检索结果-内蒙古大学图书馆

本申请涉及智能驾驶领域，公开了一种基于语义轮廓的车辆定位方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取车辆的初始先验位姿和地面先验信息，采集目标道路图像，目标道路图像中包括至少一条车道标记；提取目标道路图像中每条车道标记的语义轮廓图像，并根据地面先验信息计算每张语义轮廓图像的初始特征深度信息；构建目标优化函数，并基于目标优化函数优化每张语义轮廓图像的初始特征深度信息和车辆的初始先验位姿；基于优化后得到的每张语义轮廓图像的目标特征深度信息和车辆的目标先验位姿构建SLAM地图以确定车辆的位置。本发明通过车道标记轮廓计算深度信息从而定位车辆，进而解决因车道场景退化而失去场景细节导致定位不准确的问题。

关键词：语义轮廓图像深度信息先验车道标记位姿目标优化函数目标道路先验信息构建图像采集目标场景细节车辆定位存储介质道路图像定位车辆轮廓计算目标特征智能驾驶优化车道退化场景申请

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半导体器件的测量方法、装置及存储介质

半导体器件的测量方法、装置及存储介质

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作者：郑文凯陈金星陈广甸汪严莉 430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号

本发明涉及一种半导体器件的测量方法、装置及存储介质，半导体器件具有半导体结构，半导体结构中形成有多个开孔，且半导体结构包括衬底，多个开孔在垂直于衬底的方向上延伸，半导体器件的测量方法包括：利用扫描电镜对暴露于半导体结... 详细信息

标准号: CN114322865B

本发明涉及一种半导体器件的测量方法、装置及存储介质，半导体器件具有半导体结构，半导体结构中形成有多个开孔，且半导体结构包括衬底，多个开孔在垂直于衬底的方向上延伸，半导体器件的测量方法包括：利用扫描电镜对暴露于半导体结构表面的多个开孔进行扫描，得到平面多孔图；将平面多孔图与预设多孔排布图案相比较，以从平面多孔图中比对出至少一个目标开孔以及每一目标开孔所在的目标单孔区域；提取每一目标单孔区域中目标开孔的轮廓；根据各轮廓计算出各相对应目标开孔的尺寸，从而在测量三维存储器的沟道孔尺寸的过程中，能够避免扫描电镜图像中不同沟道孔所在的单孔图像区域在各灰阶值上的像素分布差异大而导致测量结果准确度低的问题。

关键词：开孔半导体结构半导体器件单孔测量衬底沟道半导体结构表面扫描电镜图像三维存储器存储介质轮廓计算扫描电镜图像区域像素分布准确度比对灰阶排布预设垂直扫描图案暴露延伸

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激光清洗轨迹生成方法、装置、设备及存储介质

激光清洗轨迹生成方法、装置、设备及存储介质

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作者：陈明明田希文高磊 518034 广东省深圳市福田区华强北街道福强社区振华路中电迪富大厦7层703

本发明涉及激光清洗技术领域，公开了一种激光清洗轨迹生成方法、装置、设备及存储介质。该方法通过获取待扫描工件的有序点云，根据所述有序点云生成四角网格，对所述四角网格进行平面分割，获得待扫描工件网格，通过将有序点云处理为... 详细信息

标准号: CN115359068A

本发明涉及激光清洗技术领域，公开了一种激光清洗轨迹生成方法、装置、设备及存储介质。该方法通过获取待扫描工件的有序点云，根据所述有序点云生成四角网格，对所述四角网格进行平面分割，获得待扫描工件网格，通过将有序点云处理为四角网格，算法运算速度快，能够方便快捷地实现工件的三维立体信息表达，实现了更强大的感知识别效果；提取所述待扫描工件网格的四角网格轮廓，根据所述四角网格轮廓计算最小有向包围盒，从而能够准确识别任意形状物体的位姿，鲁棒性高，计算量小，识别效率高；根据所述最小有向包围盒生成扫描轨迹，准确性高，实现自动化操作，效率高，减少劳动力和污染。

关键词：网格扫描工件点云激光清洗包围盒有向三维立体信息自动化操作存储介质轨迹生成轮廓计算平面分割扫描轨迹算法运算形状物体计算量鲁棒性位姿感知污染

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一种条形码图像角度校正方法和装置

一种条形码图像角度校正方法和装置

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作者：岑仕杰何元烈 510060 广东省广州市越秀区东风东路729号大院

本申请公开了一种条形码图像角度校正方法和装置，对获取的待校正条形码图像进行灰度化和二值化处理，得到第一二值图像；基于轮廓检索算法对第一二值图像中的白色前景区域进行轮廓检索，得到第一轮廓；将面积小于预置阈值的白色前景区... 详细信息

