检索结果-内蒙古大学图书馆

渣油催化裂化液态烃的深度利用

引用

合成橡胶工业 2002年第3期25卷 167-168页

作者：火金三蔺有雄周健刘维民李同生薛群基中国石油天然气股份有限公司兰州石化分公司合成橡胶厂甘肃兰州730060 中科院兰州化学物理研究所固体润滑国家重点实验室甘肃兰州730000 复旦大学聚合物分子工程教育部重点实验室上海200433

介绍了渣油催化裂化副产液态烃的综合利用方法,着重阐述了碳四通过催化脱硫并运用萃取精馏、催化精馏和超精密精馏的方法生产1-丁烯和甲基叔丁基醚的试验和实施。

关键词：渣油催化裂化液态烃深度利用液态烃催化脱硫碳四馏分 1-丁烯甲基叔丁基醚综合利用

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

影响ABS树脂用EBR胶乳粒径的因素

引用

合成橡胶工业 2002年第3期25卷 143-145页

作者：火金三刘维民李同生薛群基中国石油天然气股份有限公司兰州石化分公司合成橡胶厂甘肃兰州730060 中科院兰州化学物理研究所固体润滑国家重点实验室甘肃兰州730000 复旦大学聚合物分子工程教育部重点实验室上海200433

考察了影响ABS树脂用乳液聚丁二烯橡胶(EBR)胶乳粒径的诸因素,包括初乳化剂用量、补加乳化剂用量、电解质用量、引发剂用量、初水配比及聚合温度等,得到了影响胶乳粒径各因素的线性关系。结果表明,影响EBR胶乳粒径的主要因素为初乳化剂... 详细信息

考察了影响ABS树脂用乳液聚丁二烯橡胶(EBR)胶乳粒径的诸因素,包括初乳化剂用量、补加乳化剂用量、电解质用量、引发剂用量、初水配比及聚合温度等,得到了影响胶乳粒径各因素的线性关系。结果表明,影响EBR胶乳粒径的主要因素为初乳化剂、补加乳化剂及电解质用量,工业生产中应通过调节这些因素来实现不同EBR胶乳的生产。

关键词： ABS树脂 EBR胶乳粒径丙烯腈-丁二烯-苯乙烯三元共聚物乳液聚合聚丁二烯胶乳

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

龋病人牙釉质表面硬度及抗磨损性能测试

引用

分析测试技术与仪器 2002年第3期8卷 182-185页

作者：邱宜农刘维民李同生刘兰忠兰州军区总医院口腔科甘肃兰州730050 中国科学院兰州化学物理研究所固体润滑国家重点实验室甘肃兰州730000 复旦大学聚合物分子工程教育部重点实验室上海200433

采用人工方法制成人牙釉质浅龋及使用抗龋措施的龋损釉质样本 ,分别测量各组釉质表面显微硬度 ,并以微动摩擦磨损试验机测试其抗磨性能 .试验结果表明 :各组实验组釉质较对照组表面硬度都有不同程度下降 ,氟化钠前处理会使釉质表面硬度... 详细信息

采用人工方法制成人牙釉质浅龋及使用抗龋措施的龋损釉质样本 ,分别测量各组釉质表面显微硬度 ,并以微动摩擦磨损试验机测试其抗磨性能 .试验结果表明 :各组实验组釉质较对照组表面硬度都有不同程度下降 ,氟化钠前处理会使釉质表面硬度显著下降 .人工浅龋牙釉质的抗磨损性能不如正常釉质。

关键词：牙釉质表面硬度抗磨损性能测试龋病饮用水预防氟

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

用脉冲激光沉积方法制备氮化铝薄膜

引用

中国激光 2001年第3期28卷 272-274页

作者：凌浩施维孙剑应质峰吴嘉达李富铭王康林丁训民复旦大学三束材料改性国家重点实验室上海200433 复旦大学应用表面物理国家重点实验室上海200433

介绍了用脉冲激光沉积 (PLD)方法制备AlN薄膜的工作 ,在Si(10 0 )衬底上得到了光滑平整、透明度高的AlN薄膜 ,由实验结果拟合得到能隙宽度为 5 7eV。考察了衬底温度和退火温度的影响。

