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语言

  • 165 篇 中文
检索条件"机构=南京电子器件研究所,单片集成电路与模块国家重点实验室,南京 210016"
165 条 记 录,以下是111-120 订阅
排序:
用于SIP系统的三维多层LTCC延迟线设计
用于SIP系统的三维多层LTCC延迟线设计
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2009年全国微波毫米波会议
作者: 张华 陈安定 於晓峰 丁玉宁 王子良 戴雷 南京电子器件研究所 单片集成电路与模块国家重点实验室
本文设计了基于LTCC基板的三维多层微波延迟线,用于SIP系统。采用同轴线的概念,设计了类同轴垂直转换结构,以提供多层传输线间的连接。设计了多层弯折延迟线,对延迟线进行了三维全波电磁仿真优化,获得了较好的信号完整性:并在4~8GHz频... 详细信息
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8.5GHz~10GHz GaAs准单片功率放大器
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电子与封装 2007年 第10期7卷 29-32页
作者: 王义 李拂晓 唐世军 郑维彬 单片集成电路及模块电路国家级重点实验室 南京电子器件研究所南京210016
文章介绍了一种准单片形式的功率放大器,采用南京电子器件研究所研制的12mm栅宽的GaAs pHEMT功率管芯,设计了准单片电路形式的匹配电路,设计得的功率放大器在8.5GHz^10GHz频带范围内,输出功率典型值为5W,功率增益大于6dB,相对带宽大于... 详细信息
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势垒层和插入层厚度对AlGaN/GaN异质结性质的影响
势垒层和插入层厚度对AlGaN/GaN异质结性质的影响
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第十四届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
作者: 李忠辉 董逊 南京电子器件研究所 单片集成电路与模块国家重点实验室210016
利用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)在蓝宝石衬底上外延生长AlGaN/AlN/GaN异质结材料,通过Hall效应测试并分析了AlN和AlGaN层厚度对2DEG密度和方阻的影响,优化异质结构,以汞探针CV、非接触电学测试方法表征了样品的2DEG浓度分布和方阻... 详细信息
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GaN MSM型紫外探测器
GaN MSM型紫外探测器
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2007年全国微波毫米波会议
作者: 姜文海 陈辰 李忠辉 周建军 董逊 南京电子器件研究所单片集成电路与模块国家重点实验室
采用以MOCVD设备生长的宽带隙非故意掺杂的n-GaN材料制备了金属-半导体-金属型的紫外光电探测器。在1.5V偏压下具有陡峭的截止边,表现出可见盲特性,其响应度为0.71A/W,峰值在362nm处,紫外/可见抑制比接近10~3。通过击穿单侧肖特基结对... 详细信息
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硅膜RFMEMS开关
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电子工业专用设备 2017年 第4期46卷 30-34页
作者: 杜国平 朱健 郁元卫 姜理利 南京电子器件研究所 江苏南京210016 单片集成电路与模块国家重点实验室 江苏南京210016
利用静电驱动原理设计了一种新颖的射频硅膜RF MEMS开关,其开关的优点在于:巧妙的运用CPW传输线的地线作为下电极,加大了开关驱动面积,减小了驱动电压;利用硅膜作为结构层,利用硅本身优良的机械特性可提高开关的可靠性;具有静电接触式... 详细信息
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C波段窄带腔体滤波器设计
C波段窄带腔体滤波器设计
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2007年全国微波毫米波会议
作者: 张华 孙健 陶若燕 南京电子器件研究所 单片集成电路与模块国家重点实验室
本文对同轴腔体滤波器的电磁结构模型进行了理论分析,得出计算谐振腔体间耦合系数的公式,以及谐振单元本征值等关键参数,并应用三维电磁仿真软件进行分析、优化,最后对滤波器实物进行测试,实测与仿真结果吻合。与传统的C波段腔体、波导... 详细信息
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高功率GaN微波功率放大模块及其应用
高功率GaN微波功率放大模块及其应用
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2010’全国半导体器件技术研讨会
作者: 唐世军 徐永刚 陈堂胜 任春江 钟世昌 陈辰 南京电子器件研究所单片集成电路与模块国家重点实验室
采用GaN微波功率HEMT 0.4 mm和2 mm管芯,应用GaAs匹配电路实现C波段微波功率模块。该器件研制中采用两级放大电路,正负电源结构,在5.5 GHz,28 V工作电压下,饱和输出功率达到了14 W,此时功率增益为20 dB、功率附加效率(PAE)为46%。实现... 详细信息
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SiC基AlGaN/GaN HEMTs外延工艺研究
SiC基AlGaN/GaN HEMTs外延工艺研究
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第十五届全国化合物半导体材料,微波器件和光电器件学术会议
作者: 李忠辉 董逊 任春江 李亮 焦刚 陈辰 陈堂胜 南京电子器件研究所单片集成电路与模块国家重点实验室
利用MOCVD研究了SiC衬底AlGaN/GaN HEMTs材料外延生长工艺。研制GaNHEMTs外延材料的2DEG方块电阻不均匀性约为2%,n×μ达到2.2×10/V·s(温)。采用上述材料制作1 mm栅宽HEMTs器件,8 GHz、45 V工作时输出功率密度10.52... 详细信息
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高温正向栅电流下Ti/Pt/Au栅SiC MESFET的栅退化机理
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电子 2009年 第1期39卷 132-136页
作者: 崔晓英 黄云 恩云飞 陈刚 柏松 工业和信息化部电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室 广州510610 南京电子器件研究所单片集成电路和模块国家级重点实验室 南京210016
SiC MESFET器件的性能强烈依赖于栅肖特基结的特性,而栅肖特基接触的稳定性直接影响其可靠性。针对SiC MESFET器件在微波频率的应用中射频过驱动导致高栅电流密度的现象,设计了两种栅极大电流的条件,观察栅肖特基接触和器件特性的变化,... 详细信息
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8bit1.4GS/s模数转换器
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固体电子研究与进展 2010年 第1期30卷 F0003-F0003页
作者: 张有涛 李晓鹏 刘奡 张敏 钱峰 陈辰 单片集成电路与模块国家重点实验室 南京电子器件研究所南京210016
超高速模数转换器(ADC)是软件无线电、高速数据采集和宽带数字化雷达的关键组成部分.附带校准技术的折叠内插ADC具有等同快闪(FLASH)ADC的高转换速度,是设计超高速ADC的最佳选择,但仍需综合考虑各项指标来时行校准方法设计及芯片架构优化.
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