检索结果-内蒙古大学图书馆

第六届中国测试学术会议

作者：孔鲁宁胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

随着芯片功能和性能的不断提高,众核和多核处理器的可测试性设计(DFT)也变得日益复杂.传统的可测试性设计方法将整个芯片作为一个模块,进行扫描设计和存储器内建自测试设计,难以保证众核处理器的测试质量和测试开发周期.模块化的可测试... 详细信息

随着芯片功能和性能的不断提高,众核和多核处理器的可测试性设计(DFT)也变得日益复杂.传统的可测试性设计方法将整个芯片作为一个模块,进行扫描设计和存储器内建自测试设计,难以保证众核处理器的测试质量和测试开发周期.模块化的可测试性设计方法既能实现单个模块与周围其它模块之间的独立性,又能使设计具有可扩展、高可测试性、低功耗以及易实现的特性,是解决上述问题的有效途径.本文基于Godson-T 16核处理器,提出了一种可扩展的测试访问机制(TAM)设计方法.在本文提出的方法中,测试访问机制不但具有将测试数据传输到测试模块和将测试响应数据传输到芯片外部的功能,而且通过可扩展的共享输入输出式广播结构实现了数据压缩的功能.本文还提出了一种新颖的外壳(Wrapper)结构,不仅能够实现被测模块的独立测试和增加可测试性,而且还能保留原有模块的同构性,使设计更容易实现,通过增加少量的译码逻辑即可扩展到众核处理器.

关键词：测试访问机制外壳可扩展模块化全扫描众核

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多核处理器的核级冗余容错技术

多核处理器的核级冗余容错技术

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第六届中国测试学术会议

作者：单书畅胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

随着半导体工艺技术的不断进步,单个芯片上可集成的处理器核越来越多,处理器技术正逐步进入多核时代.然而,晶体管特征尺寸的不断减小以及阈值电压的不断降低,使得处理器的可靠性问题也日益严重.在多核环境中,如何有效地利用片上丰富的... 详细信息

随着半导体工艺技术的不断进步,单个芯片上可集成的处理器核越来越多,处理器技术正逐步进入多核时代.然而,晶体管特征尺寸的不断减小以及阈值电压的不断降低,使得处理器的可靠性问题也日益严重.在多核环境中,如何有效地利用片上丰富的硬件资源进行可靠性设计,成为当前体系结构设计的热点问题之一.本文分析了现有核级容错技术,并提出了一种基于高速缓存一致性协议的核级容错方案.

关键词：多核处理器可靠性容错设计高速缓存一致性协议

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ESDQL:一种评估小时延缺陷覆盖率的度量标准

ESDQL:一种评估小时延缺陷覆盖率的度量标准

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第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)

作者：朱雪峰李华伟李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

随着工艺的不断发展,越来越多的因素会在电路中引入小时延缺陷,因此检测小时延缺陷变的非常必要。本文首先回顾己有的几个评估小时延缺陷覆盖情况的度量标准并分析它们的优缺点。这些度量标准由于没有排除己经被测到的大时延缺陷的干扰... 详细信息

随着工艺的不断发展,越来越多的因素会在电路中引入小时延缺陷,因此检测小时延缺陷变的非常必要。本文首先回顾己有的几个评估小时延缺陷覆盖情况的度量标准并分析它们的优缺点。这些度量标准由于没有排除己经被测到的大时延缺陷的干扰而不能准确反映测试集对于小时延缺陷的覆盖情况。进而提出了一种用来准确评估小时延缺陷覆盖率的新的度量标准:扩展统计时延质量等级(Extended Statistical DelayQuality Level,ESDQL)。实验结果表明ESDQL在评估测试集的时延测试质量以及对测试向量自动生成(Automatic Test Pattern Generation,ATPG)的指导方面都优于己有的度量标准。

