该文研究了用平面近场扫描方法测量超低副瓣天线的误差分析与补偿技术.文中首先将平面近场测量所误差源所产生的误差等效为近区场幅相数据的测量误差,同时将被测天线近区扫描平面上各晶格点的近场幅相分布等效为阵列天线,分析了用平面近场扫描技术测量超低副瓣天线时,副瓣测量总误差与等测天线相关参数的关系;给出了有限扫描截断所带测量误差、扫描面的位置误差所产生的测量误差、测量仪器误差引入的测量误差、控头(Probe)与被测天线(Antenna Under Test,简写为AUT)间的多次反射民产生的测量误差以及测试环境所导致的测量误差对天线远场方向图所引入的误差上界;其次,用计算机仿真的方法模拟了不同误差源大小对超低副瓣天线方向图副瓣影响程度的数量级;最后,提出了减小这些误差源引入测量误差的有效方法,并对减小多次反射所产生的测量误差以及测试环境所导致的测量误差的\"自校准\"方法进行了实验验证.
针对一类双采样率随机时变系统,应用多项式变换技术和随机过程理论,在强持续激励条件下,研究了双率时变遗忘因子最小二乘法(dual-rate forgotten factor least squares,DR-FFLS)的参数估计收敛性,得到了参数估计误差上界的精确表达式。...
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针对一类双采样率随机时变系统,应用多项式变换技术和随机过程理论,在强持续激励条件下,研究了双率时变遗忘因子最小二乘法(dual-rate forgotten factor least squares,DR-FFLS)的参数估计收敛性,得到了参数估计误差上界的精确表达式。分析表明,随着数据长度k的增加,DR-FFLS算法的参数估计误差上界收敛到常数。同时分析了双率确定性时不变系统、随机时不变系统、确定性时变系统的参数估计误差上界。仿真实例验证了对于随机时变与不变双率系统,同样可得参数估计误差小于参数估计误差上界,并且随着k的增大,参数估计误差上界趋于常数。
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