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检索条件"主题词=An Improved Heuristic Algorithm for MCM Substrate Test"
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an improved heuristic algorithm for mcm substrate test
An Improved Heuristic Algorithm for MCM Substrate Test
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2006 8th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
作者： Gang Dong Ru-Qing Xu Wei-Wei Huang Yin-Tang Yang Key Laboratory of Ministry of Education for Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices Microelectronics InstituteXidian University
An improved heuristic algorithm for finding the optimal traversal route of a single probe to test mcm interconnects is presented in this *** algorithm is firstly used to get an initial result for the optimization prob... 详细信息
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