检索结果-内蒙古大学图书馆

An imaging algorithm of planar array capacitance sensor for defect detection

MEASUREMENT 2021年 168卷

作者： Zhang, Yuyan Sun, Yurong Wen, Yintang Yanshan Univ Key Lab Measurement Technol & Instrumentat Hebei Qinhuangdao 066004 Hebei Peoples R China

Planar array capacitance imaging is a feasible solution for detecting defects in composite components. However, the coplanar arrangement of electrodes in the imaging system renders a soft field effect, which results in unstable or susceptible imaging. The inverse problem of a planar array capacitance sensor system is ill-posed. Hence, a wavelet fusion combined multi-objective threshold programming imaging algorithm is proposed for a planar array capacitive imaging system. Furthermore, initial values of conjugate gradient (CG) and Newton-Raphson (NR) algorithms are optimized using the Tikhonov regularization algorithm. Subsequently, wavelet fusion is introduced to fuse images obtained using the CG and NR algorithms to acquire more detailed information. To further improve the reconstructed quality, a multi-objective threshold programming strategy is proposed. The final reconstruction image is obtained using the optimal threshold. Experimental results show a significantly improved quality of the reconstructed image, thereby verifying the effectiveness of the presented algorithm.

关键词： Planar array capacitance sensor Image reconstruction algorithm Wavelet fusion multi-objective threshold programming

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