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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

137 篇 期刊文献
69 篇 会议

馆藏范围

206 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

199 篇 工学
- 155 篇 计算机科学与技术...
- 43 篇 软件工程
- 35 篇 电子科学与技术（可...
- 9 篇 仪器科学与技术
- 8 篇 信息与通信工程
- 7 篇 机械工程
- 5 篇 网络空间安全
- 4 篇 建筑学
- 3 篇 控制科学与工程
- 2 篇 化学工程与技术
- 1 篇 材料科学与工程（可...
- 1 篇 航空宇航科学与技...
17 篇 管理学
- 17 篇 管理科学与工程(可...
5 篇 理学
- 2 篇 生物学
- 2 篇 系统科学
4 篇 艺术学
- 4 篇 设计学（可授艺术学...
1 篇 军事学
- 1 篇 军队指挥学

主题

8 篇 集成电路
7 篇 无线传感器网络
7 篇 片上网络
7 篇 功能验证
7 篇 高性能计算
7 篇 功耗评估
6 篇 容错
6 篇 多核处理器
6 篇 性能优化
5 篇 虚拟机
5 篇 芯片组
5 篇 覆盖率
5 篇 小时延缺陷
4 篇 验证
4 篇 多核
4 篇 体系结构
4 篇 高性能计算机
4 篇 片上多核处理器
4 篇 寄存器重命名
4 篇 时延测试

机构

94 篇 中国科学院研究生...
87 篇 中国科学院计算技...
72 篇 中国科学院计算机...
51 篇 中国科学院计算技...
12 篇 中国科学院计算技...
11 篇 北京龙芯中科技术...
10 篇 中国科学院大学
8 篇 龙芯中科技术有限...
8 篇 中国科学院计算机...
7 篇 计算机系统结构国...
7 篇 中国科学技术大学
6 篇 中国科学院研究生...
5 篇 北京交通大学
5 篇 中国科学院计算技...
5 篇 合肥工业大学
3 篇 北京控制工程研究...
3 篇 中国科学院微电子...
2 篇 中国科学院计算技...
2 篇 中国科学院计算技...
2 篇 清华大学

作者

51 篇 李晓维
22 篇 李华伟
19 篇 孙凝晖
18 篇 韩银和
17 篇 胡瑜
16 篇 章隆兵
16 篇 li xiaowei
15 篇 胡伟武
13 篇 沈海华
10 篇 张戈
9 篇 陈明宇
9 篇 安学军
9 篇 li huawei
9 篇 zhang longbing
9 篇 徐勇军
8 篇 hu weiwu
8 篇 张兆庆
8 篇 刘奇
8 篇 han yinhe
8 篇 zhang ge

语言

206 篇 中文

检索条件"机构=中国科学院计算技术研究所计算机系统结构重点实验室"

共 206 条记录，以下是161-170 订阅

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详细简洁

排序：

HPP控制器的系统级功能验证

HPP控制器的系统级功能验证

引用

计算机学会第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛

作者：刘涛柴双勇蔺建邦弓睿安学军中国科学院计算技术研究所中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院研究生院

HPP（Hyper Parallel Processing）控制器应用在超龙一号和曙光6000节点中,提供了CPU之间的互连通路,实现了节点内统一地址空间和节点内数据通信功能。为了对HPP控制器进行有效的功能验证,设计了系统级功能验证平台HPPVP,采用基于层次... 详细信息

HPP（Hyper Parallel Processing）控制器应用在超龙一号和曙光6000节点中,提供了CPU之间的互连通路,实现了节点内统一地址空间和节点内数据通信功能。为了对HPP控制器进行有效的功能验证,设计了系统级功能验证平台HPPVP,采用基于层次结构的模拟方法进行系统建模,通过插件机制来实现动态扩展能力。采用了并行验证与自动化工具来加速验证迭代过程,最终发现了HPP控制器中的69处错误,确保了其功能正确性。

关键词： HPP控制器功能验证建模插件覆盖率

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面向众核处理器的可扩展测试访问机制

面向众核处理器的可扩展测试访问机制

引用

第六届中国测试学术会议

作者：孔鲁宁胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

随着芯片功能和性能的不断提高,众核和多核处理器的可测试性设计(DFT)也变得日益复杂.传统的可测试性设计方法将整个芯片作为一个模块,进行扫描设计和存储器内建自测试设计,难以保证众核处理器的测试质量和测试开发周期.模块化的可测试... 详细信息

随着芯片功能和性能的不断提高,众核和多核处理器的可测试性设计(DFT)也变得日益复杂.传统的可测试性设计方法将整个芯片作为一个模块,进行扫描设计和存储器内建自测试设计,难以保证众核处理器的测试质量和测试开发周期.模块化的可测试性设计方法既能实现单个模块与周围其它模块之间的独立性,又能使设计具有可扩展、高可测试性、低功耗以及易实现的特性,是解决上述问题的有效途径.本文基于Godson-T 16核处理器,提出了一种可扩展的测试访问机制(TAM)设计方法.在本文提出的方法中,测试访问机制不但具有将测试数据传输到测试模块和将测试响应数据传输到芯片外部的功能,而且通过可扩展的共享输入输出式广播结构实现了数据压缩的功能.本文还提出了一种新颖的外壳(Wrapper)结构,不仅能够实现被测模块的独立测试和增加可测试性,而且还能保留原有模块的同构性,使设计更容易实现,通过增加少量的译码逻辑即可扩展到众核处理器.

