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检索条件"机构=北京工业大学光电子技术实验室"
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高亮度LED中ODR反光镜反射率温度特性研究
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固体电子学研究与进展 2008年 第3期28卷 396-399页
作者: 宋欣原 邹德恕 张剑铭 刘思南 沈光地 北京工业大学 北京市光电子技术实验室北京100022
对Al/SiO2、Al/ITO、Au/SiO2、Au/ITO构成的ODR(Omni-directional reflector)结构,对应400~800 nm的不同波长,在不同温度下,对于反光镜的反射率的影响,进行了研究。提出了在460 nm的蓝光波段,Al/SiO2合金温度在500~700 K时,反射率会... 详细信息
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低噪声GaAs/AlGaAs多量子阱红外探测器
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光电子.激光 2005年 第9期16卷 1018-1020页
作者: 邓军 王斌 韩军 李建军 沈光地 北京工业大学 北京市光电子技术实验室北京100022
提出了一种新结构的多量子阱红外探测器(QWIP)。在常规多量子阱结构的基础上加入P型欧姆接触层,实现以小的隧道电流代替原有的大的补偿电流,从而减小器件的暗电流实现低噪声器件。对器件暗电流的理论计算与实验曲线符合的很好。制备了... 详细信息
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GaN基蓝光发光二极管峰值波长偏移的研究
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半导体光电 2007年 第3期28卷 338-341页
作者: 林巧明 郭霞 顾晓玲 梁庭 郭晶 沈光地 北京工业大学光电子技术实验室 北京100022
通过对蓝光和红光发光二极管在直流和脉冲电流两种情况下进行变电流测试,对其峰值波长的偏移情况进行了深入的对比分析和研究,指出主要是热效应和极化效应两个因素造成蓝光LED的峰值波长发生偏移,并计算出热效应单独引起峰值波长偏移的... 详细信息
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高迁移率GaAs本征外延层的MOCVD生长
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半导体光电 2002年 第6期23卷 412-414页
作者: 李建军 廉鹏 邓军 韩军 郭伟玲 沈光地 北京工业大学光电子技术实验室 北京100022
通过优化生长条件 ,利用EMCORED12 5MOCVD外延系统 ,制备了高迁移率的GaAs外延层 ,其迁移率在温下达到了 8879cm2 /V·s,在 77K温度下超过了 130 0 0 0cm2 /V·s。结果表明 。
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应变GaInNAs/GaAs量子阱光增益特性研究
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半导体光电 2005年 第3期26卷 232-234,243页
作者: 俞波 韩军 李建军 盖红星 牛南辉 邓军 邢艳辉 廉鹏 沈光地 北京工业大学北京光电子技术实验室 北京100022
采用近似方法对GaInNAs材料的能带结构进行了分析,并计算了应变GaInNAs/GaAs量子阱能级,在此基础上进一步计算了应变GaInNAs/GaAs量子阱的材料光增益谱。对计算结果的分析表明,应变GaInNAs/GaAs量子阱材料是一种可以应用于1300nm波段的... 详细信息
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一种与光纤高效耦合的新型大光腔大功率半导体激光器
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物理学报 2007年 第7期56卷 3945-3949页
作者: 于海鹰 崔碧峰 陈依新 邹德恕 刘莹 沈光地 山东建筑大学 济南250101 北京工业大学北京光电子技术实验室 北京100022
提出并实现了一种新型多有源区隧道级联大光腔半导体激光器,提高了激光器激射窗口的宽度,得到低于20°的垂直发散角,从而提高了光纤输出的耦合效率.对多种形式和规格的透镜光纤的测试结果表明,耦合效率可以提高30%以上.
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InGaN/GaN多量子阱蓝光LED电学特性研究
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半导体光电 2006年 第3期27卷 240-243页
作者: 刘诗文 郭霞 艾伟伟 宋颖娉 顾晓玲 张蕾 沈光地 北京工业大学北京光电子技术实验室 北京100022
对不同温度(120~363K)下InGaN/GaN多量子阱(MQW)结构蓝光发光二极管(LED)的电学特性进行了测试与深入的研究。发现对数坐标下I—V特性曲线斜率随温度变化不大。分别用载流子扩散-复合模型和隧道复合模型对其进行计算,发现温... 详细信息
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AlAs/AlGaAs的湿氧氧化及其在VCSEL制备中的应用
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半导体光电 2003年 第5期24卷 341-343,349页
作者: 黄静 郭霞 渠红伟 廉鹏 朱文军 邹德恕 沈光地 北京工业大学北京光电子技术实验室 北京100022
根据制备垂直腔面发射激光器 (VCSEL)电流限制层的需要 ,通过实验方法研究了氧化温度、Al组分和晶向等条件对AlGaAs氧化速率的影响 ,得到适用于VCSEL的材料参数和氧化条件 ;对氧化后表面分层、欧姆接触特性变差等现象进行分析 ,得到解... 详细信息
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C掺杂GaAs外延层的MOCVD生长
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半导体光电 2004年 第4期25卷 271-273页
作者: 李建军 韩军 邓军 邢艳辉 刘莹 沈光地 北京工业大学北京光电子技术实验室 北京100022
 以CCl4为掺杂源,利用EMCORED125MOCVD系统生长了不同C掺杂浓度的GaAs外延层。通过Hall、PL、DXRD以及在位监测工具Epimetric等手段研究了掺CGaAs层的电学特性、光学特性、晶体质量和生长速度等。
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半导体激光器结温测试研究
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半导体光电 2007年 第2期28卷 183-186,190页
作者: 罗丹 郭伟玲 徐晨 舒雄文 沈光地 北京工业大学北京光电子技术实验室 北京100022
提出了一种测试结温的简便易行的新方法,用此方法能够较准确地测量出激光器在直流工作时的结温。通过改变环境温度得到激光器正向电压的温度系数dVf/dT,再改变电流应力测得正向电压随电流的变化率dVf/dI。其中,由理论计算得到dVf/dT推... 详细信息
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