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文字说明：

T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

分类表

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限定检索结果

文献类型

18 篇 专利

馆藏范围

18 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

3 篇 鸿海精密工业股份...
2 篇 苏州浪潮智能科技...
2 篇 经登企业股份有限...
2 篇 中芯国际集成电路...
2 篇 致茂电子有限公司
2 篇 鸿富锦精密工业有...
2 篇 赛恩倍吉科技顾问...
1 篇 技嘉科技股份有限...
1 篇 富泰华工业有限公...
1 篇 长江大学
1 篇 逢甲大学
1 篇 罗普特科技集团有...
1 篇 广州粤芯半导体技...

作者

4 篇 吴新元
4 篇 张旨光
2 篇 邓贵红
2 篇 包巧霞
2 篇 陈兆麟
2 篇 余志贤
2 篇 刘利伟
2 篇 真绪明伦
2 篇 张志伟
2 篇 王永杰
2 篇 王敏
2 篇 饶方翔
2 篇 李明嘉
1 篇 黄顺治
1 篇 张滋
1 篇 赵鹏
1 篇 刘冠良
1 篇 操明山
1 篇 吴彦儒
1 篇 吕景豫

语言

18 篇 中文

检索条件"主题词=量测程序"

共 18 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

三次元量测程序编辑系统及方法

三次元量测程序编辑系统及方法

引用

作者：张旨光吴新元王敏汤涛 518109 广东省深圳市龙华新区龙观东路83号荣群大厦11楼

一种三次元量测程序编辑方法，该方法包括：导入量测程序的模板文件和三次元量测元素文件；根据模板文件中的内容格式，定义该三次元量测元素文件的内容格式；根据模板文件中每一行的关键词对三次元量测元素文件中的数据进行限定定义；... 详细信息

标准号: CN102646050B

一种三次元量测程序编辑方法，该方法包括：导入量测程序的模板文件和三次元量测元素文件；根据模板文件中的内容格式，定义该三次元量测元素文件的内容格式；根据模板文件中每一行的关键词对三次元量测元素文件中的数据进行限定定义；读取模板文件中每行的关键词及行中的数据内容，用三次元量测元素文件中的数据替换该模板文件中的关键词和数据内容，得到记录有量测程序的量测元素文件；及输出量测程序。本发明还提供一种三次元量测程序编辑系统。利用本发明可自动编辑量测程序。

关键词：量测元素模板文件三次元三次元量测程序量测程序内容格式数据内容一种读取编辑方法编辑系统关键词对数据替换自动编辑导入量输出量限定记录进行

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影像量测点自动设置及量测程序自动生成系统及方法

影像量测点自动设置及量测程序自动生成系统及方法

引用

作者：张旨光吴新元饶金刚 518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

一种影像量测点自动设置及量测程序自动生成方法，包括：接收产品的二维CAD文档，将其解析为文本格式，根据其中的关键词，得到每个图形元素的基本信息及尺寸对象；得到每个尺寸对象中的尺寸信息，将其放入一个尺寸信息队列中；根据每... 详细信息

标准号: CN102607409B

一种影像量测点自动设置及量测程序自动生成方法，包括：接收产品的二维CAD文档，将其解析为文本格式，根据其中的关键词，得到每个图形元素的基本信息及尺寸对象；得到每个尺寸对象中的尺寸信息，将其放入一个尺寸信息队列中；根据每个尺寸信息的指引点，查找每个尺寸信息所属的图形元素，将其放入一个图形元素队列中；根据各图形元素的基本信息以及用户设定的取点个数，对每个图形元素进行取点划分，得到每个图形元素的量测点；及根据每个图形元素的基本信息及其量测点，自动生成该每个图形元素的量测程序段。本发明还提供一种相关的系统。本发明在能够二维影像离线量测过程中自动设置量测点，并根据该量测点自动生成量测程序。

关键词：图形元素尺寸信息量测点基本信息量测程序自动设置自动生成放入取点一种队列自动生成方法二维影像文本格式影像量测用户设定二维CAD 离线量测文档解析查找划分接收指引进行

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多层薄膜界面应力与残留应力的量测方法及装置

多层薄膜界面应力与残留应力的量测方法及装置

引用

作者：田春林中国台湾台中市西屯区文华路100号

本发明主要揭示一种多层薄膜界面应力与残留应力量测方法及装置，其中，所述装置为一太曼格林干涉仪，且操作所述太曼格林干涉仪完成一量测程序即可自一具多层薄膜结构的光电元件量测出一多层薄膜的残留应力。所述量测程序包括：(1)量... 详细信息

标准号: CN115235665A

本发明主要揭示一种多层薄膜界面应力与残留应力量测方法及装置，其中，所述装置为一太曼格林干涉仪，且操作所述太曼格林干涉仪完成一量测程序即可自一具多层薄膜结构的光电元件量测出一多层薄膜的残留应力。所述量测程序包括：(1)量测所述光电元件的各层薄膜的残留应力；(2)依据上述步骤(1)所测得的各层薄膜的残留应力计算出二种界面应力，其中任二层薄膜之间是存在着前述的任一种界面应力；(3)使用Ennos数学运算式进而依据各层薄膜的膜厚及残留应力计算出一第一数值；(4)依据所述多层薄膜结构的薄膜层数、各层薄膜的膜厚以及二种界面应力(FHL,FLH)计算出一第二数值；以及(5)对所述第一数值和所述第二数值执行一加法运算以获得一多层薄膜的残留应力。

