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检索条件"主题词=Auxiliary Testability Design Schemes for CMOS DACs with Ultrahigh Sampling Rates"
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auxiliary testability design schemes for cmos dacs with ultrahigh sampling rates  12
Auxiliary Testability Design Schemes for CMOS DACs with Ultr...
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2017 IEEE 12th International Conference on ASIC
作者： Bao Li Long Zhao Yu-Hua Cheng Shanghai Research Institute of Microelectronics Peking University School of Electronics Engineering and Computer Science Peking University IEEE
Current-steering cmos digital-to-analog converters(dacs) are widely used ultrahigh-speed ***,two main testability problems arise with sampling rates above tens of gigabits:the difficulty of generating input digital te... 详细信息
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