检索结果-内蒙古大学图书馆

软件学报 2002年第8期13卷 1508-1514页

作者：宫秀军史忠植中国科学院计算技术研究所智能信息处理开放实验室北京100080

随着互联网信息的增长,Web挖掘已经成为数据挖掘研究的热点之一.网页分类是通过学习大量的带有类别标注的训练样本来预测网页的类别,人工标注这些训练样本是相当繁琐的.网页聚类通过一定的相似性度量,将相关网页归并到一类.然而传统的... 详细信息

随着互联网信息的增长,Web挖掘已经成为数据挖掘研究的热点之一.网页分类是通过学习大量的带有类别标注的训练样本来预测网页的类别,人工标注这些训练样本是相当繁琐的.网页聚类通过一定的相似性度量,将相关网页归并到一类.然而传统的聚类算法对解空间的搜索带有盲目性和缺乏语义特征.提出了两阶段的半监督文本学习策略.第1阶段,利用贝叶斯潜在语义模型来标注含有潜在类别主题词变量的网页的类别;第2阶段,利用简单贝叶斯模型,在第1阶段类别标注的基础上,通过EM(expectation maximization)算法对不含有潜在类别主题词变量的文档作类别标注.实验结果表明,该算法具有很高的精度和召回率.

关键词：贝叶斯潜在语义分析半监督学习简单贝叶斯分类期望最大化算法 Web 数据挖掘互联网网页分类

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数字电路并发差错检测的新概念

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计算机研究与发展 1999年第9期36卷 1133-1141页

作者：江建慧闵应骅施鸿宝上海铁道大学计算技术研究所上海200331 中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室北京100080

并发差错检测是提高数字电路与系统可信性的重要技术．文中建立了一种基本并发差错检测电路的结构模型，它由实现电路基本功能的基本功能模块和实现电路并发差错检测功能的检测器两部分级联所构成；提出了表征基于部分自校验概念的并发... 详细信息

并发差错检测是提高数字电路与系统可信性的重要技术．文中建立了一种基本并发差错检测电路的结构模型，它由实现电路基本功能的基本功能模块和实现电路并发差错检测功能的检测器两部分级联所构成；提出了表征基于部分自校验概念的并发差错检测机制的一组新概念：精简强故障保险、精简强变量分离、精简强自校验、ｋ容错精简强故障保险、ｋ容错精简强变量分离和ｋ容错精简强自校验，并研究了数字电路并发差错检测的主要概念之间的关系；证明了用基本功能模块与检测器互连。

关键词：数字电路并发差错检测校验

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织物纹理的计算机生成技术

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软件学报 1998年第6期9卷 409-413页

作者：徐迎庆刘慎权齐东旭中国科学院软件研究所中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室北方工业大学CAD研究中心

纹理是真实感图象最重要的特征之一，而织物纹理是决定服装风格特征的一个重要因素．由于织物纹理的多样性和复杂性，在计算机图形学和服装ＣＡＤ技术的研究中，如何用计算机生成漂亮、逼真的服装面料以及织物纹理就成为一个非常有趣并... 详细信息

纹理是真实感图象最重要的特征之一，而织物纹理是决定服装风格特征的一个重要因素．由于织物纹理的多样性和复杂性，在计算机图形学和服装ＣＡＤ技术的研究中，如何用计算机生成漂亮、逼真的服装面料以及织物纹理就成为一个非常有趣并富有挑战性的问题．本文基于Ａｒｎｏｌｄ变换和生命游戏算法提出了一种在计算机上生成多种复杂织物纹理的新方法．实验表明，利用该方法生成的织物纹理既十分漂亮又比较逼真．

关键词：织物纹理计算机图形学图象处理生成

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基于混合子分方法的曲面网格顶点与法向插值

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计算机辅助设计与图形学学报 2001年第6期13卷 537-544页

作者：李桂清李华中国科学院计算技术研究所智能信息处理开放实验室北京100080

顶点位置和法向插值是参数曲面造型的重要内容 .文中基于混合子分方法生成三次 B样条控制网格 ,使得相应的三次 B样条曲面插值初始网格中指定的顶点 ,并通过引入插值模板的概念 ,把法向的插值转化为对模板的旋转变换 ,使得曲面在不改变... 详细信息

顶点位置和法向插值是参数曲面造型的重要内容 .文中基于混合子分方法生成三次 B样条控制网格 ,使得相应的三次 B样条曲面插值初始网格中指定的顶点 ,并通过引入插值模板的概念 ,把法向的插值转化为对模板的旋转变换 ,使得曲面在不改变插值顶点的情况下插值法向 ,最后得到一张 C2 连续的插值指定顶点和法向的曲面 .与传统的逐片 Bézier或 Coons曲面片构造方法相比 ,此方法更为简洁且具有更高的连续阶 ,而且易于推广到高阶 B样条和任意拓扑情形。

关键词：顶点插值法向插值参数曲面造型网格 B样条 cad 混合子分方法

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基于重量分析的OBDD变量排序算法

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计算机学报 1997年第8期20卷 702-710页

作者：龙望宁杨士元闵应骅童诗白清华大学自动化系中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室

有序的二叉判决图（ＯＢＤＤ）是布尔表达式的一种有效表示方法，但它的体积对变量排序具有较强的依赖性．本文提出一种电路结构图，并在此基础上定义了原始输入重量和节点重量等参数，并建立了用重量分析来指导的ＯＢＤＤ变量排序算法... 详细信息

