检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：王群泽西安电子科技大学

学位级别：硕士

随着现场可编程门阵列（fpga）器件的应用越来越广泛,fpga的测试技术和测试方法也受到了越来越多的重视和研究。fpga的制造测试需要确保芯片在任何编程逻辑下都能可靠工作,因此需要设计多个测试配置和测试向量来保证测试的覆盖率。为了... 详细信息

随着现场可编程门阵列（fpga）器件的应用越来越广泛,fpga的测试技术和测试方法也受到了越来越多的重视和研究。fpga的制造测试需要确保芯片在任何编程逻辑下都能可靠工作,因此需要设计多个测试配置和测试向量来保证测试的覆盖率。为了满足fpga的制造测试对测试速度和自动化的要求,本文提出了一种改进的基于ATE （Automatic Test Equipment）的fpga测试系统。ATE可保证对测试速度和自动化的要求,而使用FLASH存储阵列来存储测试配置则解决了ATE自带存储空间有限且扩展成本高的问题,降低了测试成本。系统使用Xilinx USB下载线下载测试配置并通过RS-232C接口控制测试配置在FLASH存储阵列中的存放位置,实现多个配置文件的存储。在测试时,系统通过ATE控制测试配置的读取和配置待测器件。论文首先对系统设计要求进行了分析,给出了系统设计的工作流程和整体实现架构。然后,论文给出了测试板和以XC2S200为逻辑控制平台的配置板的硬件设计。最后,论文给出了控制逻辑的具体设计,并提出了上位机软件环境的搭建方法。测试表明,本系统对Virtex系列fpga的配置速度达到了95Mbit/s,且配置稳定,保证了测试速度;下载测试配置的速度为160Kbit/s,节省了测试准备时间。与传统的基于ATE的测试系统相比,改进的fpga测试系统具有更快的测试速度和更低的测试成本。

关键词：现场可编程门阵列 fpga测试配置 JTAG ATE

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fpga测试开发和测试方法研究

FPGA测试开发和测试方法研究

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作者：唐恒标北京大学

学位级别：硕士

本论文的研究课题是在集成电路测试系统(BC3192V50)环境下进行fpga测试开发和测试方法的研究。该系统是北京自动测试技术研究所开发研制的VXI总线型数模混合集成电路测试系统，可测试fpga、CPLD等大规模、高密度门阵列电路及专用电路等... 详细信息

