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作者

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检索条件"机构=南京审计大学信息与工程学院"
27349 条 记 录,以下是121-130 订阅
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触觉增强的图卷积点云超分网络
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中国图象图形学报 2025年 第2期30卷 546-558页
作者: 张驰 李剑 王普正 石键瀚 王怀钰 王琴 南京邮电大学通信与信息工程学院 南京210003
目的随着三维扫描仪以及三维点云采集技术的飞速发展,三维点云在计算机视觉、机器人导引和工业设计等方面的应用越来越广泛。但是由于传感器分辨率、扫描时间以及扫描条件等限制,采集到的点云通常比较稀疏,无法满足许多应用任务的要求,... 详细信息
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光学遥感图像目标检测的深度学习算法研究进展
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遥感学报 2024年 第12期28卷 3045-3073页
作者: 徐丹青 吴一全 南京航空航天大学电子信息工程学院 南京211106
光学遥感图像目标检测在军事和民用方面都有很广泛的应用前景。本文综述了基于深度学习的光学遥感图像目标检测算法研究进展。首先,详细分析了光学遥感图像中的目标特点;其次,简要回顾了光学遥感图像目标检测算法的发展历程;再次,阐明... 详细信息
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基于改进ROA-LSTM时间序列的长江短期流量预测
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传感技术学报 2024年 第12期37卷 2064-2070页
作者: 刘恒 范洋 王聪 丘仲锋 南京信息工程大学电子与信息工程学院 江苏南京210044
为了更准确地预测长江流量的短期时序变化,克服传统LSTM模型在时间序列预测中参数选择困难和易陷入局部最优解的问题,通过将WOA算法与SFO算法改进的ROA优化算法与注意力机制相结合,构建了ROA优化算法与LSTM模型相结合的时间序列预测组... 详细信息
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融合共点声强特征的掩蔽加权声源定位方法
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声学学报 2024年 第6期49卷 1242-1254页
作者: 史文旭 陈华伟 南京航空航天大学电子信息工程学院 南京211106
提出了一种适用于小尺寸传声器阵列的掩蔽加权深度学习声源定位方法。该方法在功率谱特征提取的基础上,通过解决声强特征提取中的非共点问题,进一步融合了不同方向上的共点声强特征,有效提高了混响噪声环境条件下的时频掩蔽准确性和定... 详细信息
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基于无人机航拍的风力发电机叶片表面缺陷检测综述
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仪器仪表学报 2024年 第10期45卷 1-25页
作者: 宋晔 吴一全 南京航空航天大学电子信息工程学院 南京211106
风力发电在能源转型中占重要地位。风力发电机叶片是接收风能的关键部件,其缺陷检测是维持发电机运行的基本保障。无人机航拍与机器视觉的结合能有效检测叶片表面缺陷。本文综述了近年来基于无人机航拍的风力发电机叶片表面缺陷检测方... 详细信息
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超大规模太赫兹系统深度学习信道估计算法
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通信学报 2025年 第1期46卷 144-156页
作者: 于舒娟 赵阳 魏玉尧 张昀 高贵 赵生妹 南京邮电大学电子与光学工程学院、柔性电子(未来技术)学院 江苏南京210023 南京邮电大学通信与信息工程学院 江苏南京210003
为了进一步提升THz超大规模MIMO系统混合场信道估计性能,基于不动点网络(FPN)引入了一种基于跨通道信息交互的Transformer注意力机制模块与快速傅里叶变换卷积网络(FCN),提出了一种基于图像恢复网络的信道估计算法FPN-OTFN,将信道估计... 详细信息
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无人机航拍影像目标检测与语义分割的深度学习方法研究进展
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航空学报 2024年 第6期45卷 235-264页
作者: 罗旭东 吴一全 陈金林 南京航空航天大学电子信息工程学院 南京211106
无人机(UAV)因其小型轻便、操作简单等优点获得了广泛的应用。将深度学习方法与无人机系统相结合,有助于在清晰度高、视野范围广的无人机航拍影像上快速准确地检测出所需目标,相关课题已成为当前的研究热点之一。对近十年来无人机航拍... 详细信息
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一种冷阴极电子枪的模拟研究
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真空科学与技术学报 2024年 第6期44卷 543-551页
作者: 汪敏霞 魏世宗 徐季 南京信息工程大学电子与信息工程学院 南京210000
文章通过Computer Simulation Technology粒子工作室软件建立了一种电子通过率极高的微焦点冷阴极电子枪。重点研究了电子枪自身结构对焦点、电子通过率和阴极发射电流的影响。特别是仿照了皮尔斯电子枪的结构,采用了一种弧面阴极,并在... 详细信息
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圆阵多项式结构宽带波束形成器的时域降维设计
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声学学报 2024年 第3期49卷 587-597页
作者: 张展 陈华伟 冯从威 南京航空航天大学电子信息工程学院 南京211106
针对现有圆阵多项式结构宽带波束形成器频域设计方法在短抽头长度条件下性能严重下降的问题,提出了一种时域降维优化设计方法。首先,利用圆阵的对称性特点,理论分析了多项式结构宽带波束形成器权系数存在的对称性,继而导出圆阵多项式结... 详细信息
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基于机器视觉的芯片缺陷检测研究进展
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仪器仪表学报 2024年 第7期45卷 1-26页
作者: 胡志强 吴一全 南京航空航天大学电子信息工程学院 南京211106
半导体芯片作为集成电路的重要组成部分,对其质量要求越来越高,因芯片在小型化、高密度的制造过程中产生缺陷,进而影响了芯片的性能和寿命。因此,缺陷的检测与识别对芯片可靠性的提升十分重要。综述了近10年来国内外基于机器视觉的芯片... 详细信息
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