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  • 2 篇 王超
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  • 2 篇 武长龙

语言

  • 29 篇 中文
检索条件"主题词=随机数发生模块"
29 条 记 录,以下是1-10 订阅
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一种单原子荷电双稳态真随机数发生器、发生和制备方法
一种单原子荷电双稳态真随机数发生器、发生和制备方法
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作者: 潘毅 林煜楠 李宇昂 李雪妍 张一诺 710049 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
本发明公开了一种单原子荷电双稳态真随机数发生器、发生和制备方法。该随机数发生器利用半导体衬底(111)面量子隧穿结之间掺杂的稀土元素原子的荷电状态发生随机的改变导致的不同隧穿电导引起的二值随机隧穿电流作为真随机数来源。该... 详细信息
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一种高性能密码卡及配置方法
一种高性能密码卡及配置方法
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作者: 孙马秋 孙悦 武长龙 姜林剑 宋咏超 100085 北京市海淀区上地信息路2号(北京实创高科技发展总公司2-2号D栋1-8层)六层607A室
本申请涉及高性能密码卡及配置方法,密码卡包括密码算法芯片、随机数发生模块及物理通道,密码算法芯片包括处理器、内部存储单元和密码运算单元;密码运算单元包括寄存器、第一RAM以及密码算法模块,密码算法模块分别与寄存器及第一RA... 详细信息
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一种硬件真随机数发生器及发生方法
一种硬件真随机数发生器及发生方法
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作者: 黎铁军 张建民 吴利舟 马胜 杨博 傅思清 410073 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号
本发明公开了一种硬件真随机数发生器及发生方法,本发明硬件真随机数发生器包括两个用于产生随机比特的单个随机数发生模块,单个随机数发生模块包括磁隧道结、磁隧道结选位模块、写驱动器模块和读放大器模块;磁隧道结用于在电流作用... 详细信息
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一种基于量子随机数的智能锁控制方法和系统
一种基于量子随机数的智能锁控制方法和系统
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作者: 丁禹阳 李泽忠 230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路以东、观海路以北智能装备科技园E栋10层东02室
本申请公开一种基于量子随机数的智能锁控制方法和系统,智能锁内置量子随机数发生模块,产生主密钥和会话密钥,开锁请求、来访者信息和解锁信息在传输的过程中均采用会话密钥加密,每次解锁进程结束后智能锁更新会话密钥,会话密钥在... 详细信息
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一种高性能密码卡及配置方法
一种高性能密码卡及配置方法
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作者: 孙马秋 孙悦 武长龙 姜林剑 宋咏超 100085 北京市海淀区上地信息路2号(北京实创高科技发展总公司2-2号D栋1-8层)六层607A室
本申请涉及高性能密码卡及配置方法,密码卡包括密码算法芯片、随机数发生模块及物理通道,密码算法芯片包括处理器、内部存储单元和密码运算单元;密码运算单元包括寄存器、第一RAM以及密码算法模块,密码算法模块分别与寄存器及第一RA... 详细信息
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随机衰落混扰隐秘大气光信道密钥分发方法
随机衰落混扰隐秘大气光信道密钥分发方法
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作者: 陈纯毅 李琼 倪小龙 李延风 赵乌吉斯古楞 130022 吉林省长春市卫星路7089号
本发明公开一种随机衰落混扰隐秘大气光信道密钥分发方法。本方法先把端机A的随机数发生模块产生的随机数通过大气光信道分发到端机B,在此过程中利用大气随机光衰落混扰改变分发的原始随机数,然后通过阈值量化方式生成原始共享密钥的... 详细信息
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随机数发生器及产生真随机数的方法
真随机数发生器及产生真随机数的方法
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作者: 曹易 王超 任睿智 100193 北京市海淀区中关村软件园二期国际与区域协同创新中心A座
本发明公开了一种真随机数发生器及产生真随机数的方法。该真随机数发生器包括随机数发生模块,其包括:导电层,两端分别设有用于通入第一电流的第一电极和第二电极以及并列地设置在导电层上的多个磁隧道结,每个磁隧道结均包括:第一... 详细信息
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一种适用于零信任网络的密钥管理方法及系统
一种适用于零信任网络的密钥管理方法及系统
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作者: 查正朋 胡宝胜 王佳宁 盛承红 梅岩 袁秋谨 徐健 吴俊昌 操昕 张鑫 230000 安徽省合肥市桐城南路355号
本发明涉及信息安全技术领域,且公开了一种适用于零信任网络的密钥管理方法及系统,私钥生成时,通过随机数发生模块生成公私钥对,通过“三二门限”将私钥分割成第一份密钥分量、第二份密钥分量和第三份密钥分量,第一份密钥分量使用... 详细信息
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随机数发生装置及发生方法
真随机数发生装置及发生方法
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作者: 赵巍胜 王佑 朱道乾 王昭昊 100191 北京市海淀区学院路37号
本发明提供了一种真随机数发生装置及发生方法。所述发生装置包括控制模块随机数发生模块随机数读取模块;所述随机数发生模块包括自旋轨道矩层以及设于所述自旋轨道矩层上的多个磁隧道结;所述控制模块用于基于用户的随机数生成指... 详细信息
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老化电路、芯片老化测试方法及芯片
老化电路、芯片老化测试方法及芯片
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作者: 王辉 李建波 赵来钖 102209 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区中国电子网络安全和信息化产业基地C栋
本申请公开了一种老化电路、芯片老化测试方法及芯片。该老化电路包括:随机数发生模块,根据模式信号生成老化图形;以及扫描链模块,至少根据模式信号将老化图形发送至待测电路,其中,随机数发生模块在接收到有效状态的模式信号之后... 详细信息
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