咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 计算机科学与技术...

主题

  • 1 篇 double pattern c...
  • 1 篇 design
  • 1 篇 dynamically reco...

机构

  • 1 篇 renesas elect sa...
  • 1 篇 nec corp ltd

作者

  • 1 篇 togawa katsumi
  • 1 篇 furuta koichiro
  • 1 篇 yoneda hideyuki
  • 1 篇 motomura masato
  • 1 篇 inoue hiroaki
  • 1 篇 yamada junya

语言

  • 1 篇 英文
检索条件"主题词=double pattern compression"
1 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
Test compression for Dynamically Reconfigurable Processors
收藏 引用
ACM TRANSACTIONS ON RECONFIGURABLE TECHNOLOGY AND SYSTEMS 2011年 第4期4卷 40-40页
作者: Inoue, Hiroaki Yamada, Junya Yoneda, Hideyuki Togawa, Katsumi Motomura, Masato Furuta, Koichiro NEC Corp Ltd Tokyo Japan Renesas Elect Santa Clara CA USA
We present the world's first test compression technique that features automation of compression rules for test time reduction on dynamically reconfigurable processors. Evaluations on an actual 40-nm product show t... 详细信息
来源: 评论