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  • 1 篇 tyszer j

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  • 1 篇 英文
检索条件"主题词=built-in testing circuit"
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SELF-CHECKING TIME-DIVISION SWITCH
收藏 引用
ELECTRONICS LETTERS 1988年 第22期24卷 1389-1390页
作者: TYSZER, J Tech. Univ. of Poznan
An augmentation of a time-division switch is proposed so that this switch has an additional property of fault self-detection. Data patterns from normal operation (i.e. speech samples and control signals) serve as test... 详细信息
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