本论文的研究课题是在集成电路测试系统(BC3192V50)环境下进行fpga测试开发和测试方法的研究。该系统是北京自动测试技术研究所开发研制的VXI总线型数模混合集成电路测试系统，可测试fpga、CPLD等大规模、高密度门阵列电路及专用电路等。随着fpga在商业、军事、航空航天等领域的广泛应用，其可靠性和可测试性也显得越来越重要，测试效率的高低将直接影响fpga产品的开发周期和开发成本。本论文主要目标是通过研究fpga的测试过程和测试方法，实现基于BC3192V50测试系统的fpga的测试。主要工作如下：\n 1、分析和总结国内外关于fpga故障检测和故障诊断方法。(1)对故障进行分类和分析，总结出了fpga的主要故障模型。(2)分类并总结了故障检测的方法。(3)总结和比较了一些典型的单CLB测试方法和构建CLB阵列测试图形的方法。(4)分类并总结了故障诊断的方法。(5)对一些典型逻辑和连线资源的故障诊断方法进行了比较。\n 2、给出了优化的多故障模型。一方面，通过提出故障屏蔽现象存在的原因和判断条件，有效地指导多故障模型下测试图形的构建。另一方面，通过对fpga物理故障进行分析和分类，选取了一些最典型的故障，建立了多CLB混合故障模型。该故障模型允许多个CLB可发生故障；对LUT采用固定为0或1的故障模型；对MUX采用开关常开和常关故障模型；对DFF采用各种功能故障模型。较好地平衡了测试时间和故障模型化之间的矛盾。\n 3、提出了新的基于阵列法来构建测试图形的方法。所构建的测试图形减少了逻辑资源的重复测试，均可以在测试系统上实现。具有以下特性：\n (1)消除了闲置的CLB。分两个步骤进行：①建立了改进的测试图形，消除了左右两端的闲置CLB。②提出了新的基于阵列法来构建测试图形的方法，减少了配置次数，消除了左右两端的闲置CLB和闲置的CLB行；该方法的缺点是：增加了实际编程难度，同时，1次配置的实现以适当的牺牲覆盖率为代价，要达到100％的覆盖率必须配置2次。\n (2)实现了组合和时序模块的并行测试，整体上显著减少了配置次数。对XC4000系列的组合和时序模块分别测试需要9次配置，并行测试只要5次。实现途径：①使用提出的基于阵列法构建了新的测试图形。缺点是CLB的输入和输出增加了，且配置次数较多，可能存在闲置的CLB行。②对以上的测试图进行改进，减少了配置次数，消除了闲置CLB。缺点是LUT功能变得复杂，甚至会牺牲覆盖率，同时故障传递端的输出数增加了。③对改进后的测试图形进一步优化，基本上保持了原有的优点，减少了故障传递端的输出数。缺点是增加了编程的复杂度且不一定能够产生完备的测试向量，需要根据实际情况权衡。\n (3)降低了IOB的限制。要通过NSS次配置完成测试必须满足：(Nr)αNSSNcNOO≤NSS[NIOB-NI-(Nr-(Nr)αNSS)αNOO+nO/αNSS]。所构建的测试图形考虑了可能出现的闲置的CLB行数(Nr)αNSS、左右两端闲置CLB的输出数NOO\'、故障传递端的输出数nO、测试精度α和配置次数NSS等因素，降低了IOB的限制，并以表格的形式列了出来。缺点是有时必须以降低覆盖率和增加配置次数为代价。\n 4、实现了基于阵列法与CLB内部测试的有机结合。针对XC4000的CLB内部配置选用不同的阵列法，用9次配置实现了所有CLB的测试，达到给定结构和故障模型下100％的覆盖率。\n 5、给出了基于系统测试fpga的一般过程，主要包括构建测试图形、编程生成配置数据、配置和测试等。并针对各个过程采取相应的方法减少测试时间，主要包括：(1)转化激励文件为系统自动识别文件。(2)选取合适的配置模式，减少了数据装载时间。(3)自动生成配置文件，避免手工编制向量。(4)对fpga进行在线配置，实现连续的配置—测试过程，省去了将配置的fpga向测试系统转移的过程。(5)对多个芯片同时检测时，采用并行的连续的在线配置—测试过程。\n 6、采用Xilinx公司的ISE集成综合环境对优化后的一种典型配置电路进行编程、生成配置数据，并在BC3192V50测试系统上实现芯片XC4006E-4PC84C的配置数据加载和测试。证明所提出的测试过程和测试方法实用可行。

关键词： fpga测试集成电路测试逻辑资源 VXI总线故障诊断

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基于网络的fpga测试服务系统的设计

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计算机科学 2012年第S2期39卷 11-14页

作者：刘元盛郭杰王超越北京联合大学信息学院北京100101 北京联合大学信息学院电子工程系北京100101

主要介绍了一种新型的基于网络的fpga远程测试服务系统的原理及其实现方法。该系统建立在以逻辑分析仪及动态探头的综合应用为核心的仪器测控网络的基础上,实现了较为完善的fpga远程测试功能。该系统的应用,可以使用户通过网络远程对被... 详细信息

主要介绍了一种新型的基于网络的fpga远程测试服务系统的原理及其实现方法。该系统建立在以逻辑分析仪及动态探头的综合应用为核心的仪器测控网络的基础上,实现了较为完善的fpga远程测试功能。该系统的应用,可以使用户通过网络远程对被测的fpga设备进行数据测试、数据分析及更新程序重新装载,从而实现远程快速fpga程序的验证及修正工作。

关键词：仪器测控网络动态探头 fpga测试

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基于SRAM配置技术的fpga测试方法研究

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半导体技术 2007年第9期32卷 804-808页

作者：赵娟王月玲刘明峰于宗光王成中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214035 江苏大学电气工程学院江苏镇江212000

在fpga的设计生产过程中,fpga的测试是一个至关重要的环节。分析了基于SRAM配置技术的fpga的结构组成及fpga的基本测试方法。针对6000门可编程资源的fpga,提出了一种基于阵列和长线线与测试CLB以及采用总线测试开关矩阵相结合的方法。... 详细信息