有序的二叉判决图（ＯＢＤＤ）是布尔表达式的一种有效表示方法，但它的体积对变量排序具有较强的依赖性．本文提出一种电路结构图，并在此基础上定义了原始输入重量和节点重量等参数，并建立了用重量分析来指导的ＯＢＤＤ变量排序算法．由于从考虑变量对输出函数的影响出发与从考虑ＯＢＤＤ节点共享性出发对变量排序的要求不同，本文分别设计了两类算法．实验结果表明，本文对大多数标准电路变量排序的效果都优于国际上的同类算法，尤其是对一些较难排序的电路（如Ｃ２６７０）效果更加突出．

关键词：二叉判决图 OBDD 变量排序逻辑设计计算机

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子分曲面尖锐特征生成

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软件学报 2000年第9期11卷 1189-1195页

作者：李桂清卢冰李现民李华中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室北京100080 广西大学南宁530004

虽然生成光滑曲面是自由曲面造型的一个主要追求目标 ,但在某些场合却又要求能够产生非光滑的特殊效果 ,即所谓的尖锐特征 ( sharp feature) .该文研究子分曲面造型中特殊效果的生成 ,提出一种基于网格拓扑构造的方法 ,把折痕、角、尖... 详细信息

虽然生成光滑曲面是自由曲面造型的一个主要追求目标 ,但在某些场合却又要求能够产生非光滑的特殊效果 ,即所谓的尖锐特征 ( sharp feature) .该文研究子分曲面造型中特殊效果的生成 ,提出一种基于网格拓扑构造的方法 ,把折痕、角、尖刺和锥等尖锐特征的生成统一到边界处理方法中 ,从而避免了为各种效果建立特殊子分规则 ,并在不改变已有子分模式的情况下实现特殊尖锐特征造型 .

关键词：子分曲面尖锐特征曲面造型 cad

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布尔过程在通路敏化中的应用

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计算机学报 1996年第8期19卷 568-575页

作者：赵行闵应骅李忠诚中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室

对高性能数字电路来说，定时（Ｔｉｍｉｎｇ）的研究与分析是非常重要的．新近提出的布尔过程是定时分析的有效的理论工具，它将电路的逻辑关系和定时关系统一地表示在一个表达式中．本文首先介绍布尔过程的基本概念，然后利用此方法对... 详细信息

对高性能数字电路来说，定时（Ｔｉｍｉｎｇ）的研究与分析是非常重要的．新近提出的布尔过程是定时分析的有效的理论工具，它将电路的逻辑关系和定时关系统一地表示在一个表达式中．本文首先介绍布尔过程的基本概念，然后利用此方法对任意输入模式下的通路敏化问题进行讨论──重新定义通路敏化的概念，并通过一个例子说明几种主要的敏化定义之间的不同，给出并证明判定通路敏化的充要条件．文章最后提出计算敏化通路的原始输入波形的算法，并给以证明．

关键词：布尔过程波形函数通路敏化数字电路

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图形硬件辅助的快速数据场体绘制方法

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计算机辅助设计与图形学学报 1997年第2期9卷 130-135页

作者：李斌梁训东刘慎权中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室

本文对规则数据场的体绘制过程进行了讨论，在此基础上给出一种图形硬件辅助的体绘制方法。该方法通过ＧＬ／ＯｐｅｎＧＬ提供的函数和接口，利用高性能图形工作站ＳＧＩ的硬件支持，快速实现规则数据场的体绘制。

关键词：数据场投影方法可视人体绘制图象处理

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一种通用的3D绘制图象合成方法

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计算机学报 1995年第5期18卷 351-356页

作者：马华东刘慎权中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室

合成３Ｄ绘制图象是一个有趣的主题．为了使复杂的图象更真实，需要合成场景的光照效果．已有的几种方法在合成光照效果方面不太理想，尤其在阴影合成方面．本文提出了一种新的３Ｄ绘制图象的合成方法，它结合了Ｄｕｆｆ的ＲＧＢＡＺ方... 详细信息

合成３Ｄ绘制图象是一个有趣的主题．为了使复杂的图象更真实，需要合成场景的光照效果．已有的几种方法在合成光照效果方面不太理想，尤其在阴影合成方面．本文提出了一种新的３Ｄ绘制图象的合成方法，它结合了Ｄｕｆｆ的ＲＧＢＡＺ方法和ＳｈａｄｏｗＢｕｆｆｅｒ技术．这种方法不仅具有以前方法的优点，而且能够对任意包含曲面的场景合成正确的阴影效果．另外，这种方法还具有反走样能力．

关键词：阴影合成图象合成图象绘制

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一种低成本的测试码自动产生算法

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计算机学报 1997年第8期20卷 759-768页

作者：石茵魏道政中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室

为了降低超大规模集成电路（ＶＬＳＩ）测试中的测试产生和测试应用代价，本文提出了一种低成本的测试码自动产生算法──临界路径跟踪测试产生（ＣＰＴＴＧ）．本文主要从算法的搜索策略、扇出源的临界性确定及测试产生过程中的加速技... 详细信息

为了降低超大规模集成电路（ＶＬＳＩ）测试中的测试产生和测试应用代价，本文提出了一种低成本的测试码自动产生算法──临界路径跟踪测试产生（ＣＰＴＴＧ）．本文主要从算法的搜索策略、扇出源的临界性确定及测试产生过程中的加速技术三个方面，介绍ＣＰＴＴＧ的主要思想和关键技术．文中给出了ＣＰＴＴＧ对国际通用的１０个组合电路范例的实验结果，表明了ＣＰＴＴＧ可以在较短时间内获得具有较高故障覆盖率的较小测试集．

关键词：测试产生故障模型 VLSI 测试码算法

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