检索结果-内蒙古大学图书馆

您好，读者！请登录

内蒙古大学图书馆

首页
概况
党建
资源
服务
科研支持
- 论文收录引用证明
- 科技查新
知识产权
档案馆
帮助

咨询与建议

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

您的常用邮箱：*

您的手机号码：*

问题描述：

当前已输入0个字，您还可以输入200个字

全部搜索
期刊论文
图书
学位论文
标准
纸本馆藏
外文资源发现
数据库导航
超星发现

高级检索

时间限定

出版年份：

文献类型

图书期刊文献学位论文多媒体

馆藏选择

电子馆藏纸本馆藏

核心期刊

全部期刊 SCI 收录期刊 SSCI 收录期刊 EI 收录期刊 CSCD 收录期刊 CSSCI 收录期刊

语言

中文英文

文献类型

期刊文献图书学位论文标准纸本馆藏

帮助

文字说明：

T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

分类表

所选分类

>> <<

限定检索结果

文献类型

1 篇 会议

馆藏范围

1 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

1 篇 工学
- 1 篇 机械工程
- 1 篇 电气工程

主题

1 篇 direct accelerat...
1 篇 jedec board leve...
1 篇 large mass metho...
1 篇 implicit solver

机构

1 篇 stmicroelectroni...

作者

1 篇 ma yiyi
1 篇 luan jing-en

语言

1 篇 英文

检索条件"主题词=direct acceleration input method"

共 1 条记录，以下是1-10 订阅

全选清除本页清除全部题录导出标记到"检索档案"

详细简洁

排序：

On the JEDEC Board Level Drop Test Simulation of Array of BGA Packages 39

On the JEDEC Board Level Drop Test Simulation of Array of BG...

引用

IEEE 39th International Electronics Manufacturing Technology Conference (IEMT)

作者： Ma, Yiyi Luan, Jing-En STMicroelectronics Back End Mfg & Technol 629 Lorong 4-6 Toa Payoh Singapore 319521 Singapore

ISBN: (数字)9781665471701

ISBN: (纸本)9781665471701

Drop test durability has been a major concern for devices widely used in mobile applications. JEDEC standard is introduced to characterize IC package drop performance such that a consumer product manufacturer could have a readily available benchmark to assess reliability of components from different suppliers under the same test conditions. At first explicit solvers were extensively used to tackle the free fall problem due to its transient and dynamic nature. They were soon simplified to input-G method to avoid complexity in modeling contact event. Still their inherent poor numerical stability during simulation has limited its application to drop events with small to medium size unless the analysis utilizes very fine time incremental steps, which, in turn, is time consuming. In addition, many component suppliers usually do not have such software. Therefore, implicit solver has recently been employed to simulate board level drop test. Its limitation lies with its connate incompatibility with the direct application of the base acceleration profile but can be overcome by additional treatment of the boundary conditions. This paper investigates the simulation methodologies of JEDEC board level drop test using implicit solver. It demonstrates that both direct acceleration input (DAI) method and Large Mass method (LMM) could be used to model the current industrial specified drop test, which is a moderate transient process, but the latter is a better option as it captures the real response of the package assembly under test. Actual drop tests were carried out and compared with simulation predictions, they are found in good agreement. Further examination of the current common industrial practice raises concerns about the accuracy of its data collection and interpretation of JEDEC board level drop test results. Possible solutions are offered for improvement of board design and data analysis.

关键词： implicit solver direct acceleration input method large mass method JEDEC board level drop test

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

没有更多数据了...

全选清除本页清除全部题录导出标记到“检索档案”

共1页 << < 1 > >>

检索报告对象比较合并检索0

隐藏清空

合并搜索

回到顶部

执行限定条件

内容：

评分：

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

订阅名称：

通借通还

温馨提示：

图书名称：

借书校区：

取书校区：

手机号码：

邮箱地址：

一卡通帐号：

电话和邮箱必须正确填写，我们会与您联系确认。

联系人：

所在院系：

联系邮箱：

联系电话：

内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号邮编: 010021

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：