在fpga的设计生产过程中,fpga的测试是一个至关重要的环节。分析了基于SRAM配置技术的fpga的结构组成及fpga的基本测试方法。针对6000门可编程资源的fpga,提出了一种基于阵列和长线线与测试CLB以及采用总线测试开关矩阵相结合的方法。该方法较利用与门或门传递错误信息的所需测试配置次数减少了一半,从而加快了测试速度。

关键词： fpga测试 CLB测试互连测试故障覆盖率

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基于ATE的fpga测试

基于ATE的FPGA测试

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作者：陈飞复旦大学

学位级别：硕士

现场可编程门阵列(fpga)器件近几年来发展迅速,作为一种功能强大的可编程器件,它在集成电路新产品研发阶段以及小批量ASIC电路使用方面得到了越来越广泛的应用。fpga的使用极大地节省了集成电路产品的开发成本,缩短了产品的上市周期。... 详细信息

现场可编程门阵列(fpga)器件近几年来发展迅速,作为一种功能强大的可编程器件,它在集成电路新产品研发阶段以及小批量ASIC电路使用方面得到了越来越广泛的应用。fpga的使用极大地节省了集成电路产品的开发成本,缩短了产品的上市周期。但是随着fpga的广泛使用以及它结构的日益复杂,对测试的可靠性和准确性提出了更高的要求,同时也要求更短的测试周期。因此,对fpga测试技术及方法的研究就显得尤其重要。基于上述原因,本论文以XILINX公司的Virtex2Pro系列fpga芯片为研究对象,详尽研究和分析了该fpga芯片可编程逻辑模块(CLB)、可编程逻辑互连(IR)、输入输出模块(IOB)、BRAM和乘法器等五个主要模块的内部结构和功能特性。并且结合已有的fpga测试技术和故障模型,以“分治法”和“一维阵列”为基本测试思路,对各个主要模块及其内部逻辑单元的测试作了深入的分析和探讨。与此同时,本论文另一个主要工作重点是基于ATE (Automatic Test Equipment) - V93000对fpga芯片进行测试。fpga在线配置完成后,可以在ATE上对fpga进行直流参数、交流参数和逻辑功能的测试。在进行逻辑功能测试时,由编程语言描述的测试波形不仅可以做仿真激励,还可以通过专门的软件转化为ATE的测试向量对电路进行测试,从而可以做到即时的电路运行结果验证。论文里面主要阐述了如何在Verigy公司的V93000 SoC测试系统上对fpga芯片进行在线配置和测试,并简述了基于ATE的集成电路测试原理和V93000的测试环境、测试程序开发等内容,同时提出了用V93000测试系统对fpga测试的方法和具体的测试流程,并对五个主要模块和CLB的子逻辑模块Slice进行了配置和测试。通过研究实践证明,这种fpga测试方法具有修改方便、可移植性和测试易用性好的优点,从而为fpga的通用测试提供了一种高效可行的方法。

关键词： fpga测试 ATE V93000测试系统故障模型 XILINX

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基于J750的Virtex-Ⅱ型fpga测试

基于J750的Virtex-Ⅱ型FPGA测试

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作者：杨超电子科技大学

学位级别：硕士

随着集成电路技术的快速发展,现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,fpga)行业发展迅猛、市场需求增加、半导体工艺技术要求提升,使fpga行业朝着集成度更高、性能更强、内部架构更加复杂的方向发展。为了减小产品的设计周期... 详细信息

