故障诊断是集成电路领域中的重要研究方向,基于测试激励集方法求解候选故障诊断是目前较为高效的诊断方法,而GTreord是目前具有较高诊断准确性的方法.在对GTreord方法深入研究的基础上,本文依据测试激励与候选故障诊断解之间的结构特征,通过分析电路故障输出响应,提出结合结构特征的测试激励集重排序的候选诊断(Reor⁃dering Test Default Diagnosis,RTDD)方法.根据测试激励对生成候选故障诊断解集合的影响程度的不同,提出测试分数概念;通过比较电路的实际故障输出响应、无故障输出响应、模型故障输出响应,计算出测试激励的测试分数.测试激励集依据测试分数进行重排序,并将重排序后的测试激励集用于故障诊断.实验结果表明,与GTreord方法相比,RTDD方法提高了测试激励集重排序的效率,求解时间提高1~4个数量级;此外,在保障同样诊断准确性的情况下,RTDD方法有效减少了所需测试的激励个数.
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