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文献类型

  • 87 篇 期刊文献
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  • 125 篇 电子文献
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学科分类号

  • 121 篇 工学
    • 73 篇 计算机科学与技术...
    • 24 篇 电子科学与技术（可...
    • 14 篇 软件工程
    • 13 篇 仪器科学与技术
    • 9 篇 信息与通信工程
    • 6 篇 机械工程
    • 5 篇 建筑学
    • 3 篇 网络空间安全
    • 1 篇 电气工程
    • 1 篇 控制科学与工程
    • 1 篇 测绘科学与技术
    • 1 篇 地质资源与地质工...
  • 48 篇 管理学
    • 48 篇 管理科学与工程(可...
  • 5 篇 艺术学
    • 5 篇 设计学（可授艺术学...
  • 1 篇 经济学
    • 1 篇 应用经济学
  • 1 篇 理学
    • 1 篇 地理学
  • 1 篇 军事学
    • 1 篇 军事装备学

主题

  • 8 篇 internet
  • 6 篇 ipv6
  • 6 篇 网络测量
  • 5 篇 网络管理
  • 5 篇 形式验证
  • 5 篇 可测性设计
  • 5 篇 集成电路
  • 4 篇 cmos电路
  • 4 篇 无线传感器网络
  • 4 篇 软件测试
  • 4 篇 超大规模集成电路
  • 4 篇 一致性测试
  • 4 篇 时延测试
  • 4 篇 低功耗设计
  • 4 篇 ipv6协议
  • 4 篇 网络协议
  • 3 篇 布尔可满足问题
  • 3 篇 地理信息系统
  • 3 篇 可满足问题
  • 3 篇 极小布尔不可满足...

机构

  • 80 篇 中国科学院计算技...
  • 31 篇 中国科学院计算技...
  • 16 篇 中国科学院研究生...
  • 12 篇 清华大学
  • 6 篇 湖南大学
  • 6 篇 电子科技大学
  • 5 篇 浙江林学院
  • 5 篇 中国科学院计算技...
  • 4 篇 北京科技大学
  • 3 篇 中国科学院计算技...
  • 3 篇 北京市微电子技术...
  • 3 篇 中国科学院信息工...
  • 2 篇 北京百度网讯科技...
  • 2 篇 中国科学院
  • 2 篇 国网区块链科技有...
  • 2 篇 中国电子技术标准...
  • 2 篇 蚂蚁科技集团股份...
  • 2 篇 北京师范大学
  • 2 篇 装甲兵工程学院
  • 2 篇 杭州趣链科技有限...

作者

  • 53 篇 李晓维
  • 26 篇 李忠诚
  • 20 篇 徐勇军
  • 14 篇 李华伟
  • 13 篇 韩银和
  • 11 篇 谢高岗
  • 10 篇 毕经平
  • 10 篇 骆祖莹
  • 10 篇 李光辉
  • 10 篇 邵明
  • 9 篇 张玉军
  • 8 篇 张国清
  • 8 篇 吴起
  • 7 篇 闵应骅
  • 5 篇 张大方
  • 5 篇 马维旻
  • 5 篇 陈治国
  • 5 篇 王恺
  • 5 篇 王俊峰
  • 4 篇 王春峰