随着集成电路技术的快速发展,现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,fpga)行业发展迅猛、市场需求增加、半导体工艺技术要求提升,使fpga行业朝着集成度更高、性能更强、内部架构更加复杂的方向发展。为了减小产品的设计周期,降低整体成本和高效全面测试fpga,研究fpga中逻辑资源的全覆盖测试显得尤为重要。本文基于大规模集成电路自动测试系统J750,对fpga资源的全覆盖测试展开研究。文中将Virtex-Ⅱ系列fpga作为研究对象,分多个模块阐述了fpga芯片内部的资源结构,介绍了数字电路的常见故障和相应的测试算法,详细说明了Virtex-Ⅱ内部各模块、芯片直流参数和交流参数的测试原理和测试方法。根据fpga测试需要,分析其内部逻辑资源的故障模型,并建立相应的测试模型,从而达到全芯片覆盖测试的目的。同时,本课题研究了以J750为测试平台的Virtex-Ⅱ型fpga的全资源、全参数的测试方法,并形成一套通用、高效的fpga测试流程。首先,本文对Virtex-Ⅱ型fpga中的典型产品XC2V1000的内部资源做了充分介绍。从内部结构来看,基于SRAM架构的fpga资源模块都属于数字电路的范畴,而针对于数字电路的测试,典型的结构在业界都有相对成熟的测试方法。论文中采用了多种测试技术,比如内建自测试和路径扫描结构,形成了一套针对SRAM型fpga的有效测试方法。其次,结合Virtex-Ⅱ型fpga的资源架构和SRAM型fpga的测试方法,课题建立了多种针对Virtex-Ⅱ型fpga的专用测试模型,满足了XC2V1000全覆盖测试的要求。由于课题需要建立一个生产型的测试平台,所以测试平台不能只包括功能模块的覆盖测试,也必须加入交直流参数的测试。同时,论文对XC2V1000的直流参数和交流参数的测试理论和测试方法进行了详细说明。第三,文中还说明了SRAM架构fpga在J750上的自动测试流程,这是fpga实现量产筛选的关键,可以大大的降低fpga的测试成本。文中引入了Perl脚本语言编写软件来处理大量的文本操作,用软件代替人来处理大量重复性的工作既提高了工作效率,又避免了由人为因素引入的错误。最后,文中阐述了J750的主要结构、测试原理和调试方法,为XC2V1000全覆盖测试提供了很好的技术理论支撑。根据文中建立的一套完整的测试流程,形成了一个稳定的测试平台,并实现了产品的工程量产,测试结果达到了预期目标。

关键词： fpga测试全覆盖 ATE 故障模型测试模型

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基于位流回读的fpga测试系统的优化方法研究

基于位流回读的FPGA测试系统的优化方法研究

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作者：吴珂电子科技大学

学位级别：硕士

随着当前半导体工艺的迅速发展,fpga的复杂度和集成度也变得越来越高。随之而来的测试成本和测试时间的大幅增加也让fpga可测性问题日渐凸显。所以在当前集成度日益提高的发展趋势下如何保证fpga的可靠性显得至关重要。而当前主流的FPG... 详细信息

随着当前半导体工艺的迅速发展,fpga的复杂度和集成度也变得越来越高。随之而来的测试成本和测试时间的大幅增加也让fpga可测性问题日渐凸显。所以在当前集成度日益提高的发展趋势下如何保证fpga的可靠性显得至关重要。而当前主流的fpga测试方法有:传统的硬件测试方法,基于ATE的测试方法,基于BIST的测试方法以及基于边界扫描的测试方法等。这些测试方法既有各自不同的优点,但也有明显的缺陷。如传统的硬件测试方法流程复杂并且耗时长,基于ATE的方法虽然速度快但成本高,而基于BIST的方法需要花费大量人力进行测试电路设计。基于边界扫描的方法也存在IO数目有限,测试速度较慢的缺点。所以找到一种成本低廉,具有较快测试速度的同时又切实可行的fpga测试方法迫在眉睫。本论文从进一步推动fpga测试技术的成熟出发,以实验室现有的基于位流回读和边界扫描的fpga测试系统为基础,对测试系统面向的测试对象,测试系统的测试速度和测试系统自身可靠性和稳定性以及测试系统的易用性进行优化研究,推动该系统的进一步发展和成熟。并且通过将该测试系统移植到ARM嵌入式平台中,拓宽了该系统的应用领域,增强了该系统的灵活性和多样性。本论文的主要内容如下:(1)在大量查阅Xilinx公司相关技术文档的基础上,结合现有fpga测试系统,实现针对Virtex系列型号为XCV600,XCV1000和VirtexⅡ系列型号为XC2V1000和XC2V3000这四款fpga的位流回读和解析以及故障定位和诊断,并完成流程自动化。(2)在对部分位流回读技术进行深入研究的基础上实现针对CLB部分和BRAM部分的位流部分回读。并将该技术在测试系统中实现,以提高目前的测试速度。(3)在对现有fpga测试系统反复研究的基础上对系统的架构和流程方面进行速度和可靠性的优化,希望进一步推动该测试系统的成熟。(4)在现有fpga测试系统的基础上完成GUI图形化界面的实现,集成多种操作并具有不同工作模式,以达到提高系统易用性和测试效率的目的。(5)在针对PC版本的fpga测试系统的基础上,通过搭建硬件平台和开发相应程序,完成基于Zedbord开发板的嵌入式测试系统。

