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检索条件"机构=复旦大学应用物理表面国家重点实验室"
1074 条 记 录,以下是81-90 订阅
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宽禁带Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体薄膜及超晶格的外延生长及特性研究
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物理学报 1995年 第9期44卷 1471-1479页
作者: 王杰 俞根才 诸长生 王迅 复旦大学应用表面物理国家重点实验室 上海200433
介绍了宽禁带II-VI族化合物半导体ZnSe,ZnSSe和ZnCdSe外延膜及它们的超晶格的分子束外延生长.用X射线衍射法(XRD)和光致发光(PL)法分别对其结构特性和光学特性进行了研究.尤其是对超晶格样品所进行的温度变化的PL研究,得出了对于ZnSe/Zn... 详细信息
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α-P/GaAs(100)界面的光电子能谱研究
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物理学报 1992年 第4期41卷 689-696页
作者: 卢学坤 侯晓远 董国胜 丁训民 复旦大学应用表面物理国家重点实验室 上海200433
本文采用X射线光电子能谱、紫外光电子能谱和低能电子衍射对温下P在GaAs(100)表面上的生长进行了研究。结果表明,在生长初期P是成团吸附的,随着淀积量的增加而生长成αP薄膜,该薄膜的价带结构与等离子体淀积的α-P:H薄膜的价带结构相... 详细信息
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P与GaAs(100)表面相互作用的温度效应
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物理学报 1992年 第10期41卷 1728-1736页
作者: 卢学坤 郝平海 贺仲卿 侯晓远 丁训民 复旦大学应用表面物理国家重点实验室 上海200433
本文采用原位X射线光电子能谱、紫外光电子能谱、高分辨率电子能量损失谱和低能电子衍射技术,研究了温度对P与GaAs(100)表面相互作用的影响。结果表明,经退火后,温下淀积于GaAs表面的非晶P大部分脱附,仅剩下少量无规分布于表面的P集... 详细信息
来源: 评论
NaCl微晶粒大气中扫描隧道显微术成像研究
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物理学报 1993年 第8期42卷 1266-1271页
作者: 蔡群 吴磊 朱昂如 王迅 复旦大学应用表面物理国家重点实验室 上海200433
研究了NaCl晶粒在温下大气环境中扫描隧道显微术(STM)成像性质。对不同形态大小的NaCl晶粒所作的研究表明:离子导电在隧道过程中起着关键作用。由于离子导电机理和强电场的作用,造成STM图像存在“牵引现象”,使针尖分辨能力降低。样... 详细信息
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Si(100)表面电子态的总电流谱研究
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物理学报 1992年 第6期41卷 992-998页
作者: 王向东 胡际璜 葛毓青 戴道宣 复旦大学应用表面物理国家重点实验室 上海200433
用自制的总电流谱仪研究了Si(100)2×1清洁表面以及H原子饱和吸附后的Si(100)1×1-2H双氢化相表面的电子态。在清洁表面上测得的空电子态位于价带顶以上0.7eV处,而占有电子态则在价带顶以下0.25,8.4和近12eV处。在双氢化相表面... 详细信息
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自旋极化扫描隧道显微术
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物理学进展 2002年 第3期22卷 265-271页
作者: 何睿华 董国胜 金晓峰 复旦大学应用表面物理国家重点实验室 上海200433
介绍一种新近发展起来的用于磁性表面磁成像技术———自旋极化扫描隧道显微术。该技术结合了扫描隧道显微术的原子分辨和其他磁成像技术中的自旋灵敏的特点 ,成为人们深入开展纳米磁性领域研究的强有力工具。
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ZnSe薄膜的激子光谱
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Journal of Semiconductors 2000年 第12期21卷 1177-1182页
作者: 盛传祥 王兴军 俞根才 黄大鸣 复旦大学应用表面物理国家重点实验室 上海200433
采用分子束外延 (MBE)技术 ,在 Ga As(1 0 0 )衬底上生长了厚度从 0 .0 4 5到 1 .4μm的 Zn Se薄膜 .X射线衍射谱证实 ,随着薄膜厚度的增加 ,应变逐步弛豫 .测量了低温下样品的反射谱和光致发光谱 ,观察到轻重空穴的能级在不同应变下的... 详细信息
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高分辨率FFT-DLTS测试系统
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复旦学报(自然科学版) 2001年 第3期40卷 255-260,267页
作者: 刘天宇 陆昉 复旦大学应用表面物理国家重点实验室 上海200433
相对于传统深能级瞬态谱 (DLTS)方法 ,快速傅立叶变换深能级瞬态谱 (FFT DLTS)方法具有灵敏度高 ,分辨率高等特点 ,但是由于用FFT DLTS方法在处理多能级DLTS系统时存在着系统误差从而限制了该方法的应用 .论证了该误差产生的原因并提出... 详细信息
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电子波导间一维到一维隧穿的理论研究(英文)
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复旦学报(自然科学版) 1999年 第3期38卷 300-306页
作者: 叶美盈 张波 蒋平 复旦大学 应用表面物理国家重点实验室 上海 200433
研究了耦和电子波导间的电子隧穿.结果表明隧穿电导随波导宽度振荡,与已发表的实验结果相符.文中详细分析了电子的输运性质,并对量子力学计算与半经典的观点作了比较;
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InSb(111)表面硫处理的研究
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物理学报 1992年 第6期41卷 1036-1043页
作者: 董国胜 陆春明 李喆深 王迅 复旦大学应用表面物理国家重点实验室 上海200433
本文用俄歇电子能谱、X射线光电子能谱和紫外光电子能谱对用硫化铵溶液处理的InSb表面进行研究。结果表明,硫处理以后在样品表面生成。一层厚度约8A的硫化物钝化层,它对防止表面的氧化和碳沾污有明显的钝化作用。钝化层中,破原子既与锑... 详细信息
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