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    • 1 篇 兵器科学与技术
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主题

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机构

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  • 35 篇 模拟集成电路国家...
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  • 2 篇 中国电子科技集团...
  • 2 篇 重庆理工大学

作者

  • 40 篇 谭开洲
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  • 25 篇 刘勇
  • 22 篇 李儒章
  • 22 篇 张正元
  • 20 篇 胡永贵
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  • 11 篇 王健安
  • 11 篇 刘军

语言

  • 292 篇 中文
检索条件"机构=中电第二十四研究所模拟集成电路重点实验室"
292 条 记 录,以下是11-20 订阅
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环面点胶对源磁性器件可加工性的影响
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子学 2022年 第5期52卷 848-852页
作者: 廖希异 陈容 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060 模拟集成电路国家级重点实验室 重庆400060
变压器、感等磁性器件性能显著影响源参数指标。针对E型变压器磁芯气隙制作一致性差、效率低的问题,建立了不同点胶方案的有限元分析模型,进行了高黏度环氧绝缘胶非牛顿流体的剪切力机理分析。结果表明,通过减小胶点尺寸、改变胶点... 详细信息
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模拟子及应用技术前沿研究进展
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子学 2022年 第3期52卷 339-350页
作者: 王颖 赖凡 中电科技集团重庆声光电有限公司 重庆400060 模拟集成电路国家级重点实验室 重庆400060 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060
我们处的物理世界是模拟的。在现代信息与通信技术(ICT)、计算系统,模拟子的作用包括物理世界感应与交互、计算、控制、数据转换、通信、供和测量等环节。以模拟集成电路为主体的模拟子器件是当今几乎有以数字为心的系... 详细信息
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基于0.13μm SiGe BiCMOS工艺的12位1.6 GS/s折叠插值A/D转换器
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子学 2022年 第2期52卷 301-305页
作者: 邹沛哲 王永禄 易周 重庆邮电大学光电学院 重庆400065 模拟集成电路国家级重点实验室 重庆400060 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060
提出了一种基于0.13μm SiGe BiCMOS工艺的高速、高精度折叠插值A/D转换器。采用基于SEF开关的新型采样/保持电路,固定保持阶段压,实现了高速、高精度、高线性度的信号采样。采用带有射极跟随器的折叠放大器,构成平均折叠和环形插值... 详细信息
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一种新型的高速驱动电路
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子学 2022年 第5期52卷 873-878页
作者: 刘勇 李林 崔伟 孙士 重庆电子工程职业学院 重庆401331 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060 模拟集成电路国家级重点实验室 重庆400060 重庆西南集成电路设计有限责任公司 重庆401332
采用0.13μm SiGe BiCMOS工艺,设计了一种分段式马赫-曾德尔调制器(MZM)高速驱动电路。驱动电路输入级,采用容性负反馈来提高带宽,采用共模反馈来稳定共模输出平,并通过共模反馈实现了可变增益。输出级,采用负密勒容、T-coil和... 详细信息
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一种高线性度超宽带采样/保持电路
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子学 2022年 第2期52卷 283-288页
作者: 梁宏玉 王妍 李儒章 重庆邮电大学光电工程学院 重庆400065 模拟集成电路国家级重点实验室 重庆400060 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060
设计了一种桥式并-串联级联结构的高线性度、超宽带采样/保持电路。该采样/保持电路包括输入缓冲器、辅助开关和SEF开关三个单元。采用桥式并-串联级联结构改进的辅助开关模块单元,大幅提高了电路的线性度和带宽。该采样保持电路基于0.1... 详细信息
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先进MOSFET1/f噪声研究进展
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子学 2021年 第3期51卷 390-398页
作者: 马婷 任芳 夏世琴 廖希异 张培健 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060 模拟集成电路国家重点实验室 重庆400060
全面综述了先进金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的1/f噪声研究进展。界面态、器件结构、材料缺陷、量子效应等诸多因素均会影响1/f噪声。随着工艺尺寸的持续缩小和高k介质材料的应用,以及热载流子效应、辐照损伤等因素的影响,MOS... 详细信息
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一种跟踪温度的流源失配前台校准技术
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子学 2022年 第6期52卷 921-926页
作者: 杨卫东 刘军 刘彦彤 马世碧 温显超 模拟集成电路国家级重点实验室 重庆400060 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060 合肥工业大学仪器科学与光电工程学院 合肥230009
提出了一种应用于超高速D/A转换器流源失配的前台校准技术。设计了两个校准子DAC,其分别提供的校准流用以补偿流源失配的两大组成部分,每一个校准DAC具有与其对应的失配部分同样的温度特性。因此,总校准流可以自动跟踪温度的变... 详细信息
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DPSA双极器件的1/f噪声特性研究
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子学 2021年 第6期51卷 929-932页
作者: 邱盛 夏世琴 邓丽 张培健 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060 模拟集成电路国家级重点实验室 重庆400060
在现代高性能模拟集成电路设计,噪声水平是影响电路性能的关键因素之一。研究了双多晶自对准高速互补双极NPN器件发射极结构对器件直流和低频噪声性能的影响。实验结果表明,多晶硅发射极与单晶硅界面超薄氧化层以及发射极几何结构... 详细信息
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基于CQFP64封装的Ω型引线成形研究
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子学 2021年 第5期51卷 751-755页
作者: 易文双 马敏舒 付晓君 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060 模拟集成电路国家级重点实验室 重庆400060
引线成形技术是高可靠性子元器件适应热循环、振动等恶劣环境的有效手段。基于典型大尺寸CQFP64封装及有限元方法,文章开展了“Ω”型引线成形研究。在热循环条件下,分析成形参数对封装引线和焊料等效应力的影响规律,进而提出较优的... 详细信息
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模拟子技术发展的新趋势
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子学 2021年 第6期51卷 773-777页
作者: 于晓权 赖凡 付晓君 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060 模拟集成电路国家级重点实验室 重庆400060
半导体科技是未来信息和通信技术发展的主要推动力,模拟子技术是半导体科技的不可或缺的组成部分。文章阐述了受未来信息系统更大处理能力、更高传输能力、更低延时感知等需求的拉动,模拟子技术在智能化感知和执行、新计算处理架构... 详细信息
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