检索结果-内蒙古大学图书馆

计算机学报 1990年第3期13卷 202-206页

作者：张思平中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室

本文给出了GFHDL器件功能描述语言及其设计考虑。GFHDL是一个支持寄存器级、门级和功能级多级混合描述、多级模拟的计算机硬件描述语言。语言比较丰富,描述力强,反映硬件的特性,能够给出与实际电路较为接近、有效的模型。而且,由于其多... 详细信息

本文给出了GFHDL器件功能描述语言及其设计考虑。GFHDL是一个支持寄存器级、门级和功能级多级混合描述、多级模拟的计算机硬件描述语言。语言比较丰富,描述力强,反映硬件的特性,能够给出与实际电路较为接近、有效的模型。而且,由于其多级混合性,能够用于支持自顶向下的层次设计的需要。作为GFLS多级混合模拟验证系统的描述语言,我们已对74系列,MC系列,F100K系列的相当部分的组件进行描述,并用于我们所大型机的设计验证,效果不错。我们还试验了用它对一个几十万门的运算器作高层次抽象描述,结果是可行的。

关键词： GFHDL 器件描述语言计算机

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IGES及其处理程序

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计算机辅助设计与图形学学报 1990年第4期2卷 63-67,68页

作者：张守仁中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室

为了进一步提高使用cad/CAM技术的效益,就必须在不同的cad/CAM系统之间传送和交换产品数据。本文简述了目前使用最广的产品数据交换规范——IGES的发展简史,介绍了它的文件结构。在论述处理程序的功能后,着重介绍了一种处理程序的结构,... 详细信息

为了进一步提高使用cad/CAM技术的效益,就必须在不同的cad/CAM系统之间传送和交换产品数据。本文简述了目前使用最广的产品数据交换规范——IGES的发展简史,介绍了它的文件结构。在论述处理程序的功能后,着重介绍了一种处理程序的结构,其特点是有一个可移植的核心,从而能显著减少设计处理程序的工作量。最后论述了传送和交换产品数据时实体之间的相互关系。

关键词： IGES cad CAM 处理程序

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容易产生测试的PLA

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中国科学（A辑） 1990年第8期21卷 869-879页

作者：闵应骅中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室北京100080

可编程序逻辑阵列(以下简称PLA)是当今用得很普遍的一种电路结构,它可以实现任意组合开关函数.容易产生测试的PLA(简称ETG PLA)是作者最早提出的一种易测PLA设计.本文根据几年来国际上的评论,进一步阐述ETG电路的概念,并在统一的单故障... 详细信息

可编程序逻辑阵列(以下简称PLA)是当今用得很普遍的一种电路结构,它可以实现任意组合开关函数.容易产生测试的PLA(简称ETG PLA)是作者最早提出的一种易测PLA设计.本文根据几年来国际上的评论,进一步阐述ETG电路的概念,并在统一的单故障模型的基础上推广了伪非并发和分离的概念,使硬件开销大大减少.实验结果表明了这些想法的正确性和先进性.

关键词： PLA 可测试性故障检测逻辑电路

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工程数据库中结构实体的定义及操纵

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计算机辅助设计与图形学学报 1990年第3期2卷 17-23页

作者：卫军水徐秋元蒋泽军中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室

由于工程应用环境中设计对象的复杂性,这就要求工程数据库管理系统能够对复杂的数据结构作为单一实体进行定义并为之提供有效的数据操纵手段。本文论述了MEDAMS多用户工程数据库管理系统中结构工程实体的高层定义方法及其数据操纵设施。

关键词：工程数据库结构实体数据库

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在PC系列机上实现的图形核心系统

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计算机辅助设计与图形学学报 1990年第1期2卷 18-22,79页

作者：张鸿文熊一华刘慎权中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室

本文讨论了标准图形核心系统(GKS)在PC系列机上的实现,描述了系统运行时可选的硬件配置以及使用时所用的语言,重点讨论了系统的总框、数据结构、显示设备驱动、输出图元、图形数据存储、逻辑输入设备、其它辅助功能及在系统之上开发的... 详细信息

本文讨论了标准图形核心系统(GKS)在PC系列机上的实现,描述了系统运行时可选的硬件配置以及使用时所用的语言,重点讨论了系统的总框、数据结构、显示设备驱动、输出图元、图形数据存储、逻辑输入设备、其它辅助功能及在系统之上开发的若干应用程序。