关键词：薄膜残留界面应力多层薄膜多层薄膜结构光电元件量测程序应力计算干涉仪格林膜厚数学运算式加法运算薄膜层二层量测力量

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量测编程坐标系刷新系统及方法

量测编程坐标系刷新系统及方法

引用

作者：张旨光吴新元 518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

一种量测编程坐标系刷新方法，该方法包括：导入需要建立坐标系的量测元素数组；按照该量测元素数组需要建立的多个坐标系的操作步骤对坐标系进行分类，按类别分别建立相应的坐标系模板；在需要建立坐标系的量测元素前，按照坐标系的操... 详细信息

标准号: CN102810058B

一种量测编程坐标系刷新方法，该方法包括：导入需要建立坐标系的量测元素数组；按照该量测元素数组需要建立的多个坐标系的操作步骤对坐标系进行分类，按类别分别建立相应的坐标系模板；在需要建立坐标系的量测元素前，按照坐标系的操作步骤导入相应的坐标系模板；根据坐标系模板中的内容及该坐标系模板前的量测元素建立坐标系，并计算各坐标系的坐标矩阵；刷新各坐标系后的量测元素以刷新量测程序；及输出各量测元素的坐标及刷新后的量测程序。本发明还提供一种量测编程坐标系刷新系统。利用本发明可通过坐标系模板建立坐标系。

关键词：量测元素建立坐标系编程坐标系刷新量测程序导入量测数组一种分别建立模板建立刷新方法刷新系统坐标矩阵需要输出分类计算建立进行

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模式切换方法及传感装置

模式切换方法及传感装置

引用

作者：陈兆麟真绪明伦中国台湾新北市

一种模式切换方法，由传感装置实施。传感装置包含输入单元、存储多个偏好参数的存储单元及处理单元。处理单元能切换于量测模式及多个偏好设定模式之间，并于量测模式至少根据偏好参数进行量测程序，以及于每一偏好设定模式根据输入单... 详细信息

标准号: CN109582383A

一种模式切换方法，由传感装置实施。传感装置包含输入单元、存储多个偏好参数的存储单元及处理单元。处理单元能切换于量测模式及多个偏好设定模式之间，并于量测模式至少根据偏好参数进行量测程序，以及于每一偏好设定模式根据输入单元所受的操作对偏好设定模式所对应的偏好参数进行设定。模式切换方法包含：(A)当处理单元于量测模式接收到指示出偏好设定模式中的目标偏好设定模式的第一输入指令组时，将对应目标偏好设定模式的记录数据存储至存储单元并切换至目标偏好设定模式；(B)当处理单元处于量测模式且接收到读取指令时，读取存储于存储单元的记录数据以切换至目标偏好设定模式。使用者能更快速且方便地对偏好参数再次进行调整。

关键词：处理单元量测模式目标偏好偏好参数存储单元偏好设定存储传感装置记录数据模式切换输入单元读取读取指令量测程序输入指令

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特殊图样自动化辨识之检测系统及其方法

特殊图样自动化辨识之检测系统及其方法

引用

作者：黄顺治吕景豫吴彦儒中国台湾新北市新店区宝强路6号

本发明涉及一种可用于电子产品维修检测时之检测系统及其方法，其主要系在一待测产品之部分待测电子组件邻侧固设有一特殊图样，而当有待测产品欲被检测时，检测系统之移动装置受控于一控制装置而移动至待测产品适当位置，并藉由移动装... 详细信息

标准号: CN104198833B

本发明涉及一种可用于电子产品维修检测时之检测系统及其方法，其主要系在一待测产品之部分待测电子组件邻侧固设有一特殊图样，而当有待测产品欲被检测时，检测系统之移动装置受控于一控制装置而移动至待测产品适当位置，并藉由移动装置上一影像撷取模块以取得某一待测电子组件之特殊图样，一分析装置则可经由所撷取之特殊图样数据而从数据库中找到与该待测电子组件有关之电子组件数据，而移动装置上之一量测模块即可根据所找出相对应之电子组件数据而进行待测电子组件之量测程序，并依序取得一量测值及一比较值，因而达成自动化检测与维修数据系统化，并有助于不良问题分析的目的。

关键词：电子组件移动装置待测产品检测系统图样检测电子产品维修影像撷取模块不良问题分析装置控制装置量测程序量测模块适当位置图样数据维修数据系统化可用量测邻侧受控撷取数据库自动化移动分析

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一种自动化量测主板上电时序方法与系统

一种自动化量测主板上电时序方法与系统

引用

作者：饶方翔 215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

本发明提供了一种自动化量测主板上电时序方法与系统，本发明通过在CPLD FW中烧录自动化量测程序，搭配自动量测程序的示波器，在上电后，示波器的测量时间配合CPLD FW上电和断电的测量时间，以正确取得波形，CPLD设置计数器，通过计数... 详细信息

