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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

32 篇 专利

馆藏范围

32 篇 电子文献
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日期分布

机构

8 篇 展讯通信有限公司
7 篇 天津国芯科技有限...
2 篇 合芯科技有限公司
2 篇 南京芯驰半导体科...
2 篇 西安紫光国芯半导...
2 篇 海光信息技术股份...
2 篇 中芯国际集成电路...
2 篇 珠海妙存科技有限...
2 篇 山东华翼微电子技...
2 篇 北京市合芯数字科...
1 篇 三星电子株式会社
1 篇 郑州云海信息技术...
1 篇 长鑫存储技术有限...

作者

7 篇 郑茳
7 篇 肖佐楠
6 篇 王林
6 篇 徐柯
6 篇 陈根华
4 篇 兰光洋
2 篇 李向宏
2 篇 刘斌
2 篇 张力航
2 篇 刘金陈
2 篇 顾昌山
2 篇 孙燃
2 篇 陈双文
2 篇 姚其爽
2 篇 徐灿
2 篇 马亚奇
2 篇 姬茹茹
2 篇 王勇
2 篇 曾为民
2 篇 方伟

语言

32 篇 中文

检索条件"主题词=读数据信号"

共 32 条记录，以下是11-20 订阅

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详细简洁

排序：

一种片上存储器在线故障诊断系统及方法

一种片上存储器在线故障诊断系统及方法

引用

作者：张力航仇雨菁 210000 江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦B座610室

一种片上存储器在线故障诊断系统，包括，存储访问控制器、数据备份控制器、地址解析器、交织器、静态存储器测试器，以及片内存储器，其中，所述存储访问控制器，其将接收的系统请求转换为所需的地址信号、写数据信号、读写控制信号以... 详细信息

标准号: CN111833961B

一种片上存储器在线故障诊断系统，包括，存储访问控制器、数据备份控制器、地址解析器、交织器、静态存储器测试器，以及片内存储器，其中，所述存储访问控制器，其将接收的系统请求转换为所需的地址信号、写数据信号、读写控制信号以及读数据信号；所述数据备份控制器，其将需要备份的存储器分组的内容备份到冗余分组；所述地址解析器，其将所述存储访问控制器的访问请求分发到存储器逻辑分组；所述交织器，其将对存储器逻辑分组的访问请求映射到存储器物理分组；所述静态存储器测试器，其对所述片内存储器进行周期性测试；所述片内存储器，其用于数据的存储和读取。提高了片上存储器的故障诊断覆盖率，而且不牺牲系统的可用性和性能。

关键词：存储访问控制器片内存储器分组存储器逻辑地址解析器静态存储器片上存储器访问请求数据备份控制器测试器交织器在线故障诊断系统读取读写控制信号存储器物理读数据信号写数据信号周期性测试存储器可用性地址信号故障诊断内容备份冗余分组系统请求备份映射分发存储覆盖率转换

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SRAM时序测试电路及测试方法

SRAM时序测试电路及测试方法

引用

作者：陈根华徐柯王林 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼

本发明实施例提供一种SRAM时序测试电路及测试方法。其中，SRAM时序测试电路双端口SRAM存储单元和测试电路单元，测试电路单元包括第一模式切换电路，其两个输入端分别与两个读数据信号输出端连接，一个输入端接收到的数据信号的翻转的... 详细信息

标准号: CN111341376A

本发明实施例提供一种SRAM时序测试电路及测试方法。其中，SRAM时序测试电路双端口SRAM存储单元和测试电路单元，测试电路单元包括第一模式切换电路，其两个输入端分别与两个读数据信号输出端连接，一个输入端接收到的数据信号的翻转的时刻与另一个输入端接收到的数据信号的翻转的时刻不同；边沿信号触发电路的输入端与第一模式切换电路的输出端连接；第二模式切换电路的输入端与边沿信号触发电路的输出端连接，两个输出端分别与两个时钟信号输入端相连；第一模式切换电路还设置有第一使能端，第二模式切换电路具有第二使能端。从而利用双端口SRAM具有两个读数据信号输出端口的特点产生边沿触发信号，实现对Tcq的测量。

关键词：模式切换电路输入端输出端连接测试电路单元时序测试电路读数据信号双端口SRAM 边沿信号触发电路数据信号翻转使能时钟信号输入端边沿触发存储单元输出端口输出端测量测试

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SRAM时序测试电路及测试方法

SRAM时序测试电路及测试方法

引用

作者：陈根华徐柯王林 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼

标准号: CN111341376B

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一种基于APB总线和OPB总线的转换装置

一种基于APB总线和OPB总线的转换装置

引用

作者：兰光洋郑茳肖佐楠 300457 天津市滨海新区开发区第四大街80号天大科技园软件大厦北楼306室

本发明提供了一种基于APB总线和OPB总线的转换装置，包括:选中信号产生装置，通过接收来自APB总线上的地址，来判断是否产生输出给OPB总线上的片选信号；APB总线转换装置，用于将接收到的APB总线请求的地址信号、读/写控制信号、字节使... 详细信息

标准号: CN105512072B

本发明提供了一种基于APB总线和OPB总线的转换装置，包括:选中信号产生装置，通过接收来自APB总线上的地址，来判断是否产生输出给OPB总线上的片选信号；APB总线转换装置，用于将接收到的APB总线请求的地址信号、读/写控制信号、字节使能信号和写数据信号等转换为符合OPB总线协议的地址信号、读/写控制信号、字节使能信号和写数据信号；OPB总线转换装置，用于将接收到的OPB总线协议的响应、重发、错误和读数据信号转换为符合APB总线协议的应答信号和读数据信号。本发明可以将APB总线标准通过本发明提供的转换装置转换为OPB总线标准。这样就可以轻松的将一个OPB总线的IP集成到一个APB总线的系统中，增强的IP模块的复用性，加快了系统设计、集成的速度。

