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ECC-ASPIRIN: An ECC-Assisted Post-Package Repair Scheme for Aging Errors in DRAMs 34

ECC-ASPIRIN: An ECC-Assisted Post-Package Repair Scheme for ...

引用

IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS)

作者： Kim, Dae-Hyun Milor, Linda S. Georgia Inst Technol Atlanta GA 30332 USA

ISBN: (纸本)9781467384544

Because of continuous scaling down to small dimensions, DRAM has become a main memory with high capacity and density. Because denser memories are likely to contain more errors, DRAM employs repair schemes that replace errors with good cells for yield enhancement of a memory. The conventional repair scheme covers only manufacturing-level errors. As DRAM wears out while operating in the field, to enhance the lifetime of a memory, we need to incorporate a post-package repair scheme into a memory system for repairing aging errors. In this paper, we propose a methodology that repairs aging errors in a memory during field operations. Using the memory yield and lifetime simulator, we evaluate the proposed repair method. Employing a 2GB DDR3 ECC-DIMM as a case study, we demonstrate that our post-package repair scheme improves the yield and the lifetime of a memory.

关键词： DRAM memory repair testing post-package repair yield lifetime error-correcting code single-bit correcting and double-bit detecting

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ECC-ASPIRIN: An ECC-Assisted Post-Package Repair Scheme for Aging Errors in DRAMs

ECC-ASPIRIN: An ECC-Assisted Post-Package Repair Scheme for ...

引用

IEEE VLSI Test Symposium

作者： Dae-Hyun Kim Linda S. Milor Georgia Institute of Technology

ISBN: (纸本)9781467384551

关键词： DRAM Memory Repair Testing Post-package repair Yield Lifetime Error-correcting code single-bit correcting and double-bit detecting

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