标准号: CN111198319B

本发明提供了一种自动化量测主板上电时序方法与系统，本发明通过在CPLD FW中烧录自动化量测程序，搭配自动量测程序的示波器，在上电后，示波器的测量时间配合CPLD FW上电和断电的测量时间，以正确取得波形，CPLD设置计数器，通过计数器值的变化去改变GPIO输出端信号，从而可在硬件研发阶段快速得知上电顺序，大幅减少时间在测量信号上面，让EE有更充裕的时间专注研发以及除错。

关键词：上电计数器示波器研发自动化测量主板上电时序输出端信号测量信号量测程序时间配合自动量测除错量测烧录断电搭配

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光刻工艺的对准方法及其适用的光罩

光刻工艺的对准方法及其适用的光罩

引用

作者：段成明赵鹏刘冠良 510000 广东省广州市黄埔区凤凰五路28号

本发明提供了一种光刻工艺的对准方法及其适用的光罩。在本发明提供的光刻工艺的对准方法中，通过在晶圆的刻蚀工艺中的当前光罩的切割道版图上形成至少一独立于其已存在的第一对准标记的第二对准标记，然后，光刻机台在对光罩和晶圆进... 详细信息

标准号: CN114200770A

本发明提供了一种光刻工艺的对准方法及其适用的光罩。在本发明提供的光刻工艺的对准方法中，通过在晶圆的刻蚀工艺中的当前光罩的切割道版图上形成至少一独立于其已存在的第一对准标记的第二对准标记，然后，光刻机台在对光罩和晶圆进行套刻精度测量时，利用不受辅助图形干扰的第二对准标记为对准标记，从而可以避免现有技术中利用附近形成有辅助图形的第一对准标记作为对准标记，而导致的在晶圆的后续多次刻蚀工艺中，由于晶圆上形成的第一对准标记的图形不清楚，造成的对准量测程序对准失效、对准测量程序人工检测工作量大以及刻蚀工艺的工作效率低的问题。

关键词：对准标记晶圆刻蚀工艺对准辅助图形光刻工艺光罩套刻精度测量机台对准测量工作效率量测程序人工检测切割道光刻工作量

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轮廓线自动量测系统及方法

轮廓线自动量测系统及方法

引用

作者：易远元 434023 湖北省荆州市南湖路1号

一种轮廓线自动量测系统及方法，该方法包括步骤：获取待测物体的轮廓线及组成该轮廓线的轮廓点；进行轮廓点取样，获取取样点及其对应的方向向量；根据每个取样点的方向向量将获取的取样点偏移第一预定距离得到对应的理论点，并生成一... 详细信息

标准号: CN103673962B

一种轮廓线自动量测系统及方法，该方法包括步骤：获取待测物体的轮廓线及组成该轮廓线的轮廓点；进行轮廓点取样，获取取样点及其对应的方向向量；根据每个取样点的方向向量将获取的取样点偏移第一预定距离得到对应的理论点，并生成一个量测程序；根据该量测程序对待测物体进行测量得到量测点坐标，计算量测点与对应理论点的距离得到各量测点的偏差值，根据最大偏差值与最小偏差值得到轮廓度；画出理论线与上下公差线，连接各个量测点与对应的理论点，标出各量测点的偏差值。利用本发明可以自动量测待测物体的轮廓线。

关键词：量测点轮廓线取样点待测物体方向向量量测程序轮廓点自动量测系统预定距离自动量测最大偏差最小偏差公差线计算量理论线轮廓度偏移测点取样测量

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影像离线编程系统及方法

影像离线编程系统及方法

引用

作者：陈延行 361008 福建省厦门市软件园三期诚毅大街366号0006单元

一种影像离线编程方法，包括：将导入的碰撞点拟合成至少一个量测元素，并输出所拟合的各量测元素对应的拟合值到一个匹配数据列表中，该匹配数据列表内还存有所述量测元素的量测元素类型和量测元素信息；将小于预设公差值的拟合值对应... 详细信息

标准号: CN102650941B

一种影像离线编程方法，包括：将导入的碰撞点拟合成至少一个量测元素，并输出所拟合的各量测元素对应的拟合值到一个匹配数据列表中，该匹配数据列表内还存有所述量测元素的量测元素类型和量测元素信息；将小于预设公差值的拟合值对应的量测元素在匹配数据列表中的存储位置记录到一个匹配量测类型列表中；根据精匹配条件对各存储位置对应的量测元素类型进行精匹配，以获取一个最佳量测元素类型；及从匹配数据列表中获取该最佳量测元素类型对应的量测元素信息，并根据该最佳量测元素类型的量测元素信息及所述导入的碰撞点产生量测程序。本发明还提供一种影像离线编程系统。利用本发明可根据导入的碰撞点，自动汇出量测程序。

关键词：量测元素匹配数据量测元素信息碰撞点拟合量测程序影像存储位置记录离线编程系统存储位置离线编程匹配条件匹配量预设匹配合成输出

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