语言

  • 125 篇 中文
检索条件"机构=国科学院计算技术研究所信息网络室"
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体系结构级功耗分析方法
体系结构级功耗分析方法
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全国第13届计算机辅助设计与图形学（CAD/CG）学术会议
作者： 李佳 徐勇军 李晓维 王新平 中国科学院计算技术研究所信息网络室 中国科学院计算技术研究所信息网络室 中国科学院计算技术研究所信息网络室 北京科技大学信息工程学院电子信息工程系
功耗问题已经成为集成电路设计,尤其是嵌入式系统和电池供电设备开发中所要关注的重要问题。本文所讨论所体系结构级功耗分析方法通过对可配置的功能单元分别进行功耗建模,基于准确的性能模拟来达到功耗模拟的目的,它可以广泛应用于体... 详细信息
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软件的变量完整性测试方法
软件的变量完整性测试方法
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全国第13届计算机辅助设计与图形学学术会议暨全国第16届计算机科学与技术应用学术会议
作者： 黄光燕 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室(北京) 中国科学院研究生院(北京) 中国科学院计算技术研究所信息网络室(北京)
本文提出变量完整性测试方法来检测软件的错误.由于测试用例的输出部分很难确定,我们通过测试变量自身的定义域和变量间的一致性约束关系,只需要确定输出值的范围而不用知道其确切值,提高了错误检测的效率.同时,检测的范围不局限于程序... 详细信息
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提取极小布尔不可满足子式
提取极小布尔不可满足子式
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全国第13届计算机辅助设计与图形学学术会议暨全国第16届计算机科学与技术应用学术会议
作者： 邵明 李光辉 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室(北京) 中国科学院研究生院(北京) 中国科学院计算技术研究所信息网络室(北京) 中国科学院研究生院(北京) 浙江林学院信息系(杭州) 中国科学院计算技术研究所信息网络室(北京)
本文研究了提取极小布尔不可满足子式的算法.它分为近似算法和精确算法两种,该文提出了局部预先赋值的优化方案.并且在理论上证明了它的正确性,更进一步通过实验说明了该算法在效率上获得的提高.此外通过模拟实验观察到DPLL近似提取算... 详细信息
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面向软件故障检测的数据流分析
面向软件故障检测的数据流分析
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全国第13届计算机辅助设计与图形学学术会议暨全国第16届计算机科学与技术应用学术会议
作者： 张广梅 陈蕊 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室(北京) 山东农业大学信息科学与工程学院(泰安) 中国科学院研究生院(北京) 中国科学院计算技术研究所信息网络室(北京) 中国科学院研究生院(北京) 中国科学院计算技术研究所信息网络室(北京)
程序中某一点的数据流状态与软件的执行路径有关.程序中的部分故障与数据流相关.文中提出的MUST数据流和MAY数据流反映了数据流的执行路径相关性特点.根据不同变量的管理特点,本文从程序的控制结构出发,详细的讨论了影响数据流的各种因... 详细信息
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通用CPU的可测试性技术综述
通用CPU的可测试性技术综述
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第三届中国测试学术会议
作者： 董婕 李吉 檀彦卓 徐勇军 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室 中国科学院研究生院
可测试性设计（Design-For-Testability,DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分,它通过在芯片的原始设计中加入硬件逻辑,从而提高芯片的可测试性。在高性能通用CPU 的设计中,传统的和一些定制的可测试性技术也得到了广泛的应... 详细信息
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低测试成本、低测试功耗的SOC芯核包装方法
低测试成本、低测试功耗的SOC芯核包装方法
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中国科学院计算技术研究所第八届计算机科学与技术研究生学术讨论会
作者： 韩银和 Anshuman Chandra 李华伟 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室 北京100080 中国科学院研究生院 北京100039 Synopsis Inc. Mountain ViewCA 94043 中国科学院计算技术研究所信息网络室 北京100080
SOC测试中,需要对芯核设计包装电路,传统的串行包装方法增加了芯核的测试时间和测试功耗.研究表明,由于测试向量中存在着大量不确定位,所以测试向量中,有很多相邻扫描切片是可以重叠的.文章将提出一种并行包装方法,该包装方法利用扫描... 详细信息
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面向存储器核的内建自测试
面向存储器核的内建自测试
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第三届中国测试学术会议
作者： 檀彦卓 徐勇军 韩银和 李华伟 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室 中国科学院研究生院
作为结构化可测性设计策略（structured design for test）的一种,存储器内建自测试 （memory built-in self-test,MBIST）已经成为当前针对嵌入式随机存储器（E-RAM）测试的一种经济有效的途径。它实质是BIST测试算法在芯片内部的硬件... 详细信息
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应用于逻辑核的BIST关键技术研究
应用于逻辑核的BIST关键技术研究
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第三届中国测试学术会议
作者： 李吉 徐勇军 韩银和 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室 中国科学院研究生院
随着集成电路工艺进入深亚微米阶段后,电路复杂度的不断提高,特别是片上系统 (system on achip,SOC)的不断发展,主要包括验证测试和制造测试的芯片测试,正在面临着巨大的挑战,传统的使用自动测试设备的测试方法越来越不能满足测试需要... 详细信息
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芯片的验证分析及测试流程优化技术
芯片的验证分析及测试流程优化技术
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全国第13届计算机辅助设计与图形学（CAD/CG）学术会议
作者： 韩银和 李晓维 罗飞茵 林建京 陈宇川 朱小龙 中国科学院计算技术研究所信息网络室 中国科学院计算技术研究所信息网络室 北京市微电子技术研究所 北京市微电子技术研究所 泰瑞达科技有限公司 泰瑞达科技有限公司
本文针对个款采用0.18微米工艺流片的高性能通用处理器芯片进行了失效分析,并提出了一种针对失效分析结果的测试流程优化算法。文章首先分析了不同测试项目对于该款处理器失效的发现能力,并得出一些结论.芯片失效分析的信息可以被整理... 详细信息
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存储器内建自测试技术及应用
存储器内建自测试技术及应用
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中国科学院计算技术研究所第八届计算机科学与技术研究生学术讨论会
作者： 檀彦卓 徐勇军 李华伟 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室 北京100080 中国科学院研究生院 北京100039
存储器内建自测试(memory built-in self-test, MBIST)是当前针对嵌入式随机存储器(E-RAM)测试的一种经济有效的途径.它实质是BIST测试算法在芯片内部的硬件实现,形成"片上BIST测试结构",作为E-RAM核与芯片系统其他逻辑电路... 详细信息
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