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作者

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  • 1,319 篇 中文
检索条件"机构=复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室Auto-ID实验室"
1319 条 记 录,以下是1071-1080 订阅
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用于多相和正交信号产生的RF互耦振荡器原理
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微电子学 2004年 第6期34卷 624-627,630页
作者: 王健 谭俊 Omar Wing 复旦大学微电子系专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433
 文章证明了以一定方式相互耦合的多个相同子系统构成的系统在一定条件下能够产生多相或正交振荡信号。根据这一理论,作为例子,给出了一个RC多相互耦振荡器,并推导出了其保持稳定振荡的条件。此外,对于四相位,即正交相位,的情况,也给... 详细信息
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一种超低功耗能隙源设计及其电源噪声抑制分析
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Journal of Semiconductors 2004年 第11期25卷 1474-1478页
作者: 李强 韩益锋 谢文录 闵昊 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433 上海华虹集成电路有限责任公司 上海201203
对一种超低功耗能隙源的电源噪声抑制进行了分析 .给出了简单而又有效的频域分析模型 ,并将其电源噪声抑制实测结果与频域分析模型理论结果及其 SPICE仿真结果进行比较 .在 Charted 0 .35μm CMOS工艺流片实现了这一结构的能隙源 ,实测... 详细信息
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基于扩频技术的低压电力线载波通讯系统
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电路系统学报 2004年 第4期9卷 146-150页
作者: 柏灵巧 吴晓铁 程君侠 复旦大学微电子系专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433
本文论述了基于扩频通讯技术的低压电力线载波通讯系统的算法设计、硬件实现和验证结果。作为低压电力线载波扩频通讯芯片的FPGA验证系统,本系统重点研究了如何用成熟的MCU技术和较少的硬件资源将复杂的扩频通讯技术应用于恶劣的低压电... 详细信息
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基于电阻热噪声的真随机数发生器设计
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微电子学与计算机 2004年 第7期21卷 143-146页
作者: 辛茜 曾晓洋 张国权 郭亚炜 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433 上海微科集成电路有限公司 上海200433
本文分析和设计了一种基于电阻热噪声的真随机数发生器,系统内部集成了失调控制系统,用以提高随机性能,系统时钟达到4MHz,并采用Chartered-0.35滋m-3.3V的工艺模型进行了HSPICE仿真。输出速率可以达到2Mb/s。
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ISO/IEC 18000-6(CD)研究综述
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信息技术与标准化 2004年 第4期 23-28页
作者: 张纲 杨庆森 程君侠 俞军 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
介绍了射频识别技术(RFid)在UHF频段的ISO/IEC 18000-6(CD)的标准草案及其主要内容、特点和发展前景,对标准中两种类型的技术作了分析和对比,并结合未来的发展趋势指出了现有标准中有待改进的方面。
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发展中国自己的RFid产业
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信息技术与标准化 2004年 第5期 36-40页
作者: 马庆容 张纲 俞军 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
介绍了RFid技术及其产业的现状,对RFid产业未来的发展做了分析和预测。最后,结合中国实际对如何发展中国自己的RFid产业提出了一些建议。
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一种超高频电子标签电路及应用
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电子元器件应用 2004年 第5期6卷 36-37页
作者: 张纲 石亦欣 谷波 程君侠 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433
提出一种UHF频段的电子标签电路,内容包括芯片的结构,指令集,防冲突协议、存储器等,还给出一个典型应用方案。
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160Gbit/s交叉连接芯片总体方案设计
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光通信研究 2004年 第3期 45-48页
作者: 蒋林 章倩苓 吕建东 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433 西安邮电学院计算机系 陕西西安710061
首先在明确40Gbit/sSDH(STM 256)光纤通信设备要求的基础上,确定了芯片与外围电路电路、功能和时序接口,制订了满足设备需要并利于ASIC实现的芯片技术规范;其次,进行了芯片的总体方案设计,按照自顶向下的全正向设计方法进行了芯片的... 详细信息
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一种新的蓝牙系统解决方案及其基于USB接口的实现
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微电子学 2004年 第4期34卷 439-442,450页
作者: 赵勇 沈维多 徐芝兰 杨莲兴 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433 上海市科技京城敏勤电子技术有限公司 上海200001
 基于对蓝牙通讯协议的分析,将链接管理器移到主机上实现,然后复用主机控制接口器件中的微处理器运行链接控制器,这样就在整个蓝牙通讯系统中省掉了一个传统上必需的32位高性能处理器;并采用USB接口成功地实现了新的系统结构。
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CMOS组合电路开路故障的内建自测试方法
CMOS组合电路开路故障的内建自测试方法
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中国电子学会电路系统学会第十八届年会
作者: 谢波 黄维康 唐璞山 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室(上海)
本文对CMOS组合电路开路故障的测试进行了讨论.针对开路故障的特征,首先提出了一种采用跳变次数进行响应分析的BIST方法,在该方法中,激励源产生特定的测试序列施加给被测电路,通过对电路输出值的跳变次数进行计数,再与无故障电路输出的... 详细信息
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