检索结果-内蒙古大学图书馆

计算机辅助设计与图形学学报 2011年第3期23卷 448-455页

作者：付斌章韩银和李华伟李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049

为了满足系统芯片对通信带宽的要求,片上网络正逐渐取代总线成为当前多核及众核系统的主流互连方案,然而由于芯片特征尺寸的不断减小,芯片内发生故障的概率显著增加.为了提供可靠的片上通信,提出一种低成本的可重构路由算法.该算法基于... 详细信息

为了满足系统芯片对通信带宽的要求,片上网络正逐渐取代总线成为当前多核及众核系统的主流互连方案,然而由于芯片特征尺寸的不断减小,芯片内发生故障的概率显著增加.为了提供可靠的片上通信,提出一种低成本的可重构路由算法.该算法基于无共享边界的矩形故障模型,按照故障区与网络边界的相对位置对故障区进行分类;针对不同类型的故障区定义了具体的路由器状态更新策略;重构后的片上网络可以容忍任意数目、任意分布的路由器以及链路故障.与当前容错设计方案不同,文中算法不需要增加虚拟通道来保证网络的无死锁特性,因此具有低成本、高可靠的特性.仿真实验结果表明,文中算法适用于处理器与缓存,或缓存与缓存之间的片上通信.

关键词：片上网络容错路由可重构路由转向模型

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

SoC总线串扰的精简MT测试集

引用

计算机辅助设计与图形学学报 2009年第4期21卷 474-480页

作者：张颖李华伟李晓维胡瑜中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049

多跳变(MT)故障模型是一种有效的总线串扰故障模型,可以测试由电容和电感导致的串扰故障,但是MT的原始测试集存在严重的向量冗余.通过分析MT原始测试集向量冗余的3类情况,利用欧拉回路对测试向量进行组合优化,得到MT精简测试集,同时不损... 详细信息

多跳变(MT)故障模型是一种有效的总线串扰故障模型,可以测试由电容和电感导致的串扰故障,但是MT的原始测试集存在严重的向量冗余.通过分析MT原始测试集向量冗余的3类情况,利用欧拉回路对测试向量进行组合优化,得到MT精简测试集,同时不损失MT故障覆盖率;还设计了MT故障模型的软件自测试程序来实施MT精简测试集,用于实速在线检测串扰故障,而不需要使用高速测试仪.实验结果表明,采用MT精简测试集可以有效地减少总线串扰测试的时间和向量存储开销.

关键词：多跳变故障模型向量冗余欧拉回路软件自测试

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种面向虚拟化云计算平台的内存优化技术

引用

计算机学报 2011年第4期34卷 684-693页

作者：李亚琼宋莹黄永兵中国科学院研究生院北京100049 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190

虚拟化技术和云计算平台的结合带来了全新的资源整合和使用模式,基于虚拟化技术的资源按需分配与调度可以提高云平台资源的利用率,提升云服务的服务质量,并降低云用户的总体拥有成本.但是,物理服务器的资源边界限制了资源的全局优化能力... 详细信息

虚拟化技术和云计算平台的结合带来了全新的资源整合和使用模式,基于虚拟化技术的资源按需分配与调度可以提高云平台资源的利用率,提升云服务的服务质量,并降低云用户的总体拥有成本.但是,物理服务器的资源边界限制了资源的全局优化能力.文中引入了一种面向虚拟化云平台的全局内存优化框架——通过引入由逻辑地址空间和全局扩展地址空间构成的双层地址空间映射机制来构建跨物理服务器资源边界的高效、可靠的内存资源抽象.同时,引入一种透明的页面交换机制来实现对于虚拟机透明的空闲页面回收,达到资源流动的目的.实验结果表明,该框架能够很好地优化云平台中内存资源配置,提升整个平台的资源利用率,并对关键任务的执行有显著的加速作用.

