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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

10 篇 专利
2 篇 学位论文

馆藏范围

12 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

2 篇 工学
- 2 篇 控制科学与工程
- 1 篇 仪器科学与技术
- 1 篇 核科学与技术
1 篇 理学
- 1 篇 数学

主题

2 篇 误码率测试系统
1 篇 无线通信连接
1 篇 北京谱仪
1 篇 可变延时电路
1 篇 误码率
1 篇 besⅲ
1 篇 伪随机序列
1 篇 比较器和计数器
1 篇 lvds信号

机构

3 篇 深圳市亚派光电器...
2 篇 中国人民解放军国...
2 篇 中国空间技术研究...
1 篇 深圳市国芯物联科...
1 篇 海南大学
1 篇 北京空间机电研究...
1 篇 长鑫存储技术有限...
1 篇 中国科学技术大学

作者

3 篇 杜源
3 篇 姚海军
3 篇 庄礼杰
2 篇 连佳彬
2 篇 王兴友
2 篇 张洪伟
2 篇 张雷浩
2 篇 朱华涛
2 篇 牟卫峰
2 篇 陈树文
2 篇 王文炎
2 篇 崔斌
2 篇 邹萌
2 篇 王喆
2 篇 肖爱斌
1 篇 黄义
1 篇 刘春霞
1 篇 刘湘贵
1 篇 蔡欣华
1 篇 苏健

语言

12 篇 中文

检索条件"主题词=误码率测试系统"

共 12 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

误码率测试系统设计

误码率测试系统设计

引用

作者：刘春霞海南大学

学位级别：硕士

在通信系统中,误码测试仪是性能测试和故障诊断必不可少的设备。它用于对通信系统的可靠性检测中,是检验数据传输质量的重要手段。设计一种快速,便捷的测试方法,准确的检测到通信系统的误码率成为数据通信系统中重要的领域。设计一种快... 详细信息

在通信系统中,误码测试仪是性能测试和故障诊断必不可少的设备。它用于对通信系统的可靠性检测中,是检验数据传输质量的重要手段。设计一种快速,便捷的测试方法,准确的检测到通信系统的误码率成为数据通信系统中重要的领域。设计一种快速,便捷的测试方法以及如何表达这种物理现象,至今两者仍都是重要研究课题。本系统设计的目标是可以在发射端进行预存的测试码类型的发射、接收和误码统计；接收端捕捉到同步头后将数据分路,比较误码并统计误码率,然后通过LED显示出来。本文主要设计了误码率测试系统。误码率测试系统主要由测试码(伪随机序列)生成单元、误码测试单元和计数显示单元组成。测试码生成单元用于仿真通信信道测试下的数字信息,并对接收到的信号与输入数据进行比较,用计数器记录下误码的个数由LED将其显示。误码率的性能可以由对误码率测试系统的数据进行分析讨论而获得。

关键词：误码率测试系统伪随机序列可变延时电路无线通信连接比较器和计数器

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基于USB的LVDS信号传输误码率测试系统

基于USB的LVDS信号传输误码率测试系统

引用

作者：李超中国科学技术大学

学位级别：硕士

BESIII是是运行在北京正负电子对撞机(BEPC)上的一台大型通用磁谱仪北京谱仪(BES)的第三期工程.它的主漂移室动量分辨率为O.8%@1GeV&1T,0.67%@1GeV&1.2T,dE/dx分辨率达7%,立体角达O.93.电磁量能器使用CsI晶体,△E/E~2.5... 详细信息

BESIII是是运行在北京正负电子对撞机(BEPC)上的一台大型通用磁谱仪北京谱仪(BES)的第三期工程.它的主漂移室动量分辨率为O.8%@1GeV&1T,0.67%@1GeV&1.2T,dE/dx分辨率达7%,立体角达O.93.电磁量能器使用CsI晶体,△E/E~2.5%@1GeV,立体角达0.83.飞行时间探测器时间分辨率达到65 ps,π/K分辨达到***将使用超导磁铁,磁场达1~1.2Tesla;在线事例率达到约***的μ子鉴别器(MC)读出电子学系统数据将并行扫描10,240个数据,可以满足阻性板探测器9088个电子学通道数据获取的要求.BESIII的MC读出电子学系统中将采用LVDS信号进行数据传输,而LVDS信号传输能不能达到MC的读出电子学系统的要求,并没有经过实际测试检验.所以,我们需要一个测试系统用来检验LVDS信号的误码率.USB2.O总线的最大速度可达到480 MBit/s,而MC的读出电子学通过LVDS信号传输的时钟频率仅为20 MHz.因此,设计一个基于USB总线的简单的测试系统,就可以用来检测LVDS信号在MC的读出电子学系统条件下的传输误码率.该文给出了一个利用USB2.0接口、两台PC机和百兆网线组成的LVDS信号传输误码率测试系统.该系统使用了随机数据源,测量了LVDS信号在30米传输距离、平均速率21.078MBit/s条件下的误码率.

