检索结果-内蒙古大学图书馆

吉林大学学报（工学版） 2021年第3期51卷 1017-1025页

作者：欧阳丹彤刘扬刘杰吉林大学计算机科学与技术学院长春130012 吉林大学符号计算与知识工程教育部重点实验室长春130012 吉林大学软件学院长春130012

通过对电路中故障输出特征进行研究,结合增强故障诊断(ADD)测试候选诊断求解方法,提出了故障响应指导下的候选诊断求解方法ALFDD。依据当前测试激励下实际输出响应与预期输出响应不相同的单故障更可能是故障诊断解的原理,提出了候选单... 详细信息

通过对电路中故障输出特征进行研究,结合增强故障诊断(ADD)测试候选诊断求解方法,提出了故障响应指导下的候选诊断求解方法ALFDD。依据当前测试激励下实际输出响应与预期输出响应不相同的单故障更可能是故障诊断解的原理,提出了候选单故障集合的概念。针对ADD方法中需对电路的所有单故障求解F_(same)的问题,给出仅对候选单故障集合求解F_(same)的方法。该方法一方面避免了对所有单故障都进行对比并求解F_(same)的问题,提高了诊断求解效率;另一方面有效删除了F_(same)中包含的冗余候选诊断解,提高了候选诊断解的分辨率;此外,还增加了候选故障集中所包含的真实诊断解的数量,提高了候选诊断解的准确率。实验结果表明,与ADD方法相比,ALFDD方法候选诊断分辨率和准确率明显提高,求解效率也有较大提高。

关键词：计算机应用模型故障故障诊断候选单故障集合诊断准确性诊断分辨率

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结合结构特征基于测试集的故障诊断方法

结合结构特征基于测试集的故障诊断方法

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作者：刘扬吉林大学

学位级别：硕士

故障诊断是电路领域中的重要研究方向,随着电路规模越来越大,电路结构越来越复杂,当电路发生故障时的诊断成本越来越高,为了解决这一问题,众多学者与研究机构开始电路故障诊断的研究。电路故障诊断方法根据电路类型不同可以分为:数字电... 详细信息

故障诊断是电路领域中的重要研究方向,随着电路规模越来越大,电路结构越来越复杂,当电路发生故障时的诊断成本越来越高,为了解决这一问题,众多学者与研究机构开始电路故障诊断的研究。电路故障诊断方法根据电路类型不同可以分为:数字电路故障诊断、模拟电路故障诊断和混合电路故障诊断。针对数字电路故障诊断,基于测试集方法求解候选故障诊断是目前较为高效的诊断方法。本文首先通过对电路中故障输出特征的研究,结合ADD候选故障诊断求解方法,提出故障响应指导下基于测试集的候选故障诊断求解方法ALFDD:依据当前测试激励下实际输出响应与预期输出响应不相同的单故障更可能是故障诊断解的原理,提出候选单故障集合的概念。针对ADD方法中需对电路中所有单故障求解Fsame的问题,给出仅对候选单故障集合求解Fsame的方法。该方法一方面避免了对所有单故障都进行对比并求解Fsame的问题,提高了诊断求解效率;另一方面有效删除了Fsame中包含的冗余候选诊断解,提升候选诊断解的分辨率;此外,还增加了候选故障集中所包含的真实诊断解的数量,提升了候选诊断解的准确率。实验结果表明,与ADD方法相比,ALFDD方法候选诊断分辨率和准确率明显提升,求解效率也有较大提高。随后,本文依据测试激励与候选故障诊断解之间的结构特征,通过分析电路故障输出响应,提出基于测试集重排序的候选诊断求解方法RTDD方法:根据测试激励对生成候选故障诊断解集合的影响程度不同,提出测试分数概念。通过比较电路的实际故障输出响应、无故障输出响应、模型故障输出响应,计算出测试激励的测试分数。测试集依据测试分数进行重排序,并将重排序后测试集用于故障诊断。与GTreord方法的对比实验结果表明,该方法一方面提高了测试集重排序的效率,求解时间提高1至4个数量级;另一方面在保障同样诊断准确性的情况下,RTDD方法有效减少所需测试激励个数。

关键词：故障诊断候选单故障集合测试分数诊断分辨率诊断准确率

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平面近场诊断测量的快速变换方法

平面近场诊断测量的快速变换方法

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2000年全国微波测量会议

作者：胡鸿飞高雪傅德民西安电子科技大学天线与电磁散射研究所

该文提出的诊断方法基于探头与被测天线的耦合方程，由Fourier变换求出AUT发射场的平面波谱的切向分量，然后由Fourier反变换求出被测天线口径场的切向分量。口径场变换中的大部分计算采用FFT算法，并且引入空间域的重构法，数值精度... 详细信息

该文提出的诊断方法基于探头与被测天线的耦合方程，由Fourier变换求出AUT发射场的平面波谱的切向分量，然后由Fourier反变换求出被测天线口径场的切向分量。口径场变换中的大部分计算采用FFT算法，并且引入空间域的重构法，数值精度好，数据处理效率高，可以达到任意的诊断分辨率。通过数值模拟和诊断实验，说明了该方法的正确性和工程实用性。

关键词：近场测量平面波谱诊断分辨率数值模拟

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自动测试及其系统

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电子科技文摘 1999年第5期 90-91页

Y98-61413-539 9906435基于机内自测的现场可编程序门阵列逻辑块诊断学=BIST-based diagnostics of FPGA logic blocks[会,英]/Stroud,C.& Lee,E.//1997 IEEE International TestConference.—539～547(PV)精确诊断是众多测试环境的基本要求,因为它是用于芯片或系统容错的任何修理或替换策略的基础。本文介绍了具有最高诊断分辨率的现场可编程门阵列(FPGA)中有故障可编程逻辑块(PLB)的诊断方法。这种方法以 FPGA 用的新机内自测(BIST)结构为基础,能够精确地确定任何单个或多个有故障 PBL 的位置。利用自适应诊断策略,测试时间内的有故障 PLB鉴别率可提高7%。

关键词：自动测试现场可编程门阵列故障可编程逻辑块门阵列逻辑诊断分辨率替换策略诊断方法诊断策略诊断学

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小型计算机微诊断

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航空火控译丛 1978年第4期 66-67页

作者：王贞

引言目前有几家小型计算机制造商,已经引用很多万能的小型计算机,具有媒体存储和大规模计算系统特性;这些特性包括多地址方式,叠式运算,灵活的输入输出控制,可寄控制存储等。同时出现了用户程序小型计算机,完全可以预料,将来的小型计... 详细信息

引言目前有几家小型计算机制造商,已经引用很多万能的小型计算机,具有媒体存储和大规模计算系统特性;这些特性包括多地址方式,叠式运算,灵活的输入输出控制,可寄控制存储等。同时出现了用户程序小型计算机,完全可以预料,将来的小型计算机系统与大型计算机不同之处,可能仅在于物理尺寸的大小。微诊断与一般诊断微诊断与一般诊断相比较,可提供较高的误差检测误差诊断分辨率,本来,微诊断方法是比较彻底的,因为诊断发生在原始操作水平而不是在指令水平。一般的诊断程序总是在计算计语言水平上进行。这样,大多数编码基线必须为一个单指令,它需要运用几个操作元。典型的微诊断机构任一诊断的目的都是为了通过某一短数据通道观察预定二进制图形。在可需控制存储器或只读存储器中的微诊断程序,将会弥补来自磁心的测试图形（常为“1”或“0”）,并通

关键词：小型计算机微诊断只读存储器大型计算机输入输出控制单指令诊断分辨率用户程序测试图形物理尺寸

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