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  • 4 篇 工学
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    • 1 篇 软件工程
  • 1 篇 管理学
    • 1 篇 管理科学与工程(可...

主题

  • 2 篇 小时延缺陷
  • 2 篇 时延测试
  • 1 篇 时延测量
  • 1 篇 参考切片
  • 1 篇 相容
  • 1 篇 扫描切片
  • 1 篇 冒险
  • 1 篇 测试质量
  • 1 篇 ic
  • 1 篇 向量筛选
  • 1 篇 绑定
  • 1 篇 输出违例概率
  • 1 篇 关键通路
  • 1 篇 测试质量评估
  • 1 篇 已知定时atpg
  • 1 篇 超速测试
  • 1 篇 测试数据压缩
  • 1 篇 压缩率
  • 1 篇 3d
  • 1 篇 成品率

机构

  • 4 篇 合肥工业大学
  • 4 篇 中国科学院计算机...
  • 1 篇 中国科学院研究生...

作者

  • 3 篇 李华伟
  • 3 篇 王杰
  • 3 篇 李晓维
  • 3 篇 梁华国
  • 2 篇 wang jie
  • 2 篇 韩银和
  • 2 篇 han yinhe
  • 2 篇 li xiaowei
  • 1 篇 zhang lei
  • 1 篇 liu jun
  • 1 篇 刘军
  • 1 篇 闵应骅
  • 1 篇 li huawei
  • 1 篇 liang hua-guo
  • 1 篇 min ying-hua
  • 1 篇 li xiao-wei
  • 1 篇 li hua-wei
  • 1 篇 张磊
  • 1 篇 liang huaguo

语言

  • 4 篇 中文
检索条件"机构=合肥工业大学计算机与信息学院，合肥 230009 中国科学院计算机系统结构重点实验室，中国科学院计算技术研究所，北京 100190"
共 4 条 记 录，以下是1-10 订阅
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时序敏感的3D IC绑定优化方法
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计算机辅助设计与图形学学报 2010年 第11期22卷 2029-2036页
作者： 王杰 张磊 李华伟 韩银和 李晓维 梁华国 合肥工业大学计算机与信息学院 合肥230009 中国科学院计算机系统结构重点实验室 中国科学院计算技术研究所北京100190
工艺波动下3D IC的成品率受绑定策略的影响较大.为了减少不当绑定造成的成品率损失,提出一种基于关键通路时延的3D IC绑定优化方法.通过绑定前时延测量得到待绑定芯片各层的时序特性,利用不同层上的通路进行时延互补,使用"好"... 详细信息
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动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法
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计算机辅助设计与图形学学报 2010年 第11期22卷 2013-2020页
作者： 刘军 韩银和 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室 中国科学院计算技术研究所北京100190 合肥工业大学计算机与信息学院 合肥230009 中国科学院研究生院 北京100049
为减少测试数据存储容量,提出一种动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法.使用3个扫描切片作为参考切片,若扫描切片与参考切片相容时,仅需2位或4位就可编码这个扫描切片,否则这个扫描切片将替换一个参考切片;当扫描切片与多个参考切... 详细信息
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基于输出违例概率的时延向量测试质量评估
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电子学报 2011年 第5期39卷 1031-1036页
作者： 王杰 梁华国 李华伟 闵应骅 李晓维 合肥工业大学计算机与信息学院 电子科学与应用物理学院安徽合肥230009 中国科学院计算机系统结构重点实验室 中国科学院计算技术研究所北京100190
针对冒险引起的测试质量评估误差,本文提出了一种基于输出违例概率的测试质量评估方法.定义了到达时间窗口和输出违例概率的概念,使用输出违例概率来反映测试向量的小时延缺陷检测能力,有效地避免了忽略冒险引起的计算误差,从而准确的... 详细信息
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针对小时延缺陷的时延测试方法综述
针对小时延缺陷的时延测试方法综述
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第十三届全国容错计算学术会议
作者： 王杰 李华伟 梁华国 合肥工业大学计算机与信息学院，合肥 230009 中国科学院计算机系统结构重点实验室，中国科学院计算技术研究所，北京 100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室，中国科学院计算技术研究所，北京 100190 合肥工业大学计算机与信息学院，合肥 230009
本文综述了近年来针对小时延缺陷的测试的主要研究成果，在深入分析小时延缺陷给时延测试带来的挑战的同时，主要介绍了三类针对小时廷缺陷的时延测试方法：超速测试在测试应用时提高测试时钟频率，已知定时ATPG把时延信息引入测试生成... 详细信息
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