关键词：脉冲激光沉积氮化铝激光烧蚀薄膜

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

高分辨率电子能量损失谱在半导体表面研究中的应用

引用

复旦学报（自然科学版） 2001年第3期40卷 261-267页

作者：丁训民复旦大学应用表面物理国家重点实验室上海200433

低能电子与半导体表面的相互作用能激发带间电子跃迁和 (或 )表面振动 ,因而对背散射电子能量分布的高分辨率测量可望给出与这些激发相关的丰富信息 .近年来的实验研究证实 ,进行这样的电子能量损失测量确能从各种不同半导体得到诸如禁... 详细信息

低能电子与半导体表面的相互作用能激发带间电子跃迁和 (或 )表面振动 ,因而对背散射电子能量分布的高分辨率测量可望给出与这些激发相关的丰富信息 .近年来的实验研究证实 ,进行这样的电子能量损失测量确能从各种不同半导体得到诸如禁带宽度、表面电子态的能量、表面光学声子的特性、表面原子的成键方式。

关键词：电子能量损失谱半导体表面光学声子带间跃迁

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

高分辨率FFT-DLTS测试系统

引用

复旦学报（自然科学版） 2001年第3期40卷 255-260,267页

作者：刘天宇陆昉复旦大学应用表面物理国家重点实验室上海200433

相对于传统深能级瞬态谱 (DLTS)方法 ,快速傅立叶变换深能级瞬态谱 (FFT DLTS)方法具有灵敏度高 ,分辨率高等特点 ,但是由于用FFT DLTS方法在处理多能级DLTS系统时存在着系统误差从而限制了该方法的应用 .论证了该误差产生的原因并提出... 详细信息

相对于传统深能级瞬态谱 (DLTS)方法 ,快速傅立叶变换深能级瞬态谱 (FFT DLTS)方法具有灵敏度高 ,分辨率高等特点 ,但是由于用FFT DLTS方法在处理多能级DLTS系统时存在着系统误差从而限制了该方法的应用 .论证了该误差产生的原因并提出用迭代法来解多能级的傅立叶系数谱的方法 ;有效地解决了传统FFT DLTS方法所存在的问题 ;

关键词：深能级瞬态谱快速傅立叶变换分辨率半导体材料

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

有机半导体电致发光器件中的焦耳热效应和有机物热分解

引用

Journal of Semiconductors 2001年第8期22卷 1048-1051页

作者：周美娟钟高余何钧廖良生侯晓远复旦大学应用表面物理国家重点实验室上海200433

采用显微观察的方法证明有机半导体电致发光器件处于工作状态时产生的焦耳热 ,不仅使有机物发生结晶现象 ,还使器件产生气体并向外逸出 ,气体集聚在金属电极 /有机层界面 ,从而形成表面气泡 .质谱、色谱分析表明 ,逸出气体的成分除了大... 详细信息

采用显微观察的方法证明有机半导体电致发光器件处于工作状态时产生的焦耳热 ,不仅使有机物发生结晶现象 ,还使器件产生气体并向外逸出 ,气体集聚在金属电极 /有机层界面 ,从而形成表面气泡 .质谱、色谱分析表明 ,逸出气体的成分除了大量的水汽之外 ,还存在有机杂质气体和有机物分解气体 .在以 8-羟基喹啉铝 (Alq3)为发光层的器件中 ,当受热温度达到 15 0℃时 ,有机分子会发生分解 ,逸出 8-羟基喹啉气体 .紫外光电子能谱分析进一步证实 ,Alq3薄膜的受热温度达到 15 0℃时 ,其电子结构发生明显变化。

