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作者

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Implementation of the pattern matching System to Detect Flip Chip PCB Defects
Implementation of the Pattern Matching System to Detect Flip...
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6th International Conference on Intelligent Computing
作者： Moon, Cheol-Hong Jang, Hyun-Chul Jun, Jin-Kook Gwangju Univ Kwangju South Korea OKins Elect Co Kwangju South Korea
FPGA-based pattern matching System, which supports a Camera. Link (Medium), was used to detect Flip Chip PCB defect patterns. For the automation of the vision inspection of the Flip Chip PCB production process, the sy... 详细信息
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