咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 1 篇 会议

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 材料科学与工程(可...
    • 1 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 1 篇 积分发光强度
  • 1 篇 势垒临界尺寸
  • 1 篇 共振隧穿二极管
  • 1 篇 pl测试

机构

  • 1 篇 中科院上海技物所...
  • 1 篇 中科院半导体所新...
  • 1 篇 北京工业大学

作者

  • 1 篇 张晓昕
  • 1 篇 朱占平
  • 1 篇 岳维松
  • 1 篇 曾一平
  • 1 篇 王小光
  • 1 篇 王保强

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"机构=北京工业大学计算机学院模式识别与图象处理实验室"
1 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
依靠PL谱确定影响RTD性能的势垒临界尺寸
依靠PL谱确定影响RTD性能的势垒临界尺寸
收藏 引用
第十三届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议暨第九届全国固体薄膜学术会议
作者: 张晓昕 岳维松 王小光 曾一平 王保强 朱占平 中科院半导体所新材料部(北京) 北京工业大学计算机学院模式识别与图象处理实验室 中科院上海技物所物理室(上海)
在共振隧穿结构(RTS)的PL测试中,随着势垒厚度的减小,阱内发光变化不大,而阱外发光急剧减小,通过比较RTD结构PL谱中阱内外的积分发光强度,我们找到了可以让RTD单管在I-V曲线中出现负阻的势垒临界尺寸.在临界尺寸以下,载流子的输运中隧... 详细信息
来源: 评论