关键词：云计算虚拟化内存优化透明内存流动

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法

引用

计算机辅助设计与图形学学报 2010年第9期22卷 1428-1434页

作者：裴颂伟李华伟李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049

选择关键的常规扫描触发器进行置换是采用部分增强型扫描时延测试方法的核心问题.通过定义常规扫描触发器和未检测跳变时延故障的相关度的概念及其计算方法,提出一种触发器选择方法.首先找到被测电路中采用捕获加载方法不可测,但采用增... 详细信息

选择关键的常规扫描触发器进行置换是采用部分增强型扫描时延测试方法的核心问题.通过定义常规扫描触发器和未检测跳变时延故障的相关度的概念及其计算方法,提出一种触发器选择方法.首先找到被测电路中采用捕获加载方法不可测,但采用增强型扫描可测的跳变时延故障;然后依据常规扫描触发器与这些故障的相关度把少量关键的常规扫描触发器替换成为增强型扫描单元,从而有效地提高电路中跳变时延故障被检测的概率.实验结果表明,采用文中方法在可以接受的硬件开销下能有效地提高被测电路中的跳变时延故障覆盖率.

关键词：时延测试跳变时延故障增强型扫描故障覆盖率触发器选择

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

高性能互联网络交换机研究与设计

引用

计算机研究与发展 2008年第12期45卷 2069-2078页

作者：王达伟曹政刘新春游定山孙凝晖中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院研究生院北京100049

高性能互联网络交换机是高性能计算机系统的核心部件.科学计算作为高性能计算机的上层应用,不仅要求交换机具有低延迟、高带宽的特性,还要求其在集合通信如广播、多播和同步操作等进行硬件级支持.HyperLink交换机,作为曙光5000计算机系... 详细信息

高性能互联网络交换机是高性能计算机系统的核心部件.科学计算作为高性能计算机的上层应用,不仅要求交换机具有低延迟、高带宽的特性,还要求其在集合通信如广播、多播和同步操作等进行硬件级支持.HyperLink交换机,作为曙光5000计算机系统互联网络的重要组成部件,具有38.4ns单级延迟和160Gbps聚合带宽,并能够同时支持16组多播和16组同步操作.理想情况下,1024个节点多播和同步操作可以在2μs内完成,大大加速了科学计算的性能.为了对HyperLink交换机性能进行评价,建立了周期精确的仿真模型.通过模拟证明,对于16端口输入缓冲交换机,3个虚通道是性价比最好的选择;当MTU为1KB时,4KB大小的输入缓冲就可达到最高单播吞吐率.采用理论分析的方法比较了具有相同网络带宽的多轨网络和单轨网络,分析表明,前者可以有效降低网络延迟,因此能够比后者提供更高的网络吞吐率.采用LogP模型分析了HyperLink多播和Barrier的性能,分析表明,HyperLink交换机具有良好扩展性,能够很好支持到数千节点.

关键词：互联网络交换机集合通信多播同步 ASIC设计

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

多核平台共享内存操作系统性能瓶颈分析及解决

引用

计算机研究与发展 2011年第12期48卷 2268-2276页

作者：袁清波赵健博陈明宇孙凝晖中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院研究生院北京100049

共享内存操作系统使用精心设计的锁来保护各种共享数据,对这些数据的访问需要首先获得对应的锁,当内核中同时有多个流程(系统调用、内核线程或中断处理程序等)试图获得同一个锁时会产生竞争,相关流程越多竞争就越激烈.随着系统中处理单... 详细信息

共享内存操作系统使用精心设计的锁来保护各种共享数据,对这些数据的访问需要首先获得对应的锁,当内核中同时有多个流程(系统调用、内核线程或中断处理程序等)试图获得同一个锁时会产生竞争,相关流程越多竞争就越激烈.随着系统中处理单元数目的增长,这些流程的数量也在不断增加,此时,对锁的竞争会影响系统的整体性能,甚至成为瓶颈.另一方面,操作系统与应用程序在同一处理器核上交替运行,因为硬件cache容量有限,导致操作系统的代码和数据经常替换掉应用程序的代码和数据.当应用程序重新被调度运行时,需从更慢速的cache,甚至从内存中读取这些代码和数据,从而降低了性能.通过在一台16核AMD节点上的相关测试,以上问题得到了量化验证,并针对这些问题提出了一种异构操作系统模型.在此模型下,应用程序和操作系统分别运行在不同的处理器核上,实验显示这种模式可以有效降低对锁的竞争和对cache的污染.