关键词：测试访问机制外壳可扩展模块化全扫描众核

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多核处理器的核级冗余容错技术

多核处理器的核级冗余容错技术

引用

第六届中国测试学术会议

作者：单书畅胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

随着半导体工艺技术的不断进步,单个芯片上可集成的处理器核越来越多,处理器技术正逐步进入多核时代.然而,晶体管特征尺寸的不断减小以及阈值电压的不断降低,使得处理器的可靠性问题也日益严重.在多核环境中,如何有效地利用片上丰富的... 详细信息

随着半导体工艺技术的不断进步,单个芯片上可集成的处理器核越来越多,处理器技术正逐步进入多核时代.然而,晶体管特征尺寸的不断减小以及阈值电压的不断降低,使得处理器的可靠性问题也日益严重.在多核环境中,如何有效地利用片上丰富的硬件资源进行可靠性设计,成为当前体系结构设计的热点问题之一.本文分析了现有核级容错技术,并提出了一种基于高速缓存一致性协议的核级容错方案.

关键词：多核处理器可靠性容错设计高速缓存一致性协议

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ESDQL:一种评估小时延缺陷覆盖率的度量标准

ESDQL:一种评估小时延缺陷覆盖率的度量标准

引用

第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)

作者：朱雪峰李华伟李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

随着工艺的不断发展,越来越多的因素会在电路中引入小时延缺陷,因此检测小时延缺陷变的非常必要。本文首先回顾己有的几个评估小时延缺陷覆盖情况的度量标准并分析它们的优缺点。这些度量标准由于没有排除己经被测到的大时延缺陷的干扰... 详细信息

随着工艺的不断发展,越来越多的因素会在电路中引入小时延缺陷,因此检测小时延缺陷变的非常必要。本文首先回顾己有的几个评估小时延缺陷覆盖情况的度量标准并分析它们的优缺点。这些度量标准由于没有排除己经被测到的大时延缺陷的干扰而不能准确反映测试集对于小时延缺陷的覆盖情况。进而提出了一种用来准确评估小时延缺陷覆盖率的新的度量标准:扩展统计时延质量等级(Extended Statistical DelayQuality Level,ESDQL)。实验结果表明ESDQL在评估测试集的时延测试质量以及对测试向量自动生成(Automatic Test Pattern Generation,ATPG)的指导方面都优于己有的度量标准。

关键词：小时延缺陷跳变故障测试生成覆盖率

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一种高性能计算机系统控制器的研究与实现

一种高性能计算机系统控制器的研究与实现

引用

2007年全国高性能计算学术年会

作者：方志斌孙凝晖安学军胡鹏李晓民中国科学院计算技术研究所北京 100080 中国科学院研究生院北京 100039 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京 100080 中国科学院计算技术研究所北京 100080 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京 100080

本文提出了一种高性能计算机的系统控制器,即系统控制器直接集成通信网卡并利用全局地址空间进行高性能通信。本文提出了该系统控制器的优点和面临问题,研究了该系统控制器设计的关键技术,关键技术包括集成网卡设计、两级互联结构和三... 详细信息

本文提出了一种高性能计算机的系统控制器,即系统控制器直接集成通信网卡并利用全局地址空间进行高性能通信。本文提出了该系统控制器的优点和面临问题,研究了该系统控制器设计的关键技术,关键技术包括集成网卡设计、两级互联结构和三套复用网络、全局地址空间和同步原语支持、内部通信协议和微体系结构等。基于以上研究利用龙芯2E处理器实现了该系统控制器,测试结果为FPGA实现下的系统控制器频率可达到80MHz,连续传输256字节数据时通信延迟为650ns,带宽达到512MB/s。

关键词：系统控制器高性能计算机集成网卡全局地址空间通信协议

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一种确定性扫描链故障诊断向量的生成方法

一种确定性扫描链故障诊断向量的生成方法

引用

第五届中国测试学术会议

作者：王飞胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,该方法是提高测试质量的有效手段。由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,扫描链故障导致的失效可能会占到失效总数的50%,因此本文提出了一种确定性扫描链诊断向量的生... 详细信息

扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,该方法是提高测试质量的有效手段。由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,扫描链故障导致的失效可能会占到失效总数的50%,因此本文提出了一种确定性扫描链诊断向量的生成方法。该方法首先建立了诊断扫描链故障的电路模型,利用该模型可以采用现有固定型故障测试生成工具产生扫描链诊断向量。此后,本文提出了一种故障响应分析方法,在该方法的基础上,可以有效降低候选故障对的数量,从而在不降低诊断质量的前提下减少诊断向量数目,降低了诊断过程的时间开销。实验表明,在测试诊断精确度,故障分辨率和向量生成时间方面,该算法均优于已有的扫描链诊断向量生成方法。

