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检索条件"主题词=built-in-testing"
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Synthesis of an 8051-like micro-controller tolerant to transient faults
收藏 引用
JOURNAL OF ELECTRONIC testing-THEORY AND APPLICATIONS 2001年 第2期17卷 149-161页
作者: Cota, É Lima, F Rezgui, S Carro, L Velazco, R Lubaszewski, M Reis, R Univ Fed Rio Grande do Sul PPGC Inst Informat BR-91501970 Porto Alegre RS Brazil TIMA Lab F-38031 Grenoble France Univ Fed Rio Grande do Sul DELET BR-90035190 Porto Alegre RS Brazil
This paper presents the implementation of a fault detection and correction technique used to design a robust 8051 micro-controller with respect to a particular transient fault called Single Event Upset (SEU). A specif... 详细信息
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