关键词： BESⅢ 北京谱仪 LVDS信号误码率误码率测试系统

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多通道光模块误码率测试系统及方法

多通道光模块误码率测试系统及方法

引用

作者：杜源姚海军庄礼杰 518000 广东省深圳市宝安区留仙二路中粮商务公园2栋1503

本发明公开了一种多通道光模块误码率测试系统，包括依次电连接的信号发生模块、可调信号线、处理器模块、待测多通道光模块和误码率测试模块；信号发生模块用于输出第一电信号；可调信号线用于将第一电信号衰减并将衰减后的第一电信号... 详细信息

标准号: CN109245820B

本发明公开了一种多通道光模块误码率测试系统，包括依次电连接的信号发生模块、可调信号线、处理器模块、待测多通道光模块和误码率测试模块；信号发生模块用于输出第一电信号；可调信号线用于将第一电信号衰减并将衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至处理器模块；处理器模块用于获取CTLE值并写入待测多通道光模块；待测多通道光模块用于根据CTLE值对第二电信号进行补偿后再传输至误码率测试模块；误码率测试模块获取误码率信息并判断误码率信息是否满足预设的合格要求，若满足，则测试合格。本发明还公开了一种多通道光模块误码率测试方法，本发明不需要更换输入信号线即可完成误码率测试，提高了测试效率，节省人力物力。

关键词：误码率测试多通道光模块处理器模块信号发生模块误码率信息可调信号衰减误码率测试系统电信号传输输入信号线测试效率模块获取人力物力电连接预设写入测试传输输出

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多通道光模块误码率测试系统及方法

多通道光模块误码率测试系统及方法

引用

作者：杜源姚海军庄礼杰 518000 广东省深圳市宝安区留仙二路中粮商务公园2栋1503

标准号: CN109245820A

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一种高速串行芯片误码率测试系统及方法

一种高速串行芯片误码率测试系统及方法

引用

作者：熊立志刘湘贵 518000 广东省深圳市福田区梅林街道孖岭社区凯丰路10号翠林大厦8层807H

本发明提供一种高速串行芯片误码率测试系统及方法，包括：高速串行芯片装置用于基于预设的FPGA收发器发送与接收高速串行数据；误码率测试模块用于通过预设的时钟源，测试和读取高速串行数据的误码率；校准模块用于根据所述误码率生成... 详细信息

标准号: CN115396353A

本发明提供一种高速串行芯片误码率测试系统及方法，包括：高速串行芯片装置用于基于预设的FPGA收发器发送与接收高速串行数据；误码率测试模块用于通过预设的时钟源，测试和读取高速串行数据的误码率；校准模块用于根据所述误码率生成对应的校准参数，并通过所述校准参数接收并校准高速串行芯片装置发送的高速串行数据；控制模块用于接收用户指令，并通过所述接收用户指令，控制高速串行芯片和误码率测试模块和驱动模块的通信。

关键词：高速串行高速串行数据误码率测试接收用户校准参数芯片装置误码率预设芯片误码率测试系统读取发送指令控制模块驱动模块校准模块校准时钟源收发器测试通信

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多通道光模块误码率测试系统

多通道光模块误码率测试系统

引用

作者：杜源姚海军庄礼杰 518000 广东省深圳市宝安区留仙二路中粮商务公园2栋1503

本实用新型公开了一种多通道光模块误码率测试系统，包括依次电连接的信号发生模块、可调信号线、处理器模块、待测多通道光模块和误码率测试模块；信号发生模块用于输出第一电信号；可调信号线用于将第一电信号衰减并将衰减后的第一电... 详细信息

标准号: CN208971519U

本实用新型公开了一种多通道光模块误码率测试系统，包括依次电连接的信号发生模块、可调信号线、处理器模块、待测多通道光模块和误码率测试模块；信号发生模块用于输出第一电信号；可调信号线用于将第一电信号衰减并将衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至处理器模块；处理器模块用于获取CTLE值并写入待测多通道光模块；待测多通道光模块用于根据CTLE值对第二电信号进行补偿后再传输至误码率测试模块；误码率测试模块获取误码率信息并判断误码率信息是否满足预设的合格要求，若满足，则测试合格。本实用新型不需要更换输入信号线即可完成误码率测试，提高了测试效率，节省人力物力。