关键词：集成电路测试扫描链故障诊断向量生成

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基于内容可寻址存储器的存储器内建自修复方法

基于内容可寻址存储器的存储器内建自修复方法

引用

第五届中国测试学术会议

作者：谢远江王达胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

随着缺陷密度增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元,成为提高存储器成品率的常用方法。然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低,冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资源结... 详细信息

随着缺陷密度增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元,成为提高存储器成品率的常用方法。然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低,冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资源结构。本文提出了一种使用内容可寻址存储器作为冗余字来替代故障字,使用冗余行和冗余列分别修复行/列地址译码故障的修复方法。本文所提的冗余设计和分配方案简单易行,冗余资源和CAM的面积开销小,不仅便于扩展到不同类型的存储器,且不受限于厂商提供的冗余资源,且对高失效密度存储器具有更好的修复效果。实验结果表明,这种修复方法在获得同样修复效率的情况下,冗余资源和CAM面积开销最小为已有二维冗余修复方法的25%左右。

关键词：内建自测试内建自诊断内建冗余分析内建自修复内容可寻址存储器

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Flash存储器测试与修复方法概述

Flash存储器测试与修复方法概述

引用

第五届中国测试学术会议

作者：王达胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所中国科学院研究生院

Flash存储器作为一种非易失性存储器,由于其特有的低功耗、存储密度大等特性被广泛应用于各种便携式电子设备中。由于深亚微米工艺的不确定性,Flash存储器在生产过程中存在各种缺陷,从而导致存储器失效,成品率降低。如何有效地检测各种... 详细信息

Flash存储器作为一种非易失性存储器,由于其特有的低功耗、存储密度大等特性被广泛应用于各种便携式电子设备中。由于深亚微米工艺的不确定性,Flash存储器在生产过程中存在各种缺陷,从而导致存储器失效,成品率降低。如何有效地检测各种缺陷引起的故障,提高存储器成品率和可靠性是学术界和业界共同关注的问题。本文通过介绍Flash存储器特有的故障类型,简要阐述了Flash存储器的测试流程和测试算法,并简单描述了修复Flash存储器修复方法所面临的问题,如修复时需要考虑的冗余结构设置和冗余分配方法受到的约束等。

关键词： Flash存储器故障类型测试方法冗余分配

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曙光5000网络接口控制器原型的功能验证

曙光5000网络接口控制器原型的功能验证

引用

2007年全国高性能计算学术年会

作者：王凯李晓民安学军中国科学院计算技术研究所北京 100080 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京 100080 中国科学院研究生院北京 100049 中国科学院计算技术研究所北京 100080 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京 100080

网络接口控制器是曙光5000芯片组中最重要的组成部分之一,它将处理节点和互连网络连接了起来。在对网络接口控制器的功能验证中,使用了灰盒子验证模型和功能强大的SystemVerilog设计验证语言。通过对网络接口控制器和激励的模拟,功能验... 详细信息

网络接口控制器是曙光5000芯片组中最重要的组成部分之一,它将处理节点和互连网络连接了起来。在对网络接口控制器的功能验证中,使用了灰盒子验证模型和功能强大的SystemVerilog设计验证语言。通过对网络接口控制器和激励的模拟,功能验证发现并排除了逻辑设计中存在的大多数错误.验证过程中对覆盖率的分析,为网络接口控制器功能验证的深入起了指导性的作用。此外,验证过程中得到的带宽、异步时钟频率比等数据,将为网络接口控制器、乃至整个系统的进一步设计提供了参考。

关键词：网络接口控制器功能验证 SystemVerilog语言覆盖率模拟仿真

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集成电路中的片内时延测量技术

集成电路中的片内时延测量技术

引用

第十三届全国容错计算学术会议

作者：裴颂伟李华伟李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室，北京 100190 中国科学院计算技术研究所，北京 100190 中国科学院研究生院，北京 100049 中国科学院计算机系统结构重点实验室，北京 100190 中国科学院计算技术研究所，北京 100190

随着工艺技术进入深亚微米时代，现代集成电路中对定时的要求变得越来越严格。时延缺陷对芯片的功能、性能和可靠性带来很大的影响，为了确保芯片的质量，非常有必要检测到它们。片内时延测量技术为芯片时廷的测试和调试提供了一种有效... 详细信息

随着工艺技术进入深亚微米时代，现代集成电路中对定时的要求变得越来越严格。时延缺陷对芯片的功能、性能和可靠性带来很大的影响，为了确保芯片的质量，非常有必要检测到它们。片内时延测量技术为芯片时廷的测试和调试提供了一种有效的手段，并且已经成为研究的热点。在本文当中，我们首先介绍了片内时延测量技术的基本概念和分类，然后介绍了几种高精度的采用数字方法实现的片内时延测量技术。最后，从时延测试向量所敏化的通路的角度，分析了片内时延测量的结果。

关键词：时延测量芯片调试通路时延集成电路

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