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作者

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  • 1 篇 cheng wt

语言

  • 1 篇 英文
检索条件"主题词=Back test-generation algorithm"
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GENtest - AN AUTOMATIC test-generation SYSTEM FOR SEQUENTIAL-CIRCUITS
收藏 引用
COMPUTER 1989年 第4期22卷 43-49页
作者: CHENG, WT CHAKRABORTY, TJ AT&T Bell Lab. Princeton NJ
A description is given of Gentest, with emphasis on STG2, a sequential test generator that uses the back test-generation algorithm and the Split value model. The performance of STG2 on a Convex C-1 computer is compare... 详细信息
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