检索结果-内蒙古大学图书馆

半导体技术 2007年第10期32卷 913-917页

作者：石云波马宗敏刘俊电子测试技术国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室中北大学太原030051

提出了一种单质量块单轴集成加速度计陀螺仪(AG)结构,并利用力学、电磁学等原理对该结构进行了结构的设计与分析;同时运用计算机辅助软件对其进行了建模和仿真;依据所提指标,确定了加速度计陀螺仪各项尺寸。借助原理和仿真分析可以知道... 详细信息

提出了一种单质量块单轴集成加速度计陀螺仪(AG)结构,并利用力学、电磁学等原理对该结构进行了结构的设计与分析;同时运用计算机辅助软件对其进行了建模和仿真;依据所提指标,确定了加速度计陀螺仪各项尺寸。借助原理和仿真分析可以知道,该加速度计陀螺仪(AG)单轴敏感同一方向线加速度和角速度,结构简单、合理,在现有加工水平下实现了可加工性;该结构驱动方向和线速度和角速度检测方向相互交叉耦小,同时简化了后续处理电路。研究结果为加速度计陀螺仪的进一步研究提供了依据。

关键词：单片集成加速度计陀螺仪结构设计仿真

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深空探测中的图像处理技术

深空探测中的图像处理技术

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中国宇航学会深空探测技术专业委员会第四届学术年会

作者：王红亮杨晓赵纯中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室电子测试技术国家重点实验室中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室电子测试技术国家重点实验室中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室电子测试技术国家重点实验室

图像处理是深空探测研究的重要组成部分,本文分析了在深空探测中使用图像处理技术的必要性, 着重阐述了图像压缩和图像特征提取等方面常用的图像处理技术。

关键词：深空探测图像压缩特征提取

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共振隧穿二极管Ⅰ-Ⅴ特性的一致性测试与研究

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仪器仪表学报 2006年第z2期27卷 1189-1191页

作者：毛海央张文栋熊继军薛晨阳中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室&电子测试技术国防重点实验室太原030051

共振隧穿二极管(RTD)具有类似于硅的压阻特性。为了定量表达RTD的压阻特性,对其Ⅰ-Ⅴ特性一致性的研究显得十分必要。文中设计一个恒温、恒压实验测试系统,测试同一个RTD结构在不同时间的Ⅰ-Ⅴ特性。实验结果表明,RTD结构的电阻在不同... 详细信息

共振隧穿二极管(RTD)具有类似于硅的压阻特性。为了定量表达RTD的压阻特性,对其Ⅰ-Ⅴ特性一致性的研究显得十分必要。文中设计一个恒温、恒压实验测试系统,测试同一个RTD结构在不同时间的Ⅰ-Ⅴ特性。实验结果表明,RTD结构的电阻在不同时间的最大相对漂移量小于3％。随后测试仪器的测量误差,发现其中1％的相对漂移量由测试仪器造成。

关键词：共振隧穿二极管 Ⅰ-Ⅴ特性一致性压阻特性

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基于拉曼光谱仪的MEMS动态应力测试系统

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中国机械工程 2006年第S2期17卷 306-309页

作者：郑丽娜薛晨阳张文栋张斌珍桑胜波中北大学电子测试技术国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室太原030051

微机电系统(MEMS)动态应力的瞬态特性决定了传统的应力测试系统无法直接满足它的测试需要。介绍了一种依据高频调制原理设计实现的基于拉曼光谱仪的MEMS动态应力测试系统,该测试系统是一个典型的光—机—电集成的MEMS测试系统。利用此... 详细信息

微机电系统(MEMS)动态应力的瞬态特性决定了传统的应力测试系统无法直接满足它的测试需要。介绍了一种依据高频调制原理设计实现的基于拉曼光谱仪的MEMS动态应力测试系统,该测试系统是一个典型的光—机—电集成的MEMS测试系统。利用此测试系统对硅微谐振器支撑梁根部的单点进行了动态应力测试,测试结果与理论分析相吻合。实验表明,此测试系统具有高精度、非接触式、无损伤等特点,能很好地满足MEMS动态应力测试的需求。

关键词：动态应力 MEMS 拉曼光谱仪高频调制测试系统

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共振隧穿二极管的压阻特性测试与研究

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Journal of Semiconductors 2006年第10期27卷 1789-1793页

作者：毛海央熊继军张文栋薛晨阳桑胜波鲍爱达中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室电子测试技术国防重点实验室太原030051

设计并搭建了检测共振隧穿二极管(RTD)压阻特性的实验系统,测试了RTD结构在不同应力状态下I-V特性曲线的漂移.实验结果表明RTD结构压阻特性的灵敏度大于1×10-8Pa-1.为了更精确地定量表达其压阻特性,研究了同一RTD结构I-V特性的一致... 详细信息

设计并搭建了检测共振隧穿二极管(RTD)压阻特性的实验系统,测试了RTD结构在不同应力状态下I-V特性曲线的漂移.实验结果表明RTD结构压阻特性的灵敏度大于1×10-8Pa-1.为了更精确地定量表达其压阻特性,研究了同一RTD结构I-V特性的一致性,得到相同环境条件下RTD电阻的最大相对漂移量小于3%,其中1%由测试仪器造成.

关键词：共振隧穿二极管压阻特性一致性灵敏度喇曼光谱

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共振隧穿二极管Ⅰ-Ⅴ特性的一致性测试与研究

共振隧穿二极管Ⅰ-Ⅴ特性的一致性测试与研究

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第四届全国信息获取与处理学术会议

作者：毛海央张文栋熊继军薛晨阳中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室&电子测试技术国防重点实验室太原030051

共振隧穿二极管(RTD)具有类似于硅的压阻特性.为了定量表达RTD的压阻特性,对其Ⅰ-Ⅴ特性一致性的研究显得十分必要.文中设计一个恒温、恒压实验测试系统,测试同一个RTD结构在不同时间的Ⅰ-Ⅴ特性.实验结果表明,RTD结构的电阻在不同时间... 详细信息

共振隧穿二极管(RTD)具有类似于硅的压阻特性.为了定量表达RTD的压阻特性,对其Ⅰ-Ⅴ特性一致性的研究显得十分必要.文中设计一个恒温、恒压实验测试系统,测试同一个RTD结构在不同时间的Ⅰ-Ⅴ特性.实验结果表明,RTD结构的电阻在不同时间的最大相对漂移量小于3％.随后测试仪器的测量误差,发现其中1％的相对漂移量由测试仪器造成.

关键词：共振隧穿二极管压阻特性漂移量

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