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  • 2 篇 蔡姚杰
  • 2 篇 彭文杰
  • 2 篇 程述伟
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语言

  • 21 篇 中文
检索条件"主题词=试样表面处理"
21 条 记 录,以下是1-10 订阅
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一种试样表面处理辅助设备
一种试样表面处理辅助设备
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作者: 张自成 程述伟 李贺杰 孔祥伟 110169 辽宁省沈阳市浑南区创新路195号
本发明涉及一种试样表面处理辅助设备,包括分度筒、螺杆、螺母、夹头和刀架,螺杆的第一端与分度筒固定连接,螺杆的第二端与夹头的尾部固定连接,夹头的头部用于夹持固定待处理试样。螺母与螺杆螺纹连接,螺母的第一端套设在分度筒内... 详细信息
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用于X射线内应力测试的试样表面处理方法
用于X射线内应力测试的试样表面处理方法
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作者: 薛欢 彭文杰 刘冬 邝兰翔 杜丽影 严龙 张彤 430080 湖北省武汉市青山区厂前2号门股份公司机关
本发明公开了一种用于X射线内应力测试的试样表面处理方法,包括表面处理和腐蚀深度标定,采用软性千页砂轮旋转打磨法能在有效去除试样表面杂质的同时,使得所引入的加工应力最小;针对不同材料进行的点解抛光深度标定方法,从根本... 详细信息
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一种试样表面处理辅助设备
一种试样表面处理辅助设备
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作者: 张自成 程述伟 李贺杰 孔祥伟 110169 辽宁省沈阳市浑南区创新路195号
本发明涉及一种试样表面处理辅助设备,包括分度筒、螺杆、螺母、夹头和刀架,螺杆的第一端与分度筒固定连接,螺杆的第二端与夹头的尾部固定连接,夹头的头部用于夹持固定待处理试样。螺母与螺杆螺纹连接,螺母的第一端套设在分度筒内... 详细信息
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用于X射线内应力测试的试样表面处理方法
用于X射线内应力测试的试样表面处理方法
收藏 引用
作者: 薛欢 彭文杰 刘冬 邝兰翔 杜丽影 严龙 张彤 430080 湖北省武汉市青山区厂前2号门股份公司机关
本发明公开了一种用于X射线内应力测试的试样表面处理方法,包括表面处理和腐蚀深度标定,采用软性千页砂轮旋转打磨法能在有效去除试样表面杂质的同时,使得所引入的加工应力最小;针对不同材料进行的点解抛光深度标定方法,从根本... 详细信息
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一种高氮不锈钢的EBSD测试试样表面处理方法
一种高氮不锈钢的EBSD测试试样表面处理方法
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作者: 薛峰 安治国 白丽娟 邢承亮 谷秀锐 刘艳丽 050023 河北省石家庄市体育南大街385号
本发明公开了一种高氮不锈钢的EBSD测试试样表面处理方法,在低温下通过特殊侵蚀剂对高氮不锈钢进行表面腐蚀,达到去除表面残余应力的作用,腐蚀溶液配制简单,对高氮不锈钢的表面侵蚀非常均匀,可以得到非常光滑的试样表面试样可以... 详细信息
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一种简易的圆棒试样表面处理装置
一种简易的圆棒试样表面处理装置
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作者: 陈刚强 陈伟兼 李亚飞 高国奔 冯道臣 娄维尧 蔡姚杰 310006 浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号
一种简易的圆棒试样表面处理装置,属于试样表面处理设备技术领域。它包括固定台,固定台上安装有两个对称放置的固定底板,固定底板上设有第一滑块,第一滑块上端固定安装有竖梁,竖梁上安装有第二滑块,第二滑块外端设置有固定板;固... 详细信息
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一种简易的圆棒试样表面处理装置
一种简易的圆棒试样表面处理装置
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作者: 陈刚强 朱先帅 李亚飞 周州 冯道臣 娄维尧 蔡姚杰 310006 浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号
一种简易的圆棒试样表面处理装置,属于试样表面处理设备技术领域。它包括固定台,固定台上安装有两个对称放置的固定底板,固定底板上设有第一滑块,第一滑块上端固定安装有竖梁,竖梁上安装有第二滑块,第二滑块外端设置有固定板;固... 详细信息
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一种可自主调整试样表面水平度的纳米压痕测试装置
一种可自主调整试样表面水平度的纳米压痕测试装置
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作者: 孙兴冻 张仁博 汪杰 徐克 许良元 朱林 孙军 方继红 程迁 赵弘 蔡联合 周健飞 蒋珂 武婉迪 230036 安徽省合肥市蜀山区长江西路130号
本发明涉及一种可自主调整试样表面水平度的纳米压痕测试装置可对纳米压痕试样进行自动调平试样表面,同时不用再次改变试样表面处理状态及夹持状态。其特征在于:包括纳米压痕仪部分,试样自动调平机构、气浮隔震台。所述的试样调平机... 详细信息
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一种关节软骨微结构纳米压痕镶嵌保水试样台及实验方法
一种关节软骨微结构纳米压痕镶嵌保水试样台及实验方法
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作者: 杨庆生 刘志远 李熙 杨忠军 100124 北京市朝阳区平乐园100号
本发明涉及一种关节软骨微结构纳米压痕镶嵌保水试样台及实验方法,该试样台由台体、容置槽、套管、关节软骨和树脂组成。本发明的关节软骨微结构纳米压痕镶嵌保水试样台可以解决软骨试样表面处理困难及镶嵌法对软骨表面脱水问题,使得... 详细信息
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窄禁带半导体中少数载流子空间分布的测量装置和方法
窄禁带半导体中少数载流子空间分布的测量装置和方法
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作者: 李天信 谢天 夏辉 童中英 陆卫 200083 上海市虹口区玉田路500号
本发明公开了一种窄禁带半导体中少数载流子空间分布的测量装置和方法,该装置中包括试样表面处理模块,低温扫描电容显微测量模块,微分电容测量控制模块和红外光激发模块。待测材料在试样表面处理腔中经处理后,输送至低温扫描电容显... 详细信息
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