标准号: CN111311497B

本申请公开了一种条形码图像角度校正方法和装置，对获取的待校正条形码图像进行灰度化和二值化处理，得到第一二值图像；基于轮廓检索算法对第一二值图像中的白色前景区域进行轮廓检索，得到第一轮廓；将面积小于预置阈值的白色前景区域进行黑色填充后，再次进行轮廓检索，得到第二轮廓；基于第二轮廓计算白色前景区域的第二轮廓的中心；基于霍夫变换对得到的中心点进行直线拟合，输出夹角；基于夹角计算得到校正角度，进而对待校正条形码图像进行旋转，得到校正后的条形码图像，解决了现有的条形码校正方法只能对一维条形码进行小角度校正，在条形码角度倾斜较严重的情况下校正的效果较差，使得条形码识别结果较差的技术问题。

关键词：校正条形码图像前景区域二值图像角度校正条形码检索二值化处理方法和装置条形码识别一维条形码黑色填充霍夫变换夹角计算检索算法角度倾斜轮廓计算直线拟合灰度化中心点预置输出申请

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一种无人机辅助降落方法及其系统

一种无人机辅助降落方法及其系统

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作者：严旭刘述超王陈 610041 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天府五街200号3号楼A区8层801-805室

本发明公开了一种无人机辅助降落方法及其系统，包括：获取双目摄像单元采集的无人机下方的双目图像；对所述双目图像进行视差计算并生成视差图；基于所述视差图进行前景点分割、图像开合处理和轮廓计算生成障碍物的真实面积和边界框；... 详细信息

标准号: CN112906479A

本发明公开了一种无人机辅助降落方法及其系统，包括：获取双目摄像单元采集的无人机下方的双目图像；对所述双目图像进行视差计算并生成视差图；基于所述视差图进行前景点分割、图像开合处理和轮廓计算生成障碍物的真实面积和边界框；基于所述边界框生成用于控制飞机移动的控制信号。本发明通过将双目立体匹配算法与图像形态学开合处理及轮廓算法相结合，获取障碍物的真实面积及边界框，从而根据边界框计算无人机需移动的距离及方向，实现了对无人机下方障碍物进行快速检测并计算避障方向和距离，能够在无人机紧急迫降时协助其安全、平稳地降落，解决了传统的无人机迫降方法具有的降落位置不理想、安全性低的问题。

关键词：边界框障碍物双目图像视差图迫降开合算法双目距离及方向图像形态学降落降落位置控制信号快速检测立体匹配轮廓计算摄像单元视差计算传统的面积和前景点移动避障采集图像分割飞机安全

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一种电池极片毛刺高度检测方法及装置

一种电池极片毛刺高度检测方法及装置

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作者：卢志江李伟豪程学峰王晓城王建生万群 519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇软件园路1号生产加工中心5#二层2单元、4-8单元

本发明公开了一种电池极片毛刺高度检测装置，装置包括：设置于电池极片一侧的正面光源、设置于电池极片另一侧的背面光源、与正面光源处于同一侧的工业相机镜头；该装置包括水平方向的光学方案和垂直方向的光学方案；同时提出了一种电... 详细信息

标准号: CN113513991B

本发明公开了一种电池极片毛刺高度检测装置，装置包括：设置于电池极片一侧的正面光源、设置于电池极片另一侧的背面光源、与正面光源处于同一侧的工业相机镜头；该装置包括水平方向的光学方案和垂直方向的光学方案；同时提出了一种电池极片毛刺高度检测方法，此方法首先将电池极片图像进行预处理提取电池轮廓，根据电池极片轮廓求得电池极片方向，再通过对电池极片方向处理得到电池极片平整轮廓，最后通过电池极片平整轮廓计算出基准线，最终实现对电池极片上的毛刺进行提取，本方法将极片角度和形态学处理的方法相结合来计算基准线，提高了毛刺的测量精度。

关键词：电池极片毛刺正面光源基准线平整高度检测装置预处理形态学处理高度检测工业相机轮廓计算极片光源背面测量电池图像镜头

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一种陶瓷催化剂载体缺陷检测方法、装置及设备

一种陶瓷催化剂载体缺陷检测方法、装置及设备

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作者：李红兵丁豪秦可勇高晖张浩 214135 江苏省无锡市新吴区菱湖大道111号软件园三期飞鱼座D栋601

