领域。

关键词：半导体分立器件老化电路连接通路电源恒流模块显示模块反偏正向电路老化电路原理结构可靠性试验可靠性问题电流方向电流流向电路模块电路设计电源极性反向导通控制电路老化状况设置器件特性设计显示电路限流电路正向导通保险管负电源正电源负向恒流对调应用

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种器件结构模型的建立方法、装置、系统及存储介质

一种器件结构模型的建立方法、装置、系统及存储介质

引用

作者：李兴冀杨剑群吕钢崔秀海 150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

本发明提供了一种器件结构模型的建立方法、装置、系统及存储介质，涉及仿真技术领域。本发明所述的器件结构模型的建立方法包括：采用拖拽方式构建二维结构框图，根据属性参数设置器件材料，利用仿真模拟技术，通过所述器件材料和所述... 详细信息

标准号: CN115618450A

本发明提供了一种器件结构模型的建立方法、装置、系统及存储介质，涉及仿真技术领域。本发明所述的器件结构模型的建立方法包括：采用拖拽方式构建二维结构框图，根据属性参数设置器件材料，利用仿真模拟技术，通过所述器件材料和所述二维结构框图构建器件结构模型；本发明所构建的器件结构模型，操作简便、易用性强，能够在复杂结构的器件建模时，实现快速且精准的建模，对复杂结构建模具有指导性建议。

关键词：器件结构构建二维结构复杂结构建模存储介质仿真技术仿真模拟器件材料器件建模设置器件属性参数拖拽方式易用性

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种用于再流焊接的表贴元器件隔热装置及方法

一种用于再流焊接的表贴元器件隔热装置及方法

引用

作者：陈鹏姚宇清陈轶龙 710065 陕西省西安市雁塔区太白南路198号

本发明公开了一种用于再流焊接的表贴元器件隔热装置，包括PCB、隔热罩、器件引线、器件，所述PCB的上方设置器件，所述器件连接器件引线，所述器件引线设置在器件的一侧，所述器件引线的上方设置隔热罩，所述隔热罩预留开口，所述开口... 详细信息

标准号: CN116916556A

本发明公开了一种用于再流焊接的表贴元器件隔热装置，包括PCB、隔热罩、器件引线、器件，所述PCB的上方设置器件，所述器件连接器件引线，所述器件引线设置在器件的一侧，所述器件引线的上方设置隔热罩，所述隔热罩预留开口，所述开口位置和器件引线的位置对应，所述PCB和器件之间通过定位结构连接。该方法包括以下步骤：将PCB上进行焊料印刷；在焊料印刷完成的PCB上设置器件，将器件的上方罩设隔热罩；连接PCB和隔热罩之间的定位结构，使用再流焊接对PCB进行焊接，至焊接完成。通过对有特殊低温再流焊接温度要求的器件进行保护，降低该器件的表面温度，从而在满足该器件温度要求的基础上，保证整板元器件可以同时进行再流焊接。

关键词：器件引线焊接隔热罩定位结构焊料印刷设置器件温度要求表贴元器件隔热装置开口位置器件连接预留开口罩设整板元器件保证

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种氮化镓器件失效分析用测试装置及其测试方法

一种氮化镓器件失效分析用测试装置及其测试方法

引用

作者：周德金徐宏濮旦晨钟磊 214072 江苏省无锡市滨湖区建筑西路777号A3-101

本发明公开了一种氮化镓器件失效分析用测试装置及其测试方法，属于氮化镓器件测试技术领域。本发明的一种氮化镓器件失效分析用测试装置，包括测试台，所述测试台的内部设置有控制盒，所述测试台的上端设置有显示面板，且显示面板与控... 详细信息

标准号: CN117148087A

本发明公开了一种氮化镓器件失效分析用测试装置及其测试方法，属于氮化镓器件测试技术领域。本发明的一种氮化镓器件失效分析用测试装置，包括测试台，所述测试台的内部设置有控制盒，所述测试台的上端设置有显示面板，且显示面板与控制盒电性连接，所述显示面板的一侧设置有移动槽。本发明解决了现有测试设备通过手动推动器件与触头接触从而测试，效率低下，且这样会导致氮化镓器件直接碰撞触头影响测试效果的问题，通过设置器件移动机构，实现了对氮化镓器件的自动输送，且输送过程稳定，同时还能微调氮化镓器件与测试触头的间距，避免直接撞上测试触头，提高了测试效果，且同时可对多个氮化镓器件进行测试，更利于失效分析。

关键词：氮化镓器件失效分析显示面板测试台测试触头测试装置控制盒测试触头测试技术领域手动推动器件测试设备测试效果电性连接内部设置设置器件输送过程移动机构影响测试自动输送移动槽上端微调

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种PCB设计中器件自动分页方法、装置、设备及介质

一种PCB设计中器件自动分页方法、装置、设备及介质

引用

作者：卞一名 250101 山东省济南市高新区浪潮路1036号S02号楼

本申请公开了一种PCB设计中器件自动分页方法、装置、设备及介质，包括：根据原理图中器件的功能，设置所述器件所处的页号及位号，并将所述器件所处的页号及位号存储于器件分页文本中；将所述原理图与所述器件分页文本导入PCB，确定出... 详细信息

