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作者

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  • 1,319 篇 中文
检索条件"机构=复旦大学专用集成电路与系统设计国家重点实验室"
1319 条 记 录,以下是1301-1310 订阅
排序:
基于FPGA的实时高速二维DCT/IDCT处理器
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微电子学 1996年 第1期26卷 15-19页
作者: 卢? 陈旭昀 闵昊 章倩苓 复旦大学电子工程系 专用集成电路与系统设计国家重点实验室
在W.Li提出的循环斜卷积分布算法[1]的基础上,利用FPGA设计可用于高速数据传输设备的二维8×8DCT/IDCT实时处理器。它可用一根信号线控制计算DCT/IDCT,其输入、输出为14位、内部数据线及内部参数... 详细信息
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BiCMOS电路可测性设计探讨
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电子学报 1995年 第8期23卷 86-88页
作者: 叶波 郑增钰 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 复旦大学电子工程系
本文提出了BiCMOS电路的实用可测性设计方案,该方案与传统方法相比,可测性高,硬件花费小,仅需额外添加一个MOS管和两个控制端,就可有效地用单个测试码测出BiCMOS电路的开路故障和短路故障,减少了测试生成时间,可... 详细信息
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部分并行扫描法可测性设计的一种新结构
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固体电子学研究与进展 1995年 第3期15卷 302-306页
作者: 叶波 陈瑜华 郑增钰 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
提出了一种新的并行扫描结构。扫描触发器的选择采用BALLAST算法。该结构采用译码的方式依次选通每个扫描小组,使得扫描小组中的存储元件并行地控制和观测。测试产生和响应时间比串行扫描法快K倍(K为并行度),而硬件耗费比... 详细信息
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实用BiCMOS倒相器可测性设计
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科学通报 1995年 第7期40卷 608-609页
作者: 叶波 郑增钰 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433
BiCMOS电路由于具有Bipolar和CMOS的优点,即高集成度、大驱动能力和高速等优点,而且其工艺与CMOS工艺兼容,在高速和数模混合的集成电路中得到了广泛的应用.但随着集成电路规模的增大,尤其是BiCMOS电路本身的复杂性,测试时间、测试图形... 详细信息
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部分扫描法可测性设计
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半导体技术 1995年 第2期11卷 35-39页
作者: 陈瑜华 叶波 郑增钰 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
对部分扫描法可测性设计进行了系统的分析,介绍了部分扫描法的最新进展,讨论了目前部分扫描法在集成电路设计中应用存在的问题,在此基础上提出了优化部分扫描可测性设计的方法。
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单链扫描可测性设计中存储元件的排序
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计算机学报 1995年 第8期18卷 598-603页
作者: 叶波 郑增钰 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 复旦大学电子工程系
本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法.采用文迭测试体制和区间法能快速求出最优解.对于确定的测试向量集,用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少.
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基于共模负反馈的平衡运放的研制
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电子科学学刊 1995年 第4期17卷 345-351页
作者: 董炜 姜黎 李联 复旦大学专用集成电路和系统国家重点实验室 上海200433
本文论述了基于共模负反馈的平衡运放的研制。研制得到的平衡运放不仅具有很好的常规特性而且还有极好的共模信号抑制能力。鉴于平衡运放在设计上的特殊性,本文详细讨论并比较了它与一般的双端输出运放的区别和优点,并提出了基于共模负... 详细信息
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单链扫描可测性设计中存储元件的排序
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微电子学 1995年 第3期25卷 27-30页
作者: 叶波 郑增钰 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法。采用交迭测试体制和区间法能快速求出最优解。对于确定的测试向量集,用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。
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部分扫描法可测性设计
收藏 引用
微电子测试 1995年 第2期9卷 3-7页
作者: 叶波 陈瑜华 郑增钰 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
本文对部分扫描法可测性设计进行了系统的分析,介绍了部分扫描法的最新进展,讨论了目前部分扫描法在集成电路设计应用中存在的问题,在此基础上提出了优化部分扫描可测性设计的方法。
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ASIC的实现技术
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中国仪器仪表 1995年 第1期 19-21页
作者: 叶波 郑增钰 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
本文介绍专用集成电路(ASIC)的发展以及ASIC的半定制实现技术。
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