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  • 32 篇 专利

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  • 32 篇 电子文献
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机构

  • 8 篇 展讯通信有限公司
  • 7 篇 天津国芯科技有限...
  • 2 篇 合芯科技有限公司
  • 2 篇 南京芯驰半导体科...
  • 2 篇 西安紫光国芯半导...
  • 2 篇 海光信息技术股份...
  • 2 篇 中芯国际集成电路...
  • 2 篇 珠海妙存科技有限...
  • 2 篇 山东华翼微电子技...
  • 2 篇 北京市合芯数字科...
  • 1 篇 三星电子株式会社
  • 1 篇 郑州云海信息技术...
  • 1 篇 长鑫存储技术有限...

作者

  • 7 篇 郑茳
  • 7 篇 肖佐楠
  • 6 篇 王林
  • 6 篇 徐柯
  • 6 篇 陈根华
  • 4 篇 兰光洋
  • 2 篇 李向宏
  • 2 篇 刘斌
  • 2 篇 张力航
  • 2 篇 刘金陈
  • 2 篇 顾昌山
  • 2 篇 孙燃
  • 2 篇 陈双文
  • 2 篇 姚其爽
  • 2 篇 徐灿
  • 2 篇 马亚奇
  • 2 篇 姬茹茹
  • 2 篇 王勇
  • 2 篇 曾为民
  • 2 篇 方伟

语言

  • 32 篇 中文
检索条件"主题词=读数据信号"
32 条 记 录,以下是11-20 订阅
排序:
一种片上存储器在线故障诊断系统及方法
一种片上存储器在线故障诊断系统及方法
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作者: 张力航 仇雨菁 210000 江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦B座610室
一种片上存储器在线故障诊断系统,包括,存储访问控制器、数据备份控制器、地址解析器、交织器、静态存储器测试器,以及片内存储器,其中,所述存储访问控制器,其将接收的系统请求转换为所需的地址信号、写数据信号、读写控制信号以... 详细信息
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SRAM时序测试电路及测试方法
SRAM时序测试电路及测试方法
收藏 引用
作者: 陈根华 徐柯 王林 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
本发明实施例提供一种SRAM时序测试电路及测试方法。其中,SRAM时序测试电路双端口SRAM存储单元和测试电路单元,测试电路单元包括第一模式切换电路,其两个输入端分别与两个读数据信号输出端连接,一个输入端接收到的数据信号的翻转的... 详细信息
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SRAM时序测试电路及测试方法
SRAM时序测试电路及测试方法
收藏 引用
作者: 陈根华 徐柯 王林 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
本发明实施例提供一种SRAM时序测试电路及测试方法。其中,SRAM时序测试电路双端口SRAM存储单元和测试电路单元,测试电路单元包括第一模式切换电路,其两个输入端分别与两个读数据信号输出端连接,一个输入端接收到的数据信号的翻转的... 详细信息
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一种基于APB总线和OPB总线的转换装置
一种基于APB总线和OPB总线的转换装置
收藏 引用
作者: 兰光洋 郑茳 肖佐楠 300457 天津市滨海新区开发区第四大街80号天大科技园软件大厦北楼306室
本发明提供了一种基于APB总线和OPB总线的转换装置,包括:选中信号产生装置,通过接收来自APB总线上的地址,来判断是否产生输出给OPB总线上的片选信号;APB总线转换装置,用于将接收到的APB总线请求的地址信号、读/写控制信号、字节使... 详细信息
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一种片上存储器在线故障诊断系统及方法
一种片上存储器在线故障诊断系统及方法
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作者: 张力航 仇雨菁 210000 江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦B座610室
一种片上存储器在线故障诊断系统,包括,存储访问控制器、数据备份控制器、地址解析器、交织器、静态存储器测试器,以及片内存储器,其中,所述存储访问控制器,其将接收的系统请求转换为所需的地址信号、写数据信号、读写控制信号以... 详细信息
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SRAM时序测试电路、方法和存储器
SRAM时序测试电路、方法和存储器
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作者: 徐柯 王林 陈根华 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
本申请实施例提供一种SRAM时序测试电路、方法和存储器。SRAM时序测试电路包括第一模式切换电路和第二模式切换电路,在SRAM时序测试电路测量SRAM存储单元的数据读取时间时,利用SRAM存储单元的读数据信号输出端在连续输出“0”时产生... 详细信息
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SRAM时序测试电路、方法和存储器
SRAM时序测试电路、方法和存储器
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作者: 徐柯 王林 陈根华 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
本申请实施例提供一种SRAM时序测试电路、方法和存储器。SRAM时序测试电路包括第一模式切换电路和第二模式切换电路,在SRAM时序测试电路测量SRAM存储单元的数据读取时间时,利用SRAM存储单元的读数据信号输出端在连续输出“0”时产生... 详细信息
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SRAM时序测试电路、方法和存储器
SRAM时序测试电路、方法和存储器
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作者: 徐柯 王林 陈根华 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
本申请实施例提供一种SRAM时序测试电路、方法和存储器。其中,SRAM时序测试电路包括第一模式切换电路、测试模式选择电路和第二模式切换电路,在SRAM时序测试电路测量双端口SRAM存储单元的数据读取时间时,利用双端口SRAM存储单元的读... 详细信息
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APB总线到DCR总线之间的总线桥实现方法
APB总线到DCR总线之间的总线桥实现方法
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作者: 王勇 郑茳 肖佐楠 300457 天津市滨海新区开发区第四大街80号天大科技园软件大厦北楼306室
本发明提供了一种APB总线到DCR总线之间的总线桥实现方法,包含如下内容:将接收的APB总线请求的地址信号,控制信号数据信号转换为符合DCR总线协议的地址信号,控制信号和写数据信号;将接收的符合DCR总线协议的应答信号读数据信... 详细信息
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一种基于APB总线和OPB总线的转换装置
一种基于APB总线和OPB总线的转换装置
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作者: 兰光洋 郑茳 肖佐楠 300457 天津市滨海新区开发区第四大街80号天大科技园软件大厦北楼306室
本发明提供了一种基于APB总线和OPB总线的转换装置,包括:选中信号产生装置,通过接收来自APB总线上的地址,来判断是否产生输出给OPB总线上的片选信号;APB总线转换装置,用于将接收到的APB总线请求的地址信号、读/写控制信号、字节使... 详细信息
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