关键词：转换装置读/写控制信号读数据信号写数据信号地址信号使能信号转换产生装置片选信号系统设计选中信号应答信号复用性重发输出响应

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一种片上存储器在线故障诊断系统及方法

一种片上存储器在线故障诊断系统及方法

引用

作者：张力航仇雨菁 210000 江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦B座610室

标准号: CN111833961A

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SRAM时序测试电路、方法和存储器

SRAM时序测试电路、方法和存储器

引用

作者：徐柯王林陈根华 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼

本申请实施例提供一种SRAM时序测试电路、方法和存储器。SRAM时序测试电路包括第一模式切换电路和第二模式切换电路，在SRAM时序测试电路测量SRAM存储单元的数据读取时间时，利用SRAM存储单元的读数据信号输出端在连续输出“0”时产生... 详细信息

标准号: CN111312323A

本申请实施例提供一种SRAM时序测试电路、方法和存储器。SRAM时序测试电路包括第一模式切换电路和第二模式切换电路，在SRAM时序测试电路测量SRAM存储单元的数据读取时间时，利用SRAM存储单元的读数据信号输出端在连续输出“0”时产生的短时脉冲干扰现象，使读时钟信号输入端每隔一段时间就产生一个上升沿，从而使读数据信号输出端可以持续输出。SRAM存储单元和SRAM时序测试电路的组合可以产生稳定的可测量的振荡输出，SRAM时序测试电路可以单独产生稳定的可测量的振荡输出，从而根据两次振荡输出获得数据读取时间。

关键词：时序测试电路振荡输出模式切换电路读数据信号数据读取可测量输出端短时脉冲干扰读时钟信号存储器输出上升沿输入端测量申请

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SRAM时序测试电路、方法和存储器

SRAM时序测试电路、方法和存储器

引用

作者：徐柯王林陈根华 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼

标准号: CN111312323B

关键词：时序测试电路振荡输出模式切换电路读数据信号数据读取可测量输出端短时脉冲干扰读时钟信号存储器输出上升沿输入端测量申请

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SRAM时序测试电路、方法和存储器

SRAM时序测试电路、方法和存储器

引用

作者：徐柯王林陈根华 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼

本申请实施例提供一种SRAM时序测试电路、方法和存储器。其中，SRAM时序测试电路包括第一模式切换电路、测试模式选择电路和第二模式切换电路，在SRAM时序测试电路测量双端口SRAM存储单元的数据读取时间时，利用双端口SRAM存储单元的读... 详细信息

标准号: CN111383702A

本申请实施例提供一种SRAM时序测试电路、方法和存储器。其中，SRAM时序测试电路包括第一模式切换电路、测试模式选择电路和第二模式切换电路，在SRAM时序测试电路测量双端口SRAM存储单元的数据读取时间时，利用双端口SRAM存储单元的读数据信号输出端在连续输出“0”时产生的短时脉冲干扰现象，使读时钟信号输入端每隔一段时间就产生一个上升沿，从而使读数据信号输出端可以持续输出，这样，双端口SRAM存储单元和SRAM时序测试电路的组合可以产生稳定的可测量的振荡输出，并且，SRAM时序测试电路可以单独产生稳定的可测量的振荡输出，从而根据两次振荡输出获得数据读取时间。

关键词：时序测试电路双端口SRAM 存储单元振荡输出模式切换电路读数据信号数据读取可测量输出端测试模式选择短时脉冲干扰读时钟信号存储器输出上升沿输入端电路测量申请

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APB总线到DCR总线之间的总线桥实现方法

APB总线到DCR总线之间的总线桥实现方法

引用

作者：王勇郑茳肖佐楠 300457 天津市滨海新区开发区第四大街80号天大科技园软件大厦北楼306室

本发明提供了一种APB总线到DCR总线之间的总线桥实现方法，包含如下内容：将接收的APB总线请求的地址信号，控制信号和数据信号转换为符合DCR总线协议的地址信号，控制信号和写数据信号；将接收的符合DCR总线协议的应答信号和读数据信... 详细信息

标准号: CN105955909B

本发明提供了一种APB总线到DCR总线之间的总线桥实现方法，包含如下内容：将接收的APB总线请求的地址信号，控制信号和数据信号转换为符合DCR总线协议的地址信号，控制信号和写数据信号；将接收的符合DCR总线协议的应答信号和读数据信号转换为符合APB总线协议的应答信号和读数据信号；且正向数据通路和反向数据通路逻辑都需要有APB时钟、复位信号和DCR时钟、复位信号参与。本发明将APB总线标准通过该总线桥映射为DCR总线标准。特别地，当APB总线时钟和DCR总线时钟为异步关系时，该总线桥可以作为一个IP连接APB总线和DCR总线，将符合APB总线协议的读写请求转换为符合DCR总线协议的读写请求。

关键词：总线协议总线桥读数据信号地址信号读写请求复位信号控制信号应答信号总线反向数据通路数据信号转换写数据信号数据通路异步关系总线标准总线时钟转换映射正向

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一种基于APB总线和OPB总线的转换装置

一种基于APB总线和OPB总线的转换装置

引用

作者：兰光洋郑茳肖佐楠 300457 天津市滨海新区开发区第四大街80号天大科技园软件大厦北楼306室

标准号: CN105512072A

关键词：转换装置读数据信号写控制信号写数据信号地址信号使能信号接收转换产生装置片选信号系统设计选中信号应答信号协议复用性一种重发符合请求输出判断响应产生加快增强

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