检索结果-内蒙古大学图书馆

第五届中国测试学术会议

作者：李伟王志功李智群东南大学射频与光电集成电路研究所

本文通过对s参数测试技术中sOLT和TRL校准方法采用传统的12项系统误差模型进行理论分析和比较,给出这两种校准方法的主要特点和适合的测试环境,并用实际测试结果进行验证,测试结果表明理论分析结果与实际测试相吻合。

关键词： s参数测试校准 sOLT TRL

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基于微波s参数测试的MOsFET小信号参数半分析法提取

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南通大学学报（自然科学版） 2016年第3期15卷 6-11页

作者：周影于盼盼高建军华东师范大学信息科学技术学院上海200241

基于90 nm金属-氧化物半导体场效应晶体管（metal-oxide-semiconductor field-effect transistor,MOsFET）器件的s参数测试的结果,对测试结构进行去嵌,采用直接提取法提取测试结构的寄生元件参数.在去除寄生元件参数的影响后,以仿真模型... 详细信息

基于90 nm金属-氧化物半导体场效应晶体管（metal-oxide-semiconductor field-effect transistor,MOsFET）器件的s参数测试的结果,对测试结构进行去嵌,采用直接提取法提取测试结构的寄生元件参数.在去除寄生元件参数的影响后,以仿真模型的s参数和测量所得的s参数之间的差值作为优化标准,应用半分析法提取小信号模型的各个元件参数.结果表明：在1~40 GHz的频率范围内,模拟的s参数和测试的s参数在史密斯圆图中吻合良好,两者之间的误差均处于较低水平,验证了模型的准确性和参数提取方法的正确性.

关键词：微波 s参数测试金属氧化物半导体场效应晶体管小信号建模半分析法

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多系统合路平台(POI)概述及s参数测试方法研究

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电信网技术 2016年第6期 78-81页

作者：赵娜赵雪刘金旭中国信息通信研究院泰尔系统实验室

介绍了多系统合路平台(POI)的工作原理和应用场景,并对s参数的测试方法及温度对POI性能指标的影响进行了研究。

关键词：多系统合路平台 s参数测试方法

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混合信号测试系统s参数测量的校准

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微电子学 2015年第4期45卷 552-556页

作者：蒲璞张琳黄成中国电子科技集团公司第二十四研究所重庆400060

混合信号测试系统一般用于射频或微波电路s参数的测量,但由于厂家无完整的校准方案和软件支持,提供的校准方案只能校准到特定的测量端面,实际测试时端口需要延伸;并且,系统将引入较大的失配和损耗误差,测量结果不能反映器件的真实性能指... 详细信息

混合信号测试系统一般用于射频或微波电路s参数的测量,但由于厂家无完整的校准方案和软件支持,提供的校准方案只能校准到特定的测量端面,实际测试时端口需要延伸;并且,系统将引入较大的失配和损耗误差,测量结果不能反映器件的真实性能指标,高精度测量受限。以业界主流的大型射频混合信号测试系统LTX-MX为例,分析s参数测量时的系统误差模型和校准方法,为测试工程师使用大型测试系统准确测量s参数提供了一种校准方案,并为后续的高精度测量提供了可行性。

关键词：射频校准误差模型误差修正 s参数测试 LTX-MX

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3mm管芯和单片s参数自动测试系统

3mm管芯和单片S参数自动测试系统

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2008年计量与测试学术交流会暨无线电计量校准技术研讨会

作者：韩利华孙静孙晓颖郑延秋中国电子科技集团公司第十三研究所河北石家庄 050051 中国电子科技集团公司第十三研究所河北石家庄 0500

详细介绍了3 mm管芯和单片s参数自动测试系统的组成、工作原理、标准技术介绍了系统的溯源方法和重复性，给出了提高测试准确度的方法。

关键词： 3mm管芯单片 s参数测试自动测试系统标准技术

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宽带矢量网络测试的TRM校准方法不确定度分析

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电子测量与仪器学报 2020年第8期32卷 79-85页

作者：郭庭铭苏江涛刘军王飞杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室杭州310018

宽带网络测试是获取微波毫米波器件电学特性的重要手段,而TRM校准方法被广泛应用于宽带网络测试系统的校准中。为了有效地评估测试数据的准确性,需要对TRM校准与测试进行误差不确定度度分析。对基于8项误差的在片测试的小信号校准与误... 详细信息

