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检索条件"机构=复旦大学专用集成电路系统与设计国家重点实验室"
1319 条 记 录,以下是251-260 订阅
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一种高速FPGA配置电路设计
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复旦学报(自然科学版) 2013年 第4期52卷 479-485页
作者: 毛劲松 叶海江 周灏 王健 来金梅 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海201203
针对当前FPGA芯片编程下载(配置)电路结构上的不足导致位流下载回读吞吐率较低问题,设计了一种流水线编程下载电路结构,将位流下载分两级流水线并行实施,第一级通过快速解析位流的指令集实现数据包的分拆,第二级将解析出的数据包送达内... 详细信息
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TDS-OFDM时变信道估计和均衡的BEM-LSQR方法
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复旦学报(自然科学版) 2013年 第3期52卷 328-333页
作者: 王亦之 陈赟 曾晓洋 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海201203
中国地面高清数字电视(DTMB)在高速移动环境下的应用日益广泛.利用其多载波模式下的时域同步正交频分复用(TDS-OFDM)帧结构,提出三种利用基展开模型(BEM)的针对不同场合的时变信道估计方法,并利用正交分解最小二乘(LSQR)对帧体进行均衡... 详细信息
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基于多核架构适用于LTE标准的FFT算法研究与实现
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复旦学报(自然科学版) 2013年 第3期52卷 285-291,296页
作者: 徐虎雄 盛嘉奕 陈赟 虞志益 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海201203
基于多核架构提出了一种适用于长期演进技术(LTE)下行链路128~2048/1536点快速傅里叶变换(FFT)计算的算法,并进行了仿真.利用多核结构将FFT算法进行并行划分,采用流水线并行和数据并行的结构,减少运行时间.同时将该算法基于一块使用TSM... 详细信息
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应用于全数字锁相环的动态器件匹配与低功耗鉴相技术
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复旦学报(自然科学版) 2013年 第4期52卷 526-534页
作者: 刘鹏飞 李巍 李宁 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海201203
提出了应用于全数字锁相环的改进的动态器件匹配技术和低功耗鉴相技术.利用低功耗鉴相技术简化了传统的全数字锁相环的鉴相原理,发明出一种新型的数字鉴相器,降低了数字电路实现的复杂性,降低了功耗;同时,本文所述的应用于全数字锁相环... 详细信息
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一种用于双成像光刻中的版图分解算法
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复旦学报(自然科学版) 2013年 第1期52卷 129-138页
作者: 魏晗一 陆伟成 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海201203
双成像光刻技术是在集成电路制造工艺不断缩小时解决光刻后图形失真问题和提高准确度的最有效的方案之一.在双成像光刻中,需要进行版图分解,将版图中多边形分解为更简单的图形的集合.现有的多边形分解算法不适合应用于双成像光刻,会产... 详细信息
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互连线高效时域多步积分模型降阶算法
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复旦学报(自然科学版) 2013年 第3期52卷 339-346页
作者: 郭倞 杨帆 曾璇 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海201203
为了进一步提高现有互连电路模型降阶算法的精度和效率,提出一种基于时域多步积分的互连线模型降阶算法.首先对原始电路的时域方程进行多步积分得到关于状态变量的二阶递推关系,然后通过二次Arnoldi方法得到投影矩阵,再通过投影矩阵对... 详细信息
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基于数字延时锁相环的FPGA IO延时管理电路
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复旦学报(自然科学版) 2013年 第4期52卷 497-504页
作者: 王鹏翔 周灏 来金梅 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海201203
本文提出了一种基于过采样量化器和换挡(Gear-Shift)控制机制的新颖的数字延时锁相环(DDLL),可以嵌入于FPGA芯片IO单元的延时管理系统,实现了IO单元数据通路延时的精确校正,分辨率达到78ps,可调节范围达4ns,满足FPGA芯片对高速串行接口... 详细信息
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一种新型高精度宽电压范围的CMOS温度传感器
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固体电子学研究与进展 2013年 第2期33卷 175-178页
作者: 陈刚 解玉凤 林殷茵 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海201203
介绍了一种用于环境温度监测的新型高精度宽电压范围的CMOS温度传感器,采用0.13μm标准CMOS工艺的厚氧器件实现,芯片面积为37μm×41μm。该温度传感器在-20~60°C的温度范围内,采用两点校正方法之后,温度误差为-0.2°C/0.... 详细信息
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一种高效的模拟波形数据压缩方法
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复旦学报(自然科学版) 2013年 第4期52卷 486-491页
作者: 刘毅 杨帆 曾璇 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海201203
随着集成电路规模的增加,电路仿真的波形数据量也急剧膨胀.为了降低存储量,提出了一种高效的模拟波形数据压缩方法.该压缩方法是流压缩方法,采用预测、量化、编码等技术,所需的数据缓冲存储量很小,可在电路仿真时对仿真波形进行实时压... 详细信息
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先进逻辑工艺下SRAM漏电流测试
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复旦学报(自然科学版) 2013年 第4期52卷 535-540,546页
作者: 陈浩 董庆 马亚楠 林殷茵 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海201203
对于65nm及以下的先进逻辑工艺,SRAM的漏电流功耗占据了保持状态下功耗的一半以上,成为降低功耗的主要瓶颈之一.精确测量漏电流成为优化工艺从而降低功耗的先决条件.在保持SRAM原有版图环境不变的情况下,通过对SRAM施加不同激励,将栅漏... 详细信息
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