为了充分地利用专家经验,以及电子产品研制和生产过程中产生的可靠性数据优化预计结果,FIDES、 SR 332和217Plus中给出了相应的失效率修正方法,包括过程评分法、试验数据修正法和现场数据修正法。分析了3类修正方法的原理和预计模型,基...
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为了充分地利用专家经验,以及电子产品研制和生产过程中产生的可靠性数据优化预计结果,FIDES、 SR 332和217Plus中给出了相应的失效率修正方法,包括过程评分法、试验数据修正法和现场数据修正法。分析了3类修正方法的原理和预计模型,基于优化示例对比分析了根据不同的预计手册得到的优化前的失效率、试验数据优化失效率和预计失效率、现场数据优化失效率和预计失效率。最后,指出电子产品可靠性预计需将手册预计方法与失效物理方法结合起来应用。
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