宽带网络测试是获取微波毫米波器件电学特性的重要手段,而TRM校准方法被广泛应用于宽带网络测试系统的校准中。为了有效地评估测试数据的准确性,需要对TRM校准与测试进行误差不确定度度分析。对基于8项误差的在片测试的小信号校准与误差修正原理进行了阐述,以此为基础推到了TRM校准方法的不确定度传播公式,能够有效地评估各项校准件的非理想性对校准结果的影响。通过采用参数已知的传输线作为非理想直通校准件进行验证实验。实验结果表明,不确定度传播公式能够准确地评估测试数据的误差,最大差值不超过0.02 dB。

关键词： TRM校准 s参数测试矢量网络分析仪误差分析测试不确定度

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半导体器件宽阻抗网络参数测试方法研究

半导体器件宽阻抗网络参数测试方法研究

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作者：岳春宇西安电子科技大学

学位级别：硕士

随着科技的发展,半导体器件也在迅速发展,从上世纪中叶至今已经发展到了第三代。以碳化硅(si C)器件、氮化镓(GaN)器件为代表的第三代半导体器件具有很多优势,还能满足许多领域的使用需求。例如,高热导率、高电子饱和漂移速度、可承受... 详细信息

随着科技的发展,半导体器件也在迅速发展,从上世纪中叶至今已经发展到了第三代。以碳化硅(si C)器件、氮化镓(GaN)器件为代表的第三代半导体器件具有很多优势,还能满足许多领域的使用需求。例如,高热导率、高电子饱和漂移速度、可承受大功率等,在半导体照明、通信、军事国防、石油勘探、航空航天、新能源等重要领域有着广泛的应用及发展前景。但由于氮化镓器件具有输入输出端口阻抗偏低的特性,无法与现今普遍使用的50欧姆测试系统阻抗匹配,在使用矢量网络分析仪测量其特性参数时,测量结果会受到很大影响。就测量大功率半导体器件的特性参数这一问题,本文首先研究了传输线理论、网络参数理论和阻抗变换与匹配。接着,本文研究了网络分析仪测试系统的结构和误差,并提出和对比了基于阻抗调配器的测试系统和基于阻抗渐变线测试夹具的测试系统,并采用了后者作为本文的主要实现方法,在此称为半导体器件宽阻抗网络参数的测试方法。该方法利用High Frequency structure simulator(HFss)软件设计了基于阻抗渐变线的夹具,此夹具在电路中起到了两个作用,第一个作用与普通的测试夹具类似,即固定被测件;第二个作用是本测试的关键,即阻抗转换,将50欧姆的测试仪器端口阻抗转换到一个小阻抗值,这个小阻抗值与半导体器件的输入输出端口阻抗更为接近,提高测量准确度,减小了误差,还扩展了测试系统的阻抗范围。本文搭建了相应的测试系统,利用Advanced Design system(ADs)软件验证了测试方法的可行性。另外,本文还研究了sOLT校准法和TRL校准法,在此基础上提出了适用于本文中测试方法的基于双段传输线的夹具去嵌入方法。在该去嵌入方法中,我们使用夹具分别夹持两段宽度相同,长度不同的传输线,以构成校准件。这种基于双段传输线的夹具去嵌入方法不但测量求解了我们所设计的测试夹具的s参数,还简化了传统的sOLT和TRL测量中繁琐的去嵌入过程。最后,利用本文的研究结果提取到某型号半导体器件的s参数,并对比分析了测量结果。本文通过对宽阻抗网络参数测试方法的研究、仿真及测试,提高了以氮化镓功率器件为代表的第三代半导体器件的测试阻抗范围和准确度,一定程度上弥补了第三代半导体器件测试过程中由于器件输入输出阻抗偏低,无法与现今普遍使用的50欧姆测试系统阻抗匹配等问题,为大功率半导体器件的网络参数测试提供了一种新的方法。

关键词：氮化镓功率器件 s参数测试网络分析仪去嵌入方法

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1.25GsPs任意波形发生器滤波电路的设计

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电子测试 2011年第1期22卷 22-26页

作者：彭辉田书林刘科电子科技大学自动化工程学院四川成都611731

直接数字式频率合成技术(Direct Digital synthesis)广泛应用于任意波形发生器中,其全数字的结构导致输出信号中含有大量杂谱曲线;本文分析了1.25GsPs任意波形发生器中DDs信号发生模块的频谱情况,得出对所有频率的正弦信号可以用一路椭... 详细信息