关键词： fpga测试位流回读测试系统嵌入式

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基于BIST的Flash型fpga测试技术研究

基于BIST的Flash型FPGA测试技术研究

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作者：雷星辰电子科技大学

学位级别：硕士

现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,fpga)以其可编程性在工业、汽车、视频处理、大数据等领域得到广泛应用。目前,fpga主要采用反熔丝技术、SRAM(Static Random-Access Memory)技术和Flash技术三种路线。在这些技术中,Fl... 详细信息

现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,fpga)以其可编程性在工业、汽车、视频处理、大数据等领域得到广泛应用。目前,fpga主要采用反熔丝技术、SRAM(Static Random-Access Memory)技术和Flash技术三种路线。在这些技术中,Flash型fpga集成了反熔丝fpga高可靠性、非易失性和SRAM型fpga多次编程、资源丰富等优点,因此在航空航天和军事领域具有广泛应用。然而,我国目前主要依赖进口Flash型fpga,国内对于Flash型fpga的研究处于起步阶段,对于其测试技术的研究更是鲜有,并且因其特殊的结构,在测试方面存在很多难题,如故障覆盖率低和测试功耗大等问题,因此迫切需要研究Flash型fpga测试技术。本论文针对此问题展开研究,主要内容包括: (1)首先研究了Flash型fpga的整体结构,阐述了其内部资源的结构,并对Flash开关单元的原理、结构、特点和配置方法进行了研究。分析了Flash型fpga的测试难点,进行了测试方案的设计。 (2)分析fpga故障模型与测试方法,并针对BRAM测试算法March C+进行了优化,使故障覆盖率提升了23.7%,且相较于时间复杂度同为22N的March SS算法,故障覆盖率提升了7.9%;根据Flash型fpga内部资源测试需求,设计内建自测试电路(Build In Self Test,BIST),并构建确定码型向量生成器和低功耗地址生成器对BRAM测试,使测试功耗降低了18.6%。 (3)利用分治法对其内部逻辑资源进行测试仿真:分析最优的BRAM测试配置,完成BRAM阵列测试;级联可编程逻辑单元,分为两次对其进行测试,每次测试一半的逻辑阵列,用最少的测试次数完成100%的可编程逻辑单元的覆盖;使用文本输入对其内部FlashROM进行写数据,然后控制时序对其进行读取数据测试;对时钟管理单元进行分频、倍频以及延时测试。 (4)最后根据测试需求和测试方案设计硬件电路进行进一步的实验验证,实现对设计电路的板极验证。通过本论文的研究工作,完成了一款150万门、可编程逻辑资源为38400个,以及容量为270k bit的BRAM的大容量Flash型fpga内部资源测试。实验结果验证了本文所设计电路的优越性,对Flash型fpga测试提供了一个解决方案,并具有一定的指导意义。

关键词： Flash型fpga fpga测试 BIST BRAM

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基于ATE的高性能fpga测试方法研究

基于ATE的高性能FPGA测试方法研究

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作者：刘媛媛北方工业大学

学位级别：硕士

现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,fpga)由于其体积小,能耗低,性能高和可反复编程等优点成为电子系统设计的主流芯片。随着芯片复杂度和集成度越来越高,对电子元器件的可靠性试验和筛选的要求也越来越高,fpga的测试需求... 详细信息

