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作者

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parametric modeling of the Coupling Channel of Conducted Interference Based on Multi-linear Regression Model
Parametric Modeling of the Coupling Channel of Conducted Int...
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IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics modeling and Optimization (NEMO)
作者： Wang, Shunxin Dai, Fei Zheng, Tao Beihang Univ Sch Elect & Informat Engn Beijing Peoples R China
In electromagnetic compatibility testing, the conducted electromagnetic emission (EMI) of the equipment under test (EUT) are required to meet certain standards of electromagnetic compatibility in order to control its ... 详细信息
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