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文字说明：

T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

分类表

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文献类型

15 篇 专利
1 篇 学位论文

馆藏范围

16 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

1 篇 工学
- 1 篇 光学工程

主题

1 篇 读出测试
1 篇 ctia
1 篇 读出设计
1 篇 自积分
1 篇 量子效应光电探测...

机构

3 篇 西华大学
2 篇 苏州浪潮智能科技...
1 篇 泰州市计量测试院
1 篇 南京中电熊猫晶体...
1 篇 宁波青橙电子科技...
1 篇 索尼半导体解决方...
1 篇 武汉耀能科技有限...
1 篇 中国科学院高能物...
1 篇 南京捷宝凯雷电气...
1 篇 华东师范大学
1 篇 天津普智芯网络测...
1 篇 湖州职业技术学院
1 篇 铠侠股份有限公司

作者

3 篇 徐延海
3 篇 鞠道杰
3 篇 李升亚
3 篇 李科旗
2 篇 张贞雷
2 篇 满宏涛
2 篇 李拓
2 篇 周玉龙
2 篇 王贤坤
2 篇 刘同强
2 篇 邹晓峰
1 篇 张守丽
1 篇 孙希磊
1 篇 张跃进
1 篇 郭东亚
1 篇 卢燕龙
1 篇 叶宇诚
1 篇 马慧娟
1 篇 周敏杰
1 篇 刘雅清

语言

16 篇 中文

检索条件"主题词=读出测试"

共 16 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

硅光电倍增器信号读出测试系统及测试方法

硅光电倍增器信号读出测试系统及测试方法

引用

作者：张大力李新乔熊少林安正华孙希磊文向阳龚轲刘雅清杨生刘晓静彭文溪乔锐郭东亚徐岩冰高旻 100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙)院

本发明提供一种硅光电倍增器信号读出测试系统及测试方法，硅光电倍增器信号读出测试系统包括硅光电倍增器阵列、LED阵列、多个模拟开关、单片机、信号比较器以及放大器；硅光电倍增器阵列中硅光电倍增器单元数量与LED阵列中LED数量对... 详细信息

标准号: CN117968841A

本发明提供一种硅光电倍增器信号读出测试系统及测试方法，硅光电倍增器信号读出测试系统包括硅光电倍增器阵列、LED阵列、多个模拟开关、单片机、信号比较器以及放大器；硅光电倍增器阵列中硅光电倍增器单元数量与LED阵列中LED数量对应；单片机用于按照LED阵列中的LED编号顺序依次切换对应模拟开关的通断状态，以使对应LED闪烁；信号比较器用于将放大后的探测信号与预设信号阈值进行比较；单片机，根据信号比较器的输出电平信号判定硅光电倍增器阵列中各个硅光电倍增器单元是否失效。本发明通过依次控制LED闪烁，根据时序确定硅光电倍增器单元对应的信号读出通道，将信号读出系统简化为单通道，容易实现且节约成本。

关键词：硅光电倍增器信号比较器单片机读出测试模拟开关放大器信号读出系统读出通道时序确定输出电平数量对应探测信号通断状态信号判定依次切换预设信号单通道放大测试节约

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新型量子效应光电器件阵列读出设计与测试研究

新型量子效应光电器件阵列读出设计与测试研究

引用

作者：叶宇诚华东师范大学

学位级别：硕士

新型量子效应光电探测器具有暗电流小、光电转换效率高等优点,需要对应设计专用的读出电路。论文根据新型探测器的特点,设计研究了具有倒空读出功能的电容反馈互导放大(CTIA)读出电路、自积分读出电路和增益可调CTIA读出电路。利用光学... 详细信息