关键词：多核异构操作系统锁竞争 cache 性能评测

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

基于SAT的快速电路时延计算

引用

计算机辅助设计与图形学学报 2011年第3期23卷 480-487页

作者：何子键吕涛李华伟李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049

针对现有的基于时间展开电路求解时延算法在电路规模较大或者时延模型精度较高时效率较低的问题,提出一种基于子电路抽取的电路时延计算方法.基于展开电路,通过分析输出端约束找到相关的输出端,利用回溯抽取与这些输出端相关的逻辑锥子... 详细信息

针对现有的基于时间展开电路求解时延算法在电路规模较大或者时延模型精度较高时效率较低的问题,提出一种基于子电路抽取的电路时延计算方法.基于展开电路,通过分析输出端约束找到相关的输出端,利用回溯抽取与这些输出端相关的逻辑锥子电路,并在子电路而不是在展开电路上进行求解,由于抽取的子电路的规模远小于展开电路的规模,加速了求解过程;同时提出了抽象电路的概念,并分析了抽取子电路的同构特性,通过在抽象电路上进行预处理得到学习子句,从而可以利用学习子句加速每一次的SAT求解过程.在ISCAS85和ISCAS89电路上的实验结果表明,采用文中方法使得电路时延的求解效率平均提高了约8倍.

关键词：可满足性电路时延电路展开

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

利用内容可寻址技术的存储器BISR方法

引用

计算机辅助设计与图形学学报 2009年第4期21卷 467-473页

作者：谢远江王达胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049

随着缺陷密度的增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元已成为提高存储器成品率的常用方法.然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低、冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资... 详细信息

随着缺陷密度的增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元已成为提高存储器成品率的常用方法.然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低、冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资源结构.针对此,提出了利用内容可寻址技术结合冗余行和冗余列来修复存储器的方法.该方法中,内容可寻址存储器不仅用于存储修复信息,还被用于当作冗余字替换故障字实现字修复,而冗余行和冗余列则分别用于修复行或列地址译码故障;并在译码逻辑输出端设计控制电路,避免对已修复的故障字进行访问.文中方法简单易行、面积开销小、利于扩展且修复效果好.实验结果表明,该方法在获得同样修复效率的情况下,冗余资源和内容可寻址存储器面积开销最小约为已有二维冗余修复方法的20%.

关键词：内建自测试内建自诊断内建冗余分析内建自修复内容可寻址存储器

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

面向最大串扰噪声的测试生成方法

引用

计算机辅助设计与图形学学报 2009年第4期21卷 448-453页

作者：张旻晋李华伟李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049

随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.为此提出一种面向受害线上最大串扰噪声的测试生成方法,该方法基于多串扰脉冲故障模型,能够有效地模型化故障并生成合适的向量.为了... 详细信息

随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.为此提出一种面向受害线上最大串扰噪声的测试生成方法,该方法基于多串扰脉冲故障模型,能够有效地模型化故障并生成合适的向量.为了能够激活尽可能多的侵略线以造成受害线上的最大脉冲噪声,首先将测试生成问题转化为一个加权的最大可满足问题,再使用解题器求解,以得到测试向量;此外,将子通路约束加入到可满足问题的描述之中,以保证所有被激活的侵略线能够同时跳变.针对ISCAS89电路的实验结果显示,文中方法适用于较大规模电路的串扰噪声测试,并且具有可接受的运行时间.

关键词：串扰集成电路测试测试生成最大可满足问题

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

扫描链故障确定性诊断向量生成算法

引用

计算机辅助设计与图形学学报 2009年第1期21卷 6-12页

作者：王飞胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049

扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,是提高测试质量的有效手段.但由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,因此扫描链故障导致的失效可能会达到失效总数的50%.提出一种扫描链故障确定性诊断向量生成算法:首... 详细信息

扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,是提高测试质量的有效手段.但由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,因此扫描链故障导致的失效可能会达到失效总数的50%.提出一种扫描链故障确定性诊断向量生成算法:首先建立了诊断扫描链故障的电路模型,利用该模型可以采用现有固定型故障测试生成工具产生扫描链诊断向量;然后提出一种故障响应分析方法,以有效地降低候选故障对的数量,从而在保障诊断质量的前提下减少诊断向量数目,缩短了诊断过程的时间.实验结果表明,在测试诊断精确度、故障分辨率和向量生成时间方面,该算法均优于已有的扫描链诊断向量生成方法.

关键词：大规模集成电路测试扫描链故障诊断向量生成

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

通借通还

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：