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文献类型

  • 32 篇 专利

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  • 32 篇 电子文献
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机构

  • 8 篇 展讯通信有限公司
  • 7 篇 天津国芯科技有限...
  • 2 篇 合芯科技有限公司
  • 2 篇 南京芯驰半导体科...
  • 2 篇 西安紫光国芯半导...
  • 2 篇 海光信息技术股份...
  • 2 篇 中芯国际集成电路...
  • 2 篇 珠海妙存科技有限...
  • 2 篇 山东华翼微电子技...
  • 2 篇 北京市合芯数字科...
  • 1 篇 三星电子株式会社
  • 1 篇 郑州云海信息技术...
  • 1 篇 长鑫存储技术有限...

作者

  • 7 篇 郑茳
  • 7 篇 肖佐楠
  • 6 篇 王林
  • 6 篇 徐柯
  • 6 篇 陈根华
  • 4 篇 兰光洋
  • 2 篇 李向宏
  • 2 篇 刘斌
  • 2 篇 张力航
  • 2 篇 刘金陈
  • 2 篇 顾昌山
  • 2 篇 孙燃
  • 2 篇 陈双文
  • 2 篇 姚其爽
  • 2 篇 徐灿
  • 2 篇 马亚奇
  • 2 篇 姬茹茹
  • 2 篇 王勇
  • 2 篇 曾为民
  • 2 篇 方伟

语言

  • 32 篇 中文
检索条件"主题词=读数据信号"
32 条 记 录,以下是11-20 订阅
排序:
静态随机存储器的读数据控制装置、控制方法及电子设备
静态随机存储器的读数据控制装置、控制方法及电子设备
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作者: 王子羽 姚其爽 孙燃 300450 天津市滨海新区华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
本申请提供一种静态随机存储器的读数据控制装置、控制方法及电子设备。该装置包括灵敏放大器、锁存器和数据读出时序控制管;灵敏放大器的输入端与SRAM的存储单元的位线通过位选择传输管连接,灵敏放大器的输出端与锁存器的输入端连接... 详细信息
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静态随机存储器的读数据控制装置、控制方法及电子设备
静态随机存储器的读数据控制装置、控制方法及电子设备
收藏 引用
作者: 王子羽 姚其爽 孙燃 100082 北京市海淀区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
本申请提供一种静态随机存储器的读数据控制装置、控制方法及电子设备。该装置包括灵敏放大器、锁存器和数据读出时序控制管;灵敏放大器的输入端与SRAM的存储单元的位线通过位选择传输管连接,灵敏放大器的输出端与锁存器的输入端连接... 详细信息
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SRAM时序测试电路及测试方法
SRAM时序测试电路及测试方法
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作者: 陈根华 徐柯 王林 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
本发明实施例提供一种SRAM时序测试电路及测试方法。其中,SRAM时序测试电路双端口SRAM存储单元和测试电路单元,测试电路单元包括第一模式切换电路,其两个输入端分别与两个读数据信号输出端连接,一个输入端接收到的数据信号的翻转的... 详细信息
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一种片上存储器在线故障诊断系统及方法
一种片上存储器在线故障诊断系统及方法
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作者: 张力航 仇雨菁 210000 江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦B座610室
一种片上存储器在线故障诊断系统,包括,存储访问控制器、数据备份控制器、地址解析器、交织器、静态存储器测试器,以及片内存储器,其中,所述存储访问控制器,其将接收的系统请求转换为所需的地址信号、写数据信号、读写控制信号以... 详细信息
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SRAM时序测试电路、方法和存储器
SRAM时序测试电路、方法和存储器
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作者: 徐柯 王林 陈根华 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
本申请实施例提供一种SRAM时序测试电路、方法和存储器。SRAM时序测试电路包括第一模式切换电路和第二模式切换电路,在SRAM时序测试电路测量SRAM存储单元的数据读取时间时,利用SRAM存储单元的读数据信号输出端在连续输出“0”时产生... 详细信息
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SRAM时序测试电路、方法和存储器
SRAM时序测试电路、方法和存储器
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作者: 徐柯 王林 陈根华 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
本申请实施例提供一种SRAM时序测试电路、方法和存储器。其中,SRAM时序测试电路包括第一模式切换电路、测试模式选择电路和第二模式切换电路,在SRAM时序测试电路测量双端口SRAM存储单元的数据读取时间时,利用双端口SRAM存储单元的读... 详细信息
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一种高效低功耗的EEPROM灵敏读放电路及其工作方法
一种高效低功耗的EEPROM灵敏读放电路及其工作方法
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作者: 徐灿 曾为民 李向宏 250000 山东省济南市高新区新泺大街1768号齐鲁软件园大厦B座B-302室
一种高效低功耗的EEPROM灵敏读放电路,包括读放电流源Is_rd、读数据信号enb_rd、BL位线和输出端,还包括共栅电路模块和传输门电路模块;所述共栅电路模块包括两个并联的共源极单级放大器:N沟道MOS管NM1和P沟道MOS管PM8;所述传输门... 详细信息
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一种基于APB总线和OPB总线的转换装置
一种基于APB总线和OPB总线的转换装置
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作者: 兰光洋 郑茳 肖佐楠 300457 天津市滨海新区开发区第四大街80号天大科技园软件大厦北楼306室
本发明提供了一种基于APB总线和OPB总线的转换装置,包括:选中信号产生装置,通过接收来自APB总线上的地址,来判断是否产生输出给OPB总线上的片选信号;APB总线转换装置,用于将接收到的APB总线请求的地址信号、读/写控制信号、字节使... 详细信息
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SRAM访问时间的测试电路与测试方法
SRAM访问时间的测试电路与测试方法
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作者: 陈双文 郝旭丹 方伟 201203 上海市浦东新区张江路18号
本申请提供了一种SRAM访问时间的测试电路与测试方法。该测试电路包括:SRAM存储器、预置输出电路、附加测试电路与第一模式切换电路,SRAM存储器包括第一时钟信号输入端和读数据信号输出端;预置输出电路包括第二时钟信号输入端,第二... 详细信息
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一种检测总线延时的方法
一种检测总线延时的方法
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作者: 谢克文 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
本发明公开了一种检测总线延时的方法,属于数据传输总线技术领域;方法包括写延时检测过程和读延时检测过程。写延时检测过程包括:步骤A1,检测写地址信号和写响应信号,并处理得到写延时值;步骤A2,检测写突发信号,并处理得到写吞... 详细信息
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