新型量子效应光电探测器具有暗电流小、光电转换效率高等优点,需要对应设计专用的读出电路。论文根据新型探测器的特点,设计研究了具有倒空读出功能的电容反馈互导放大(CTIA)读出电路、自积分读出电路和增益可调CTIA读出电路。利用光学平台和自动采样测试系统,测试不同电路对器件的读出效果,并进行比较分析。结果表明,设计的CTIA读出电路有较高的注入效率,在88nW辐照强度下达到96.92%,设计的自积分读出电路的注入效率相对较小,在88nW辐照强度20μs积分时间下只有61.28%；倒空读出方式有效得提高了CTIA电路和自积分电路对探测器响应的读出能力,对CTIA电路读出性能的提高更明显,在88nW辐照强度下,倒空读出的CTIA电路和自积分电路对器件响应读出能力分别提高了126.59%和39.99%；增益可调CTIA读出电路在弱背景辐照下能以大增益模式工作,在强背景辐照能以小增益模式工作而不易饱和,积分时间增长到200μs时仍然没有饱和。

关键词：量子效应光电探测器读出设计 CTIA 自积分读出测试

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一种便捷的方向盘转角转矩测试仪

一种便捷的方向盘转角转矩测试仪

引用

作者：徐延海鞠道杰李升亚李科旗 610039 四川省成都市金牛区金周路999号西华大学

本发明具体涉及一种安装中心重合度高、除测试仪本体之外，转角传感器不需要固定装置、方向盘上部设有不随方向盘旋转的平台、测量精度高、方便驾驶员操作，并能拓展到无线数据传输的便捷方向盘转角转矩测试仪，测试仪直接安装在车辆的... 详细信息

标准号: CN106768533B

本发明具体涉及一种安装中心重合度高、除测试仪本体之外，转角传感器不需要固定装置、方向盘上部设有不随方向盘旋转的平台、测量精度高、方便驾驶员操作，并能拓展到无线数据传输的便捷方向盘转角转矩测试仪，测试仪直接安装在车辆的转向轴上，保证测试仪本体与转向轴的同轴度；不需要额外增加转角传感器相对位置的固定装置，保障驾驶员的视野及操作不会受到干扰；平台上可以嵌入测试设备，方便驾驶员输入测试指令和读出测试数据，并可通过无线传输到后续终端。下法兰基板的内花键套与转向轴的外花键配合，调整螺母可以使方向盘本体与驾驶室底板之间高度合适，提高测量的便捷性。内花键套设计为可更换的形式，满足不同车型测试的要求。

关键词：转向轴测试仪本体转角传感器固定装置内花键套测试仪方向盘方向盘转角转矩无线数据传输测量精度高方向盘本体驾驶室底板驾驶员操作中心重合度测试设备调整螺母读出测试输入测试无线传输直接安装便捷性可更换同轴度外花键嵌入车型测量指令终端测试视野拓展配合保证

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一种便捷的方向盘转角转矩测试仪

一种便捷的方向盘转角转矩测试仪

引用

作者：徐延海鞠道杰李升亚李科旗 610039 四川省成都市金牛区金周路999号西华大学

标准号: CN106768533A

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绝缘子孔隙性测试装置

绝缘子孔隙性测试装置

引用

作者：卢燕龙周敏杰蔡洪付张国晶李海涛 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道303号光谷芯中心三期(2014-071)4-02幢4层2厂房单元

本实用新型公开了绝缘子孔隙性测试装置，属于测试装置技术领域，其包括测试柜，所述测试柜内壁卡接有支撑板和隔离板，所述支撑板和隔离板相互靠近的一面分别与活动板的上表面和下表面搭接。该绝缘子孔隙性测试装置，通过设置支撑板、... 详细信息

标准号: CN213957100U

本实用新型公开了绝缘子孔隙性测试装置，属于测试装置技术领域，其包括测试柜，所述测试柜内壁卡接有支撑板和隔离板，所述支撑板和隔离板相互靠近的一面分别与活动板的上表面和下表面搭接。该绝缘子孔隙性测试装置，通过设置支撑板、活动板、齿板、齿轮、转轴、指针、压力表和计数器，使得压力柜通过出气管往测试柜内部充气，计数器记录电机旋转的圈数，随着压力柜的充气，齿板带动齿轮和转轴旋转，使得转轴带动指针进行旋转，工作人员通过指针和压力表的位置读出测试柜内部的气压，再通过计数器的读数，计算出绝缘子本体的孔隙性即可，操作简单快捷，降低工作人员操作难度的同时，保证测试数据的准确性，从而提高该装置的适用性。