关键词：有机半导体焦耳热效应有机物热分解电致发光器件

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

用光电流谱研究多孔硅微腔的光电特性

引用

Journal of Semiconductors 2001年第9期22卷 1127-1130页

作者：熊卫华熊祖洪陆昉复旦大学应用表面物理国家重点实验室上海200433

利用光电流谱对全硅基多孔硅微腔的吸收特性进行了研究 ,在光电流谱中观察到 λ1 =742 nm主峰 .同时也对多孔硅微腔的 PL 谱和单层多孔硅的光电流谱进行了测量 ,结合有效折射率方法和菲涅耳公式 ,对照 PL 谱和单层多孔硅的光电流谱 ,对... 详细信息

利用光电流谱对全硅基多孔硅微腔的吸收特性进行了研究 ,在光电流谱中观察到 λ1 =742 nm主峰 .同时也对多孔硅微腔的 PL 谱和单层多孔硅的光电流谱进行了测量 ,结合有效折射率方法和菲涅耳公式 ,对照 PL 谱和单层多孔硅的光电流谱 ,对常温下多孔硅微腔的光电流谱进行解释 .

关键词：光电流谱多孔硅微腔 PL谱光电特性

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

Ge薄层异质结构的同步辐射X射线反射法研究

引用

高能物理与核物理 2001年第12期25卷 1231-1237页

作者：郑文莉贾全杰姜晓明蒋最敏中国科学院高能物理研究所北京100039 复旦大学应用表面物理国家重点实验室上海200433

用X射线反射方法研究了分子束外延技术生长的Si中Ge薄层异质结构的Ge原子分布特性 .根据X射线反射理论及Parratt数值计算方法对实验反射曲线的模拟 ,得到不同厚度的Ge薄层异质结构样品中Ge原子的深度分布为非对称指数形式 :在靠近样品... 详细信息

用X射线反射方法研究了分子束外延技术生长的Si中Ge薄层异质结构的Ge原子分布特性 .根据X射线反射理论及Parratt数值计算方法对实验反射曲线的模拟 ,得到不同厚度的Ge薄层异质结构样品中Ge原子的深度分布为非对称指数形式 :在靠近样品表面一侧的衰减长度为 8埃 ,而在靠近样品衬底一侧的衰减长度为 3埃 ,且分布形式与Ge原子层的厚度无关。讨论了不同结构参数(Ge原子薄层的深度、Ge原子分布范围、样品表面粗糙度、样品表面氧化层厚度等 )

关键词：异质结构同步辐射 X射线反射表面偏析分子束外延 Ge薄膜生长 St 硅晶体锗原子半导体材料

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

X射线驻波方法研究半导体超薄异质外延层

引用

高能物理与核物理 2001年第6期25卷 588-594页

作者：姜晓明贾全杰胡天斗黄宇营郑文莉何伟冼鼎昌施斌蒋最敏王迅中国科学院高能物理研究所北京100039 复旦大学应用表面物理国家重点实验室上海200433

利用双晶单色器和精密二圆衍射仪 ,在北京同步辐射装置建立了同步辐射X射线驻波实验技术 ,并用这一实验技术结合X射线衍射方法 ,研究了Si晶体中外延生长的超薄Ge原子层的微结构 .实验结果表明 ,由于Ge原子的偏析 ,在Si晶体样品中形成了... 详细信息

利用双晶单色器和精密二圆衍射仪 ,在北京同步辐射装置建立了同步辐射X射线驻波实验技术 ,并用这一实验技术结合X射线衍射方法 ,研究了Si晶体中外延生长的超薄Ge原子层的微结构 .实验结果表明 ,由于Ge原子的偏析 ,在Si晶体样品中形成了共格生长的GexSi1-x合金层 ,浓度平均值为x≈ 0 1 3 ;650℃退火会使Ge原子向表面扩散 ,Si晶体中的合金层消失 ,在晶体表面形成接近纯Ge的单原子层 .

关键词： X射线驻波异质结构偏析超薄锗原子层硅晶体外延生长

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

通借通还

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：