直接数字式频率合成技术(Direct Digital synthesis)广泛应用于任意波形发生器中,其全数字的结构导致输出信号中含有大量杂谱曲线;本文分析了1.25GsPs任意波形发生器中DDs信号发生模块的频谱情况,得出对所有频率的正弦信号可以用一路椭圆低通滤波器进行滤波处理,任意波则使用群延迟特性良好的线性相位滤波器滤波的结论;由此制定了对应的滤波电路方案。此外,本文还简单描述了椭圆滤波器的阶数的确定方法;对综合出的电路进行了仿真;最后,使用矢网分析仪对实际电路进行了s参数测试,验证了设计的正确性。

关键词：直接数字式频率合成技术任意波形发生器椭圆低通滤波器 s参数测试

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国产芯片自动测试系统射频测试模块设计

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计算机测量与控制 2019年第10期27卷 41-44,49页

作者：郑永丰张贵恒董阳刁静王奇之北京航天测控技术有限公司

针对当前射频芯片性能不断增强和应用日益广泛的现状,同时为了满足5G射频芯片测试需求,结合当前国际先进芯片自动测试技术,重点对国产芯片自动测试系统射频测试模块开展设计;通过对当前市场常用射频芯片以及5G射频芯片测试需求研究,通... 详细信息

针对当前射频芯片性能不断增强和应用日益广泛的现状,同时为了满足5G射频芯片测试需求,结合当前国际先进芯片自动测试技术,重点对国产芯片自动测试系统射频测试模块开展设计;通过对当前市场常用射频芯片以及5G射频芯片测试需求研究,通过采用小型化设计优化矢量信号收发模块的性能;为解决测试频率不断升高带来的问题,设计中采用模块化变频设计来拓展芯片测试频率范围;同时设计4个射频信号通道,每个通道具有4个射频端口,最大能够对16个被测件进行测试,显著提高芯片测试效率;该系统能够完成50M^12GHz矢量信号发射和分析,同时具有噪声系数测试,s参数测量,双音信号生成等功能。

关键词：射频芯片自动测试系统矢量信号生成和分析 s参数测试噪声系数测量

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微波前端模块设计及关键测试技术研究

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新潮电子 2024年第11期 169-171页

作者：叶红武四川成都610036

微波前端模块作为现代无线通信和雷达系统的重要组成部分,其性能直接影响整个系统的稳定性和可靠性。本文首先概述微波前端模块的基本构成和工作原理,然后详细阐述模块设计的关键技术和挑战,包括频率选择、噪声抑制、功率放大等。其次,... 详细信息

微波前端模块作为现代无线通信和雷达系统的重要组成部分,其性能直接影响整个系统的稳定性和可靠性。本文首先概述微波前端模块的基本构成和工作原理,然后详细阐述模块设计的关键技术和挑战,包括频率选择、噪声抑制、功率放大等。其次,本文重点研究微波前端模块的关键测试技术,包括s参数测试、噪声系数测试、相位噪声测试等,并分析各种测试方法的优缺点及适用场景。最后,通过实际案例验证本文设计的微波前端模块的性能和测试技术的有效性。本文的研究为微波前端模块的优化设计和精确测试提供有益的参考。随着无线通信技术的快速发展,微波前端模块作为信号处理的关键部件,其性能优化和测试技术的研究显得尤为重要。微波前端模块通常包括滤波器、低噪声放大器、混频器等多个功能部件,其设计涉及电路理论、微波技术、材料科学等多个领域。同时,随着5G、物联网等新一代信息技术的兴起,对微波前端模块的性能指标提出更高的要求,如更高的频率、更低的噪声、更大的带宽等。因此,对微波前端模块的设计及关键测试技术的研究具有重要的现实意义和应用价值。本文首先回顾微波前端模块的发展历程和研究现状,分析当前设计面临的主要问题和挑战。其次,针对这些问题,本文提出一系列优化设计方法和改进策略,包括新型材料的应用、电路结构的优化、算法的改进等。在测试技术方面,本文详细介绍微波前端模块的测试原理和方法,并对比不同测试技术的特点和适用范围。最后,通过实验验证本文提出的设计方法和测试技术的有效性,为微波前端模块的进一步优化和应用提供理论支持和实践指导。

关键词：微波前端模块设计技术测试技术 s参数测试噪声系数测试相位噪声测试

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