关键词：测试装置测试柜孔隙性支撑板绝缘子压力表计数器隔离板活动板压力柜指针齿板转轴充气本实用新型计数器记录绝缘子本体测试数据带动齿轮电机旋转读出测试转轴旋转出气管上表面下表面齿轮搭接卡接内壁圈数气压保证

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可携带SPD专用保护装置测试仪

可携带SPD专用保护装置测试仪

引用

作者：黄建锋齐会会刘润雨 210000 江苏省南京市经济技术开发区栖霞大道68号五楼

本实用新型公开可携带SPD专用保护装置测试仪，包括：数据处理模块、电压测量模块、时间计时模块、电压控制模块与联动开关；所述数据处理模块分别与电压测量模块、时间计时模块电连接，用于计算工频电流值；所述电压测量模块与电压控... 详细信息

标准号: CN218412728U

本实用新型公开可携带SPD专用保护装置测试仪，包括：数据处理模块、电压测量模块、时间计时模块、电压控制模块与联动开关；所述数据处理模块分别与电压测量模块、时间计时模块电连接，用于计算工频电流值；所述电压测量模块与电压控制模块电连接，用于测量线路电压值；所述时间计时模块与电压控制模块电连接，用于记录测试时间；所述电压控制模块，用于根据需要调节测试仪内部的电压输出；所述联动开关，用于控制线路的通断。本实用新型所述可携带SPD专用保护装置测试仪，通过数据处理模块，带有工频电流测试功能，可以读出测试时的电流大小；设置有电压调节旋钮，可以通过旋钮调节输出电流的大小，并且带有计时功能，可以读出测试时时间。

关键词：电压控制模块电压测量模块时间计时模块数据处理模块测试仪电连接专用保护装置本实用新型读出测试工频电流联动开关可携带测量线路电压电压调节旋钮测试功能电压输出计时功能记录测试控制线路输出电流旋钮调节通断

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轮毂单元密封圈转矩测试工装

轮毂单元密封圈转矩测试工装

引用

作者：张守丽左希庆 313000 浙江省湖州市吴兴区学府路299号

本实用新型公开了轮毂单元密封圈转矩测试工装，包括电机、轮毂单元密封圈、扭矩传感器及检测装置，所述检测装置包括检测内圈及检测外圈，所述检测外圈的一端设有安装端口，另一端设有检测端口；所述轮毂单元密封圈配合设置在安装端口... 详细信息

标准号: CN208805304U

本实用新型公开了轮毂单元密封圈转矩测试工装，包括电机、轮毂单元密封圈、扭矩传感器及检测装置，所述检测装置包括检测内圈及检测外圈，所述检测外圈的一端设有安装端口，另一端设有检测端口；所述轮毂单元密封圈配合设置在安装端口内；所述检测内圈配合设置在轮毂单元密封圈上，且检测内圈与检测外圈之间通过轮毂单元密封圈相连，所述电机上设有输出轴，并通过输出轴与检测内圈固定连接，所述扭矩传感器与检测外圈的检测端口固定连接。本实用新型的有益效果是：该工装即简单又省时省力，可以直接读出测试结果，并且最大限度减小测试误差积累，保证轮毂单元密封圈转矩测试精度的实验工装。

关键词：密封圈轮毂单元检测工装内圈本实用新型扭矩传感器安装端口检测装置配合设置转矩测试输出轴电机测试误差读出测试内圈固定减小省力省时积累保证

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一种便捷的方向盘转角转矩测试仪

一种便捷的方向盘转角转矩测试仪

引用

作者：鞠道杰徐延海李升亚李科旗 610039 四川省成都市金牛区金周路999号西华大学

本实用新型具体涉及一种安装中心重合度高、除测试仪本体之外，转角传感器不需要固定装置、方向盘上部设有不随方向盘旋转的平台、测量精度高、方便驾驶员操作，并能拓展到无线数据传输的便捷方向盘转角转矩测试仪，该测试仪直接安装在... 详细信息