现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,fpga)由于其体积小,能耗低,性能高和可反复编程等优点成为电子系统设计的主流芯片。随着芯片复杂度和集成度越来越高,对电子元器件的可靠性试验和筛选的要求也越来越高,fpga的测试需求变得尤为迫切。因此在保证测试覆盖率的基础上,减少配置次数,降低测试成本,提供一套完善的fpga测试方法和测试流程具有重要的应用价值。本论文对Xilinx fpga的测试方法展开研究,论文的主要内容分为以下三个方面。按功能结构的不同采用分治法的思想将fpga划分为三个模块。采用一维阵列法的思想对可编程逻辑器件(Configurable Logic Block,CLB)进行测试方法设计,对其中的查找表(Look Up Table,LUT)资源测试方法加以改进,采用区域划分的方式设计物理约束文件,能有效减少约束文件的编写时间,准确地进行故障定位,提高故障检测率。可编程输入输出接口(I/O Block,IOB)采用设置双向端口的方式进行测试方法设计,一次测试图形的配置可实现IOB端口双向传输功能的测试。可编程互连资源(Interconnect Resource,IR)采用确定性布线方法进行测试。本论文通过配置图形设计与仿真进行了各模块资源的功能测试,验证了测试方法的可行性。设计开发了一款通用型矩阵接口板HSCV256＿Euro Pin＿V3,通过添加矩阵切换电路解决了fpga芯片测试中遇到的多电源测试、芯片管脚定义多样性等问题,实现了不同测试任务的兼容,为fpga芯片测试提供外围硬件支持。以国产自动测试设备BC3192EX为ATE(Automatic Test Equipment)测试平台。配置测试图形,编写测试程序,通过上机实验完成了芯片的功能测试和参数测试,验证了fpga测试方法的可行性。本论文研究的测试方法具有通用性,可作为Xilinx fpga测试方案的开发模板,提供了一套完善的fpga测试方法和测试流程。

关键词： fpga测试配置图形自动测试设备测试验证

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FDP-fpga测试软件平台

FDP-FPGA测试软件平台

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作者：汪伟林复旦大学

学位级别：硕士

随着fpga规模和复杂度的不断提高,fpga的测试也变得越来越复杂。fpga是一种可编程器件,其测试方法也与ASIC测试有很大的不同。FDP-fpga是复旦大学自主开发的fpga芯片,其内部包含可编程逻辑,可编程互连,可编程输入输出,块RAM等资源。FDP-... 详细信息

随着fpga规模和复杂度的不断提高,fpga的测试也变得越来越复杂。fpga是一种可编程器件,其测试方法也与ASIC测试有很大的不同。FDP-fpga是复旦大学自主开发的fpga芯片,其内部包含可编程逻辑,可编程互连,可编程输入输出,块RAM等资源。FDP-fpga的测试是本文探讨的主要内容。FDP-fpga的测试包含功能测试和性能测试。对于功能测试,我们一般可以通过JTAG边界扫描的原理进行测试,fpga内部的块RAM是存储器,一般通过内建自测试,我们也可以通过ATE机台连接FDP-fpga的每一个管脚对FDP-fpga进行功能测试,除此之外,我们还自己开发了一种类JTAG协议,相比JTAG可实现更快速的功能测试;对于性能测试,我们通过ATE机台,对FDP-fpga漏电流,输入高低电平,输出高低电平,传输延时,建立保持时间等参数进行测试。根据不同的测试原理,我们在不同的平台开发了FDP-fpga测试软件。在PC平台我们开发了编程下载,遍历测试,内建自测试平台,位流生成等等测试软件;在NI PXI平台,我们利用类JTAG测试原理,开发了NI PXI平台测试文件生成软件和遍历测试软件;在ATE平台,我们开发了Verigy 93000 timing、vector生成工具和Teradyne J750 PAT生成工具。不同的平台有着不同的优缺点,比如PC平台十分的廉价,但是测试速度比较低,NI PXI平台测试速度较快,价格介于ATE和PC之间,但是灵活性较差,和PC一样只能进行功能测试,ATE平台快速稳定,但是价格非常昂贵。我们可以根据需要灵活选择测试平台。在开发测试软件的基础上,我们还开发了图形化界面的软件平台集成了大部分的FDP-fpga测试软件,在软件平台图形化界面上,我们可以方便的调用测试软件,我们制定了软件平台的规范,编写了多种辅助工具,使得软件平台具有可扩展性,可以参数化,流程化的运行测试软件等等特性。通过我们开发的三个平台测试软件,我们实现了FDP-fpga的位流生成,位流下载、遍历测试等功能,根据不同平台的优缺点选择不同的测试软件可以使得测试的费用,速度,效率实现最大的平衡;通过我们开发的集成化软件平台和相关的工具,我们可以扩展测试软件,通过流程化,参数化等功能,极大的方便了测试软件的使用,提高了测试的效率。

关键词： fpga fpga测试测试软件测试平台

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