关键词：误码率测试多通道光模块处理器模块信号发生模块本实用新型误码率信息可调信号衰减误码率测试系统电信号传输输入信号线测试效率模块获取人力物力电连接预设写入测试传输输出

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一种高速串行芯片误码率测试系统及实现方法

一种高速串行芯片误码率测试系统及实现方法

引用

作者：张京晶李硕苏健王蕴龙黄义 100076 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱

本发明提供一种高速串行芯片误码率测试系统，包括，被测板，载有待测试的高速串行芯片；控制模块，与被测板连接，用于计时并完成系统误码率测试的中断控制；误码率测试模块，与被测板连接，用于测试被测板的误码率；时钟锁相模块，连... 详细信息

标准号: CN104993888A

本发明提供一种高速串行芯片误码率测试系统，包括，被测板，载有待测试的高速串行芯片；控制模块，与被测板连接，用于计时并完成系统误码率测试的中断控制；误码率测试模块，与被测板连接，用于测试被测板的误码率；时钟锁相模块，连接控制模块、被测板和误码率测试模块，用于接收控制模块传来的控制命令，生成所需的各频率测试时钟，提供给被测板和误码率测试模块；上位机，与误码率测试模块连接，用于设置测试模式并显示测试结果。本发明简单易用，通用性好，可以提高高速串行芯片数据传输系统的误码率测试效率。

关键词：误码率测试被测板高速串行误码率测试系统芯片接收控制模块连接控制模块显示测试结果测试测试模式传输系统控制命令控制模块模块连接频率测试时钟锁相完成系统芯片数据中断控制上位机误码率连接一种计时生成设置

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存储器误码率测试系统及其测试方法

存储器误码率测试系统及其测试方法

引用

作者：蔡欣华 230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

本公开实施例涉及半导体测试领域，提供一种存储器误码率测试系统及其测试方法，存储器包括存储单元，测试系统包括：控制单元，被配置为向存储单元发送控制命令；测试单元，被配置为：控制控制单元向存储单元发送控制命令，且测试单元... 详细信息

标准号: CN114708902A

本公开实施例涉及半导体测试领域，提供一种存储器误码率测试系统及其测试方法，存储器包括存储单元，测试系统包括：控制单元，被配置为向存储单元发送控制命令；测试单元，被配置为：控制控制单元向存储单元发送控制命令，且测试单元向存储单元发送多位数据，其中，存储单元基于控制命令按照预设顺序存储多位数据，测试单元按照预设顺序从存储单元中读取多位数据；测试单元还用于将多位数据在预设顺序中处于相同位置的数据作为目标数据，判断存储至存储单元中的目标数据与从存储单元中读取的目标数据是否相同，以及结合多位数据的总位数，获取存储器的误码率。本公开实施例至少有利于降低存储器误码率的测试成本以及提高误码率的测试准确性。

关键词：存储单元多位数据测试单元存储器目标数据误码率预设读取发送控制误码率测试系统半导体测试测试准确性测试成本测试系统控制命令顺序存储总位数配置存储发送测试

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一种SpaceWire总线自由拓扑误码率测试系统及方法

一种SpaceWire总线自由拓扑误码率测试系统及方法

引用

作者：崔斌王文炎王兴友王喆邹萌张雷浩肖爱斌张洪伟 100194 北京市海淀区友谊路104号

一种SpaceWire总线自由拓扑误码率测试系统及方法，基于SpaceWire误码率测试装置实现，通过在不同控制器工作模式、路由器连接模式、数据传输种类自由组合的多种复杂情况下，通过测定不同控制器的输入、输出端数据码位的误码情况来判定S... 详细信息

标准号: CN109831349B

一种SpaceWire总线自由拓扑误码率测试系统及方法，基于SpaceWire误码率测试装置实现，通过在不同控制器工作模式、路由器连接模式、数据传输种类自由组合的多种复杂情况下，通过测定不同控制器的输入、输出端数据码位的误码情况来判定SpaceWire元器件的误码率，解决了现有技术缺少判定误码率容易导致传输过程出现数据损坏、丢失、变性等错误的问题，具有置信度高，测试时间短的特点。

关键词：控制器误码率判定误码率测试系统误码率测试装置路由器连接输出端数据误码传输过程工作模式数据传输数据损坏自由拓扑自由组合置信度变性码位元器件测试

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一种SpaceWire总线自由拓扑误码率测试系统及方法

一种SpaceWire总线自由拓扑误码率测试系统及方法

引用

作者：崔斌王文炎王兴友王喆邹萌张雷浩肖爱斌张洪伟 100194 北京市海淀区友谊路104号

标准号: CN109831349A

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