标准号: CN112434486B

本申请公开了一种PCB设计中器件自动分页方法、装置、设备及介质，包括：根据原理图中器件的功能，设置所述器件所处的页号及位号，并将所述器件所处的页号及位号存储于器件分页文本中；将所述原理图与所述器件分页文本导入PCB，确定出所述器件在所述PCB所处的位置，以完成所述原理图中器件的摆放。本说明书实施例通过设置器件所处的页号及位号，使得器件在导入PCB时，直接确定出器件在PCB所处的位置，更快捷完成原理图中器件的摆放。

关键词：分页文本摆放设置器件自动分页存储申请

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

半导体器件的制造方法及半导体器件

半导体器件的制造方法及半导体器件

引用

作者：金兴成杨晓芳于绍欣 214135 江苏省无锡市太湖国际科技园菱湖大道180号-6

本发明涉及一种半导体器件的制造方法及半导体器件。制造方法包括：获得衬底，衬底上形成有用于隔离出有源区的隔离结构；在衬底上形成P型阱区；在P型阱区上形成有源区；在有源区与隔离结构边界处的第一侧和与第一侧相对的第二侧形成阈... 详细信息

标准号: CN111987044B

本发明涉及一种半导体器件的制造方法及半导体器件。制造方法包括：获得衬底，衬底上形成有用于隔离出有源区的隔离结构；在衬底上形成P型阱区；在P型阱区上形成有源区；在有源区与隔离结构边界处的第一侧和与第一侧相对的第二侧形成阈值电压补偿区域；形成栅极；其中，有源区包括形成于P型阱区中的源极区和漏极区；第一侧和第二侧的连线垂直于有源区的导电沟道方向，阈值电压补偿区域的空穴浓度大于P型阱区的空穴浓度。通过在有源区与隔离结构交界处的相对两侧设置空穴浓度更高的阈值电压补偿区域，能够中和该区域内由于辐射感生的负电荷，形成了多阈值沟道结构，能够避免器件受到辐射后产生电路漏电设置器件误开启、电路误翻转等问题。

关键词：源区阈值电压补偿空穴隔离结构衬底半导体器件漏电产生电路导电沟道沟道结构设置器件相对两侧边界处负电荷交界处漏极区误开启源极区翻转辐射连线制造电路垂直中和隔离

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

封装散热盖以及封装结构

封装散热盖以及封装结构

引用

作者：薛宇廷钱开友 201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区松涛路696号1幢601室

本申请提供了一种封装散热盖以及封装结构，该封装散热盖包括：顶盖和侧盖，侧盖环绕顶盖，并与顶盖相接，形成凹槽，侧盖向凹槽的外侧倾斜；侧盖内侧具有至少一个预设区，该预设区凹陷于其周围的侧盖表面，从而当该封装散热盖应用于封... 详细信息

标准号: CN115881661A

本申请提供了一种封装散热盖以及封装结构，该封装散热盖包括：顶盖和侧盖，侧盖环绕顶盖，并与顶盖相接，形成凹槽，侧盖向凹槽的外侧倾斜；侧盖内侧具有至少一个预设区，该预设区凹陷于其周围的侧盖表面，从而当该封装散热盖应用于封装结构时，侧盖的预设区与封装结构的封装基板之间具有更大的纵向空间，使得封装基板与预设区相对应的部分可以用于设置器件，以及设置高度较高的器件。

关键词：侧盖预设封装结构顶盖散热盖封装封装基板设置器件外侧倾斜纵向空间环绕申请应用

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种过压保护测试装置及方法

一种过压保护测试装置及方法

引用

作者：陈晓钟春林周孝亮范勇叶界明 518000 广东省深圳市宝安区新桥街道新桥社区新和大道26号B栋1层-3层(库拓智造云商产业园F栋1-3层)

本发明提供了一种过压保护测试装置及方法，包括电源组件，包括外接电源和变压装置，其用于外接测试电压，并对外接测试电压进行调节；初步测试处理器：用于设置器件测试项，采集过压保护电路中不同器件的第一运行数据；匹配测试处理器... 详细信息

标准号: CN117110836A

本发明提供了一种过压保护测试装置及方法，包括电源组件，包括外接电源和变压装置，其用于外接测试电压，并对外接测试电压进行调节；初步测试处理器：用于设置器件测试项，采集过压保护电路中不同器件的第一运行数据；匹配测试处理器：用于设置过压检测项，并在过压保护电路运行时，采集被过压保护电路保护的目标电路的第二运行数据；过压监测组件：用于监测对比第一运行数据和第二运行数据，获取过压保护测试结果。

关键词：运行数据过压保护电路测试处理器测试电压过压保护采集变压装置测试装置电源组件过压监测过压检测目标电路设置器件外接电源测试项运行时外接匹配监测

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

没有更多数据了...

全选清除本页清除全部题录导出标记到“检索档案”

共10页 << < 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 > >>

检索报告对象比较合并检索0

隐藏清空

合并搜索

回到顶部

执行限定条件

内容：

评分：

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

订阅名称：

通借通还

温馨提示：

图书名称：

借书校区：

取书校区：

手机号码：

邮箱地址：

一卡通帐号：

电话和邮箱必须正确填写，我们会与您联系确认。

联系人：

所在院系：

联系邮箱：

联系电话：

内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号邮编: 010021

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：