本发明实施例公开了一种陶瓷催化剂载体缺陷检测方法、装置及设备。该检测方法包括：通过利用机器视觉获取载体端面图像，基于载体端面图像确定目标载体图像，并确定目标载体图像的轮廓，并基于所述目标载体图像的轮廓计算所述目标载体... 详细信息

标准号: CN113008897B

本发明实施例公开了一种陶瓷催化剂载体缺陷检测方法、装置及设备。该检测方法包括：通过利用机器视觉获取载体端面图像，基于载体端面图像确定目标载体图像，并确定目标载体图像的轮廓，并基于所述目标载体图像的轮廓计算所述目标载体的网孔边长；然后根据目标载体的网孔边长，建立目标载体的单个网孔的连通域类型的判断模型，并根据单个网孔的连通域类型的判断模型判断目标载体中每个网孔的连通域类型，并将判断结果生成映射表；最后根据映射表，分别判断封闭型连通域的网孔和非封闭型连通域的网孔的缺陷类型，实现了陶瓷催化剂载体缺陷的自动化检测，提高检测效率和稳定性，降低人工成本，有利于提高陶瓷催化剂载体的生产效率以及产品质量。

关键词：目标载体网孔连通域陶瓷催化剂载体图像载体端面映射表边长检测装置及设备非封闭型机器视觉轮廓计算模型判断判断结果缺陷检测缺陷类型人工成本生产效率图像确定封闭型自动化

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一种3D工位高精度缺陷检测方法、装置、设备及介质

一种3D工位高精度缺陷检测方法、装置、设备及介质

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作者：黄旭东陈炳煌刘庆洋吴仁相 361000 福建省厦门市厦门火炬高新区创业园轩业楼3104室

本发明公开了一种3D工位高精度缺陷检测方法、装置、设备及介质，涉及缺陷检测技术领域。所述方法包括：在产品传送方向上通过在多个工位设置的线阵相机分别获取多个角度的产品图像；通过AI检测算法对多个角度的产品图像进行识别，得到... 详细信息

标准号: CN117092107A

本发明公开了一种3D工位高精度缺陷检测方法、装置、设备及介质，涉及缺陷检测技术领域。所述方法包括：在产品传送方向上通过在多个工位设置的线阵相机分别获取多个角度的产品图像；通过AI检测算法对多个角度的产品图像进行识别，得到初始缺陷信息和精确轮廓；根据精确轮廓计算得到每个产品位置ROI，然后将每个产品各个工位的初始缺陷信息及精确轮廓进行统一关联，得到S集合；根据S集合中每个产品各个工位的初始缺陷信息综合判断是NG还是OK；根据精确轮廓使用高精度分割检测算法对判断结果为NG的产品进行缺陷检测，得到精确缺陷信息。本发明可实现3D拍摄密集多零件的产品，达到高精度、高速度的检测效果，提高生产效率和产品品质。

关键词：缺陷信息工位产品图像缺陷检测集合缺陷检测技术产品传送产品品质产品位置分割检测工位设置检测算法轮廓计算判断结果生产效率线阵相机综合判断多零件算法关联检测统一

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半导体器件的测量方法、装置及存储介质

半导体器件的测量方法、装置及存储介质

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作者：郑文凯陈金星陈广甸汪严莉 430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号

本发明涉及一种半导体器件的测量方法、装置及存储介质，半导体器件具有半导体结构，半导体结构中形成有多个开孔，该多个开孔在第一横向上呈多行排布，半导体器件的测量方法包括：利用扫描电镜对暴露于半导体结构表面的多个开孔进行扫... 详细信息

标准号: CN114295080A

本发明涉及一种半导体器件的测量方法、装置及存储介质，半导体器件具有半导体结构，半导体结构中形成有多个开孔，该多个开孔在第一横向上呈多行排布，半导体器件的测量方法包括：利用扫描电镜对暴露于半导体结构表面的多个开孔进行扫描，得到平面多孔图；读取平面多孔图的灰阶数据，灰阶数据包括平面多孔图中各个像素点的灰阶值；根据灰阶数据，从平面多孔图中确定每行开孔所在的行多孔区域；确定行多孔区域中各个开孔的轮廓；根据各轮廓计算出各相对应开孔的尺寸，从而在测量三维存储器的沟道孔尺寸的过程中，能够避免扫描电镜图像中不同行沟道孔所在的图像区域在各灰阶值上的像素分布差异大而导致测量结果准确度低的问题。

关键词：开孔半导体器件灰阶数据半导体结构多孔区域测量沟道灰阶半导体结构表面扫描电镜图像读取三维存储器存储介质多行排布轮廓计算扫描电镜图像区域像素分布准确度像素点扫描暴露同行

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