标准号: CN206593791U

本实用新型具体涉及一种安装中心重合度高、除测试仪本体之外，转角传感器不需要固定装置、方向盘上部设有不随方向盘旋转的平台、测量精度高、方便驾驶员操作，并能拓展到无线数据传输的便捷方向盘转角转矩测试仪，该测试仪直接安装在车辆的转向轴上，保证测试仪与转向轴的同轴度；不需要额外增加转角传感器相对位置固定装置，保障驾驶员的视野及操作不会受到干扰；平台上可以嵌入测试设备，方便驾驶员输入测试指令和读出测试数据，并可通过无线传输到后续终端。下法兰基板的内花键套与转向轴的外花键配合，调整螺母可以使方向盘本体与驾驶室底板之间高度合适，提高测量的便捷性。内花键套设计为可更换的形式，满足不同车型测试的要求。

关键词：测试仪转向轴转角传感器内花键套方向盘方向盘转角转矩无线数据传输相对位置固定本实用新型测量精度高测试仪本体方向盘本体驾驶室底板驾驶员操作中心重合度测试设备调整螺母读出测试固定装置输入测试无线传输直接安装便捷性可更换同轴度外花键嵌入车型测量指令终端测试视野拓展配合保证

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一种ADC器件及DAC器件验证方法

一种ADC器件及DAC器件验证方法

引用

作者：张大伟屈粮富宋晓荣马慧娟 300000 天津市滨海新区滨海高新区华苑产业区海泰西路18号南2楼3033

一种ADC器件及DAC器件验证方法，包括：步骤S1，采集ADC芯片的数据信号及时钟信号进行缓存处理，经过跨时钟域处理后，写入随机存储器，读出随机存储器的数据信号进行分析处理，完成ADC各项性能指标的计算，及频域与参数实时图形化显示... 详细信息

标准号: CN115327967A

一种ADC器件及DAC器件验证方法，包括：步骤S1，采集ADC芯片的数据信号及时钟信号进行缓存处理，经过跨时钟域处理后，写入随机存储器，读出随机存储器的数据信号进行分析处理，完成ADC各项性能指标的计算，及频域与参数实时图形化显示；步骤S2，编辑产生自定义测试向量，存入随机存储器，循环读出随机存储器的数据，完成DAC芯片的数字信号的输入；对测试仪器进行参数设置，且读出测试结果并进行数据处理及自动保存；步骤S3，上位机通过UART传输控制模块输出总线信号控制随机寄存器，控制整个测试流程，及通过以太网接口用于数据传输，能支持高速接口、提高数据传输速度、存储深度以及便于数据分析。

关键词：随机存储器数据传输数据信号读出传输控制模块跨时钟域处理随机寄存器以太网接口自定义测试参数设置测试流程测试仪器读出测试分析处理高速接口缓存处理实时图形输出总线数据分析数字信号信号控制自动保存数据处理上位机频域向量写入存储采集验证

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半导体集成电路和存储器系统

半导体集成电路和存储器系统

引用

作者：田中笃志日本东京

实施方式提供了一种用于测试对象装置的廉价半导体集成电路和存储器系统。半导体集成电路包括写入测试电路和读出测试电路。写入测试电路生成测试数据并将所生成的测试数据发送到外部存储器设备，而不将测试数据储存在本地存储器设备中... 详细信息

标准号: CN115995255A

实施方式提供了一种用于测试对象装置的廉价半导体集成电路和存储器系统。半导体集成电路包括写入测试电路和读出测试电路。写入测试电路生成测试数据并将所生成的测试数据发送到外部存储器设备，而不将测试数据储存在本地存储器设备中。读出测试电路从外部存储器设备接收所述外部存储器设备通过读出测试数据而获得的读出数据，并且将接收到的读出数据与期待值进行比较，而不将读出数据或期待值储存在本地存储器设备中。

关键词：外部存储器设备测试数据读出测试读出数据半导体集成电路存储器设备电路写入测试储存存储器系统测试对象电路生成

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