关键词：小时延缺陷跳变故障测试生成覆盖率

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基于输出违例概率的时延向量测试质量评估

基于输出违例概率的时延向量测试质量评估

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第六届中国测试学术会议

作者：王杰梁华国李华伟闵应骅李晓维合肥工业大学计算机与信息学院中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所

评估向量针对小时延缺陷的测试质量是解决小时延缺陷测试问题的一个重要环节.本文把冒险引入了评估过程,提出了一种基于输出违例概率的测试质量评估方法.该方法定义了到达时间窗口和输出违例概率的概念,使用输出违例概率来反映测试向量... 详细信息

评估向量针对小时延缺陷的测试质量是解决小时延缺陷测试问题的一个重要环节.本文把冒险引入了评估过程,提出了一种基于输出违例概率的测试质量评估方法.该方法定义了到达时间窗口和输出违例概率的概念,使用输出违例概率来反映测试向量的小时延缺陷检测能力,有效地避免了忽略冒险引起的计算误差,从而准确的评估了向量对小时延缺陷的检测质量.实验结果表明,相对于基于输出偏移的国际同类方法,本文的评估方法不增加额外的时间开销;在其指导下筛选出来的向量具有更高的测试质量.

关键词：小时延缺陷时延测试冒险测试质量评估输出违例概率

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基于内容可寻址存储器的存储器内建自修复方法

基于内容可寻址存储器的存储器内建自修复方法

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第五届中国测试学术会议

作者：谢远江王达胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

随着缺陷密度增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元,成为提高存储器成品率的常用方法。然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低,冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资源结... 详细信息

随着缺陷密度增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元,成为提高存储器成品率的常用方法。然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低,冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资源结构。本文提出了一种使用内容可寻址存储器作为冗余字来替代故障字,使用冗余行和冗余列分别修复行/列地址译码故障的修复方法。本文所提的冗余设计和分配方案简单易行,冗余资源和CAM的面积开销小,不仅便于扩展到不同类型的存储器,且不受限于厂商提供的冗余资源,且对高失效密度存储器具有更好的修复效果。实验结果表明,这种修复方法在获得同样修复效率的情况下,冗余资源和CAM面积开销最小为已有二维冗余修复方法的25%左右。

关键词：内建自测试内建自诊断内建冗余分析内建自修复内容可寻址存储器

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Flash存储器测试与修复方法概述

Flash存储器测试与修复方法概述

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第五届中国测试学术会议

作者：王达胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

Flash存储器作为一种非易失性存储器,由于其特有的低功耗、存储密度大等特性被广泛应用于各种便携式电子设备中。由于深亚微米工艺的不确定性,Flash存储器在生产过程中存在各种缺陷,从而导致存储器失效,成品率降低。如何有效地检测各种... 详细信息

Flash存储器作为一种非易失性存储器,由于其特有的低功耗、存储密度大等特性被广泛应用于各种便携式电子设备中。由于深亚微米工艺的不确定性,Flash存储器在生产过程中存在各种缺陷,从而导致存储器失效,成品率降低。如何有效地检测各种缺陷引起的故障,提高存储器成品率和可靠性是学术界和业界共同关注的问题。本文通过介绍Flash存储器特有的故障类型,简要阐述了Flash存储器的测试流程和测试算法,并简单描述了修复Flash存储器修复方法所面临的问题,如修复时需要考虑的冗余结构设置和冗余分配方法受到的约束等。

关键词： Flash存储器故障类型测试方法冗余分配

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一种确定性扫描链故障诊断向量的生成方法

一种确定性扫描链故障诊断向量的生成方法

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第五届中国测试学术会议

作者：王飞胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,该方法是提高测试质量的有效手段。由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,扫描链故障导致的失效可能会占到失效总数的50%,因此本文提出了一种确定性扫描链诊断向量的生... 详细信息

扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,该方法是提高测试质量的有效手段。由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,扫描链故障导致的失效可能会占到失效总数的50%,因此本文提出了一种确定性扫描链诊断向量的生成方法。该方法首先建立了诊断扫描链故障的电路模型,利用该模型可以采用现有固定型故障测试生成工具产生扫描链诊断向量。此后,本文提出了一种故障响应分析方法,在该方法的基础上,可以有效降低候选故障对的数量,从而在不降低诊断质量的前提下减少诊断向量数目,降低了诊断过程的时间开销。实验表明,在测试诊断精确度,故障分辨率和向量生成时间方面,该算法均优于已有的扫描链诊断向量生成方法。

关键词：集成电路测试扫描链故障诊断向量生成

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HPP交换芯片逻辑验证设计

HPP交换芯片逻辑验证设计

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第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET'08)

作者：王达伟刘力轲刘兴奎中国科学院计算技术研究所北京 100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京 100190 中国科学院研究生院北京 100039 中国科学院计算技术研究所北京 100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京 100190

HPP交换芯片,作为曙光5000系统互联网络的重要组成部件,同时具有单播,多播和同步功能,此外还能够支持带外监控和配置管理功能.芯片功能的增加带来了芯片面积增大和状态空间急剧膨胀,大大增加芯片验证难度.本文重点讨论了HPP交换芯片验... 详细信息

HPP交换芯片,作为曙光5000系统互联网络的重要组成部件,同时具有单播,多播和同步功能,此外还能够支持带外监控和配置管理功能.芯片功能的增加带来了芯片面积增大和状态空间急剧膨胀,大大增加芯片验证难度.本文重点讨论了HPP交换芯片验证过程中采用的高级验证方法,并提出加快功能验证的策略.

关键词： HPP交换芯片功能验证逻辑验证覆盖率

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曙光5000芯片组系统级功能验证平台

曙光5000芯片组系统级功能验证平台

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2009年全国理论计算机科学学术年会

作者：刘涛王凯李晓民安学军中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院研究生院北京100049 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190

曙光5000芯片组是曙光5000 计算单元中的系统控制器,它通过HT接口连接两颗CPU并提供高速网络通信能力。为了确保曙光5000芯片组的功能正确性,为其设计了系统级功能验证平台SVP。SVP采用分层结构对系统进行建模,通过对本地计算单元的系... 详细信息

曙光5000芯片组是曙光5000 计算单元中的系统控制器,它通过HT接口连接两颗CPU并提供高速网络通信能力。为了确保曙光5000芯片组的功能正确性,为其设计了系统级功能验证平台SVP。SVP采用分层结构对系统进行建模,通过对本地计算单元的系统软件行为、硬件平台功能以及远程计算单元的网络行为进行模拟,提供了接近真实系统的验证环境。在曙光5000芯片组的验证过程中,SVP发现并排除了逻辑设计中的大多数功能错误,通过并行验证加速了验证覆盖率的收敛过程。

关键词：芯片组功能验证逻辑设计控制器分层结构

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一个新结构低功耗2.5 GHz CMOS LC压控振荡器的设计

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电子器件 2008年第3期31卷 814-816页

作者：张标陈岚中国科学院计算技术研究所中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100080 中国科学院微电子研究所北京100080 中国科学院研究生院北京100080

压控振荡器是锁相环电路的关键的组成部分之一,采用新的电流复用结构,可以明显降低该电路的功耗,而且由于没有尾电流,新结构还能有效改善电路的相位噪声。在TSMC 0.18 CMOS 1P6M工艺下的仿真结果表明:在1.25 V供电电压下振荡器的调节范... 详细信息

压控振荡器是锁相环电路的关键的组成部分之一,采用新的电流复用结构,可以明显降低该电路的功耗,而且由于没有尾电流,新结构还能有效改善电路的相位噪声。在TSMC 0.18 CMOS 1P6M工艺下的仿真结果表明:在1.25 V供电电压下振荡器的调节范围是2.26 GHz到2.76 GHz,在频偏1 MHz处的相位噪声为-130 dBc/Hz,平均功耗不超过1.2 mW。

关键词：压控振荡器低功耗电流复用相位噪声锁相环

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