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Design and analysis of RAM transparent march test for BIST implementation
Design and analysis of RAM transparent March test for BIST i...
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Conference on Design, Modeling, and Simulation in Microelectronics
作者： Demidenko, S Henderson, S Massey Univ Inst Informat Sci & Technol Palmerston North New Zealand
New transparent memory test algorithms for semiconductor memory are presented in the paper along with the modified memory testing simulation package MAP. The test algorithms allow detecting memory read errors - the er... 详细信息
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