关键词：微机图形核心系统

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基于FAN算法的测试产生系统及实验研究

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计算机辅助设计与图形学学报 1990年第2期2卷 59-68页

作者：李忠诚闵应骅中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室

本文详细介绍了一个基于FAN算法的测试产生系统的实现以及利用该系统得到的一些有意义的实验结果。

关键词： VLSI 集成电路 FAN算法测试

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临界路径跟踪——测试产生与故障模拟的一种算法

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计算机辅助设计与图形学学报 1990年第3期2卷 40-50页

作者：魏道政中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室

现有的数字电路测试产生算法,如D-算法、PODEM算法和FAN算法等,几乎都是针对每个给定的故障先求出它的一个测试,然后用故障模拟方法求出该测试所能检测的全部故障。测试产生和故障模拟是分两步进行的。本文提出用临界路径跟踪法进行测... 详细信息

现有的数字电路测试产生算法,如D-算法、PODEM算法和FAN算法等,几乎都是针对每个给定的故障先求出它的一个测试,然后用故障模拟方法求出该测试所能检测的全部故障。测试产生和故障模拟是分两步进行的。本文提出用临界路径跟踪法进行测试产生和故障模拟,它是从电路的初级输出开始向电路的初级输入进行所谓临界路径跟踪。测试产生和确定该测试所能检测的故障是同时进行的,把测试产生和故障模拟紧密地结合在一起。和PODEM算法、FAN算法一样,我们限于讨论组合电路中引线s-a-0和s-a-1的单故障。文中详细叙述了临界路径跟踪的策略,保证求得的测试集能覆盖电路中全部可测故障。测试的总数最多不超过电路中每个门单独的测试数的总和。

关键词：数字电路路径跟踪测量故障

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容易产生测试的电路

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计算机辅助设计与图形学学报 1990年第3期2卷 51-60页

作者：闵应骅中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室

集成电路技术的快速发展带来了集成电路芯片测试的困难。可测试性设计(DFT)技术被提了出来。这些技术的主要缺点是影响电路性能,而且要求长的连续测试方法。本文给出容易产生测试(ETG)电路的概念。ETG电路是这样一种电路,产生它的完全... 详细信息

集成电路技术的快速发展带来了集成电路芯片测试的困难。可测试性设计(DFT)技术被提了出来。这些技术的主要缺点是影响电路性能,而且要求长的连续测试方法。本文给出容易产生测试(ETG)电路的概念。ETG电路是这样一种电路,产生它的完全测试集的计算复杂性与电路大小成线性关系。本文首先解释了ETG与其他DFT方法的区别,然后简单地描述了ETG组合电路、ETG时序电路,特别详细地介绍了ETG PLA。给出了把给定PLA修改为ETG PLA的算法,以及一些新的实验结果。ETG PLA作为ETG电路的一个例子说明了ETG技术的可行性。

关键词：集成电路测试测试电路 FTG

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容错计算系统中数据的可信性

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计算机辅助设计与图形学学报 1990年第2期2卷 50-58页

作者：闵应骅中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室

本文提出了容错计算系统中数据可信性的概念。同时提出一种容错计算系统的初步方案,详尽地研究了用各种线性反馈移位寄存器进行数据压缩而产生误认的充分必要条件。并给出一种电路设计,以防止由双错所引起的误认。

关键词：容错计算系统可信性

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集成化cad/CAM系统中的产品数据结构

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计算机辅助设计与图形学学报 1990年第3期2卷 30-39页

作者：焦国方韦明刘慎权中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室

在集成化cad/CAM系统中,产品造型的关键问题是产品的信息结构与信息表示,因为它们在工程应用中起着越来越重要的作用。分析研究了产品信息的类型、作用与特点之后,本文提出了一些信息模型来表示各种产品,并讨论了产品信息的集成化管理... 详细信息

在集成化cad/CAM系统中,产品造型的关键问题是产品的信息结构与信息表示,因为它们在工程应用中起着越来越重要的作用。分析研究了产品信息的类型、作用与特点之后,本文提出了一些信息模型来表示各种产品,并讨论了产品信息的集成化管理与一致性问题。总之,本文描述的信息结构在工程设计中具有许多有效的优点与特点。

